一种连续坏块的检测方法、系统、存储介质及设备技术方案

本发明专利技术提供了一种连续坏块的检测方法、系统、存储介质及设备，方法包括以下步骤：将通用坏块表转换成二进制坏块表；建立与二进制坏块表的行列数相同的数组，其中，数组中所有数组元素的初始值为第一逻辑值；对二进制坏块表中的各逻辑块依次进行扫描并确认扫描到的逻辑块的值；响应于扫描到逻辑块的值为指定二进制数且其对应的数组元素的值为第一逻辑值，将逻辑块识别为备选坏块并对其进行深度优先遍历，以确认与逻辑块连续的备选坏块的数量。本发明专利技术解决了人工计算检测连续坏块效率低的问题，有效提高了连续坏块的自动识别能力，进而有效缩短了磁盘开发测试的调试周期。

【技术实现步骤摘要】
一种连续坏块的检测方法、系统、存储介质及设备
本专利技术涉及存储
，尤其涉及一种连续坏块的检测方法、系统、存储介质及设备。
技术介绍
坏块是磁盘中无法正常使用的存储单元，根据来源可分为出厂坏块和增长坏块。出厂坏块是磁盘从工厂出来时就具有的，每块磁盘多多少少都会带有一些坏块。增长坏块指随着磁盘的使用，一些初期的好块也会变成坏块。好块变为坏块的主要原因是擦写磨损。磁盘块都具有一定寿命，每擦除一次磁盘块，都会对磁盘块造成磨损，因此磁盘块都是有寿命的，可以用PE数(Program/EraseCount)来衡量，因此不能集中往某几个磁盘块上写数据，不然这几块很快就会因PE耗尽而磨损变为坏块。在闪存中，FTL(FlashTranslationLayer，闪存转换层)会让数据均摊到每个闪存块上，让每个块都磨损的差不多。正常情况下磁盘块均匀磨损，各个磁盘块磨损的程度应该相当，出现成片连续坏块的可能性并不高。当出现大批量连续坏块时，可能是由于磁盘的磨损次数已经耗尽，也可能是由于电路板设计缺陷导致加载到磁盘的电压不准致使读取失败被误标记为坏块，也可能本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种连续坏块的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/n将通用坏块表转换成二进制坏块表；/n建立与所述二进制坏块表的行列数相同的数组，其中，所述数组中所有数组元素的初始值为第一逻辑值；/n对所述二进制坏块表中的各逻辑块依次进行扫描并确认扫描到的逻辑块的值；/n响应于扫描到逻辑块的值为指定二进制数且其对应的数组元素的值为所述第一逻辑值，将所述逻辑块识别为备选坏块并对其进行深度优先遍历，以确认与所述逻辑块连续的备选坏块的数量。/n

【技术特征摘要】
1.一种连续坏块的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
将通用坏块表转换成二进制坏块表；
建立与所述二进制坏块表的行列数相同的数组，其中，所述数组中所有数组元素的初始值为第一逻辑值；
对所述二进制坏块表中的各逻辑块依次进行扫描并确认扫描到的逻辑块的值；
响应于扫描到逻辑块的值为指定二进制数且其对应的数组元素的值为所述第一逻辑值，将所述逻辑块识别为备选坏块并对其进行深度优先遍历，以确认与所述逻辑块连续的备选坏块的数量。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述深度优先遍历包括：
将识别的备选坏块对应的数组元素的值设置为第二逻辑值；
对所述备选坏块相邻的逻辑块依次进行扫描，并确认扫描的逻辑块的值；
响应于扫描到逻辑块的值为指定二进制数且其对应的数组元素的值为所述第一逻辑值，将所述逻辑块识别为备选坏块，且将连续的备选坏块的数量加一，并返回将识别的备选坏块对应的数组元素的值设置为第二逻辑值的步骤。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述相邻的逻辑块包括在所述二进制坏块表中与所述备选坏块位于同一行或同一列的相邻的逻辑块。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
判断与所述逻辑块连续的备选坏块的数量是否大于预设阈值；
响应于与所述逻辑块连续的备选坏块的数量大于预设阈值，确认与所述逻辑块对应的磁盘存储块位置。


5....

【专利技术属性】
技术研发人员：陈冀，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32