机床的位置测量传感器的校正值测量方法和校正值测量系统技术方案

技术编号:28400766 阅读:43 留言:0更新日期:2021-05-11 18:04
机床的位置测量传感器的校正值测量方法和校正值测量系统。在使用接触式传感器取得基准刀具的检测位置和任意的刀具测量位置之后,使用接触探头取得任意的传感器测量位置,根据刀具测量位置与传感器测量位置的差和基准刀具的长度来求出接触探头的长度。然后使用接触探头测量基准球的位置,根据基准刀具的检测位置、基准球的位置、接触探头的长度、基准刀具的长度来计算基准球相对于检测位置的相对位置。然后使用刀具传感器取得基准刀具的位置,使用接触探头测量基准球的位置,根据基准刀具的位置、基准球的位置、相对位置、基准刀具的长度来计算接触探头的长度方向校正值,使用基准球的位置和直径尺寸来计算接触探头的径向校正值。

【技术实现步骤摘要】
机床的位置测量传感器的校正值测量方法和校正值测量系统
本专利技术涉及测量位置测量传感器的校正值的方法以及系统,位置测量传感器是为了在机床的机器内测量工件的位置而使用。
技术介绍
在利用安装于主轴并旋转的刀具对安装在工作台上的工件进行加工的机床中,为了进行高精度的加工,使用自动测量刀具长度和工件的位置来进行校正的方法。作为工件的位置的自动测量方法,例如使用在图2所示的接触探头30中取得探头的触头与工件31接触的时刻或考虑了延迟的时刻下的坐标的方法。在该情况下,为了取得Z轴方向的工件31的坐标,需要接触时的接触探头30的长度。作为接触时的接触探头30的长度的测定方法,通常采用如下方法:在主轴2a上安装基准刀具,一边手动操作Z轴以使基准刀具借助块规(blockgauge)与工作台3等的基准面接触,一边找出块规与基准刀具的间隙大致为0的位置,记录此时的Z轴坐标。然后,测量使接触探头30与基准面接触时的Z轴位置的坐标,将从用接触探头30测量出的坐标中减去用基准刀具记录的坐标和块规的厚度后的值作为接触时的接触探头30的长度。但是,存在需要手本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机床的位置测量传感器的校正值测量方法,使用具有3轴以上的平移轴、能够安装刀具并旋转的主轴以及工作台的机床来测量能够安装于所述主轴的位置测量传感器的长度方向校正值和径向校正值,其特征在于,/n该校正值测量方法使用刀具传感器和设置于所述刀具传感器侧的基准球,执行如下阶段:/n刀具传感器位置取得阶段,将作为所述刀具的长度基准的基准刀具安装于所述主轴,使用所述刀具传感器来取得所述基准刀具的末端的检测位置;/n基准刀具测量位置取得阶段,使用安装于所述主轴的所述基准刀具来取得任意的刀具测量位置;/n位置测量传感器测量位置取得阶段,使用安装于所述主轴的所述位置测量传感器来取得任意的传感器测量位置;/...

【技术特征摘要】
20191106 JP 2019-2017091.一种机床的位置测量传感器的校正值测量方法,使用具有3轴以上的平移轴、能够安装刀具并旋转的主轴以及工作台的机床来测量能够安装于所述主轴的位置测量传感器的长度方向校正值和径向校正值,其特征在于,
该校正值测量方法使用刀具传感器和设置于所述刀具传感器侧的基准球,执行如下阶段:
刀具传感器位置取得阶段,将作为所述刀具的长度基准的基准刀具安装于所述主轴,使用所述刀具传感器来取得所述基准刀具的末端的检测位置;
基准刀具测量位置取得阶段,使用安装于所述主轴的所述基准刀具来取得任意的刀具测量位置;
位置测量传感器测量位置取得阶段,使用安装于所述主轴的所述位置测量传感器来取得任意的传感器测量位置;
位置测量传感器长度计算阶段,求出所述刀具测量位置与所述传感器测量位置的差,根据该差以及所述基准刀具的长度来求出所述位置测量传感器的长度;
基准球位置取得阶段,使用安装于所述主轴的所述位置测量传感器来测量所述基准球的位置;
相对位置计算阶段,根据在所述刀具传感器位置取得阶段中取得的所述检测位置、在所述基准球位置取得阶段中取得的所述基准球的位置、在所述位置测量传感器长度计算阶段中计算出的所述位置测量传感器的长度、以及所述基准刀具的长度,来计算所述基准球相对于所述检测位置的相对位置;
基准刀具位置取得阶段,将所述基准刀具安装于所述主轴,使用所述刀具传感器来取得作为所述基准刀具的末端位置的基准刀具位置;
长度校正值计算阶段,根据在所述基准刀具位置取得阶段中取得的所述基准刀具位置、在所述基准球位置取得阶段中取得的所述基准球的位置、在所述相对位置计算阶段中计算出的所述相对位置、以及所述基准刀具的长度,来计算所述位置测量传感器的长度方向校正值;以及
直径校正值计算阶段,将所述位置测量传感器安装于所述主轴,使用所述位置测量传感器来测量所述基准球的位置,使用测量出的所述基准球的位置和预先存储的所述基准球的直径尺寸来计算所述位置测量传感器的径向校正值。


2.根据权利要求1所述的机床的位置测量传感器的校正值测量方法,其特征在于,
从所述刀具传感器位置取得阶段至所述相对位置计算阶段执行一次,
从所述基准刀具位置取得阶段至所述直径校正值计算阶段执行多次。


3.根据权利要求1或2所述的机床的位置测量传感器的校正值测量方法,其特征在于,
在所述基准球位置取得阶段和所述直径校正值计算阶段中,由所述位...

【专利技术属性】
技术研发人员:神户礼士
申请(专利权)人:大隈株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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