【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据管理,特别是涉及已储存的数据集合中的组件检索。
技术介绍
在半导体制造中,工程数据集合反应出半导体产品、设备、及设施、各种工艺阶段(例如蚀刻、掺杂、离子注入、封装、以及测试)的信息。既然工程数据集合在协助客户避免工艺延迟及技术错误上扮演着重要的角色,有越来越多客户开始使用工程数据集合,例如晶片验收测试(wafer acceptancetests,WAT)、晶片探测(chip probing,CP)、线内测试(inline test)及其它测试的数据集合。当信息系统提供的工程数据集合种类增多的同时,使用工程数据集合并从中取得所要的数据也变得更困难,而且也更耗时。举例来说,介于CP及线内测试数据集合的关联信息在技术上可能涉及其它的工程数据集合,其特征值或介于其它的工程数据集合之间的关联信息。然而,新的客户可能不熟悉该信息系统。另外,实际上相关的数据可能因不同状况而异。目前仍无提出任何有效方法来解决这样的问题。
技术实现思路
因此,本专利技术的目的在于提供。基于上述目的,本专利技术实施例提供一种数据检索方法,执行于一信息提供模块中,其中上述信息提供模块储存并提供制造工程数据集合,并连接一网络。从上述网络接收一第一操作。响应上述第一操作,经由上述网络提供上述工程数据集合的一部分。根据上述工程数据集合的上述部分的特征,自动提供引导信息,上述引导信息引导至上述信息提供模块可执行的下一操作。另外,本专利技术实施例提供一种数据检索系统,包含第一储存单元、接口模块以及引导模块。上述第一储存单元连接于一网络,并储存半导体制造的工程数据集合。上述接口模块连接于 ...
【技术保护点】
一种数据检索方法,执行于一信息提供模块中,其中上述信息提供模块储存并提供制造工程数据集合,上述信息提供模块连接一网络,该方法包含:上述信息提供模块从上述网络接收一第一操作;上述信息提供模块响应上述第一操作,经由上述网络提供上 述工程数据集合的一部分;以及上述信息提供模块根据上述工程数据集合的上述部分的特征,自动提供引导信息,上述引导信息引导至上述信息提供模块可执行的下一操作。
【技术特征摘要】
US 2005-12-13 11/301,5201.一种数据检索方法,执行于一信息提供模块中,其中上述信息提供模块储存并提供制造工程数据集合,上述信息提供模块连接一网络,该方法包含上述信息提供模块从上述网络接收一第一操作;上述信息提供模块响应上述第一操作,经由上述网络提供上述工程数据集合的一部分;以及上述信息提供模块根据上述工程数据集合的上述部分的特征,自动提供引导信息,上述引导信息引导至上述信息提供模块可执行的下一操作。2.如权利要求1所述的数据检索方法,其中,被提供的上述引导信息指向上述信息提供模块可执行的多个操作,且每一操作结合一权重。3.如权利要求1所述的数据检索方法,其中,上述引导信息是基于一预定规则而被提供,上述预定规则包含上述工程数据集合的上述部分的上述特征与上述下一操作之间的关联信息,上述数据检索方法还包含当上述下一操作被执行时,上述信息提供模块相对地调整上述预定规则以加强上述工程数据集合的上述部分的上述特征与上述下一操作之间的关联性。4.如权利要求3所述的数据检索方法,其中,基于被执行过的多个操作的一历史记录提供上述引导信息,上述被执行过的多个操作的其中一个关联于上述工程数据集合的上述部分的上述特征,上述数据检索方法还包含当上述下一操作被执行时,上述信息提供模块相对地调整上述历史记录以加强上述工程数据集合的上述部分的上述特征与上述下一操作之间的关联性。5.如权利要求1所述的数据检索方法,其中,上述工程数据集合与半导体测试相关。6.一种数据检索系统,包含一第一储存单元,连接于一网络,储存半导体制造的工程数据集合;一接口模块,连接于上述第一储存单元,通过上述网络接收第一操作并响应上述第一操作提供上述工程数据集合的一部分;以及一引导模块,连接于上述第一储存单元及上述接口模块,根据上述工程数据集合的上述部分的特征,自动提供引导信息,上述引导信息引导至上述接口模块可执行的下一操作。7.如权利要求6所述的数据检索系统,其中,被提供的上述引导信息指向上述信息提供模块可执行的多个操作,且每一操作结合一权重。8.如权利要求6所述的数据检索系统,还包含一第二储存单元,连接于上述引导模块,储存多个预定规则,其中,上述引导模块是基于其中一预定规则提供上述引导信息,上述预定规则将上述工程数据集合的上述部分的上述特征与上述下一操作关联在一起;以及一学习模块,连接于上述引导模...
【专利技术属性】
技术研发人员:廖世杰,林水典,林宸霆,
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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