自适应电压调节制造技术

本发明专利技术涉及用于确定用以操作集成电路的供电电压电平的方法、系统、模块、使用以及计算机程序产品。为了允许准确的电压电平校准，本发明专利技术提出了向集成电路提供高负载状态，调整该集成电路的第一电压电平以提供高负载状态下该集成电路的稳定操作，测量高负载状态下该集成电路的温度，存储在该高负载状态下所测量的温度，并存储在该高负载状态下所调整的第一电压电平。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术总体涉及方法、系统、模块、计算机程序产品以及用于确定用于操作集成电路的供电电压电平的此类系统或模块的使用。
技术介绍
集成电路的操作速度，尤其是基于硅技术的集成电路，取决于硅处理的变化、电压变化、以及温度变化。这些变化可能还在操作和处理器速度方面影响该集成电路。在频率大约为400到500MHz的集成电路中，该电压相关性可以为大约1 MHz/mV。通过这些值明显看出，向集成电路提供正确的电压可能是集成电路操作中的关键任务。例如，100mV的电压改变可以引起在CPU最大操作频率上100MHz的差别。除了由于电压变化造成处理器速度的变化以外，硅技术具有由处理容限引起的差异的缺点，尤其在硅制造期间。独立于电压，材料中的变化可引起大约30％的速度变化。这意味着具有提供最弱性能的材料的最弱集成电路可能比具有允许高性能的材料的最强电路慢30％。除了该电压相关性以及材料变化以外，温度变化也可能引起处理器速度变化。在1V的技术中，温度变化可能引起高于处理器速度的5％变化。另外，升高的温度可能引起在该集成电路中升高的阻抗。集成电路内部的电压降(IR压降)随着温度的增加而增加。因此，温度变化本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于利用下面的步骤确定用以操作集成电路的供电电压电平的方法：－向所述集成电路提供高负载状态，－调整所述集成电路的第一电压电平，以便提供在所述高负载状态下所述集成电路稳定的操作；－存储在所述高负载状态下的调整的第一电压电平。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于利用下面的步骤确定用以操作集成电路的供电电压电平的方法-向所述集成电路提供高负载状态，-调整所述集成电路的第一电压电平，以便提供在所述高负载状态下所述集成电路稳定的操作；-存储在所述高负载状态下的调整的第一电压电平。2.根据权利要求1所述的方法，包括在所述高负载状态下测量所述集成电路温度，以及存储在所述高负载状态下所测量的温度。3.根据权利要求1或2所述的方法，包括在高负载状态下的操作期间以所述存储的第一电压电平调整所述电压电平。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，包括在高负载状态下的操作期间以所述存储的第一电压电平加上小于所述第一电压电平10％的电压裕度来调整所述电压电平。5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，包括在高负载状态下的操作期间以所述存储的第一电压电平与基本上为零的电压裕度来调整所述电压电平。6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，包括在所述高负载状态下测量所述集成电路中的电特性，并存储所测量的电特性。7.根据权利要求6所述的方法，包括在所述集成电路中测量IR压降和/或电流作为电特性。8.根据权利要求1所述的方法，包括-向所述集成电路提供低负载状态；-调整所述集成电路的第二电压电平以提供在所述低负载状态下的所述集成电路稳定的操作；-存储在所述低负载状态下的调整的第二电压电平。9.根据权利要求8所述的方法，包括在所述低负载状态下测量所述集成电路的温度，以及存储在所述低负载状态下所测量的温度。10.根据权利要求8或9所述的方法，包括在低负载状态下的操作期间以所述存储的第二电压电平调整所述电压电平。11.根据权利要求8至10中任一项所述的方法，包括在低负载状态下的操作期间以所述存储的第二电压电平加上大于零的电压裕度来调整所述电压电平。12.根据权利要求8至11中任一项所述的方法，包括在低负载状态下的操作期间以所述存储的第二电压电平加上大于所述第二电压电平10％的电压裕度来调整所述电压电平。13.根据权利要求8至12中任一项所述的方法，包括在所述低负载状态下测量所述集成电路中的电特性，并存储所测量的电特性。14.根据权利要求1到13中任一项所述的方法，包括通过操作期间所测量的温度和/或电特性来确定用以调整所述电压电平的所述集成电路的工作点。15.根据权利要求14所述的方法，包括通过处理和/或硬件负载状态来确定用以调整所述电压电平的工作点。16.根据权利要求14或15所述的方法，包括根据所述集成电路的所述工作点以及所述存储的第一电压电平和第二电压电平来调整所述集成电路的所述电压电平。17.根据权利要求14到16中任一项所述的方法，包括根据所述工作点，以所述存储的第一电压电平与所述第二最大电压电平之间的某个电压电平来调整在所述高负载状态与所述低负载状态之间的操作期间的所述电压电平。18.一种用于确定用以操作集成电路的供电电压电平的系统，所述系统包括-集成电路；-电压控制器，用于控制所述集成电路的所述电压；-负载测量装置，用于测量所述集成电路的所述负载状态，以及-存储器，用于存储所述测量的负载状态，其中-所述电压控制器用于调整高负载状态下的第一电压电平以提供所述集成电路的稳定操作。19.根据权利要求18所述的系统，包括温度相关测量装置，其用于测量所述集成电路的所述温度，以及存储器，其用于存储所述测量的温度和所述测量的负载状态。20.根据权利要求18所述的系统，其中所述电压控制器用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：帕西科利尼米，埃克基诺克科南，迈克贾格尔，
申请(专利权)人：诺基亚公司，
类型：发明
国别省市：FI[]