用于制备红外显微镜薄样本的牺牲性夹具制造技术

公开了一种制备用于通过ATR物镜观察的样品(53)的方法和用于保持样品(53)的设备(50)。ATR物镜贴着样品(53)的平面ATR反射表面。所述方法包括将样品(53)夹在材料的第一和第二支撑层(51、52)之间，并切割第一和第二支撑层(51、52)和样品(53)，以产生切割平面表面，该切割平面表面具有在平面中位于第一和第二支撑层(51、52)之间的切割样品(53)。切割平面表面放置成与ATR物镜接触，其中样品(53)靠在ATR反射表面上。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于制备红外显微镜薄样本的牺牲性夹具
技术介绍
量子级联激光器提供了一种可调谐的中红外(MIR)光源，可用于光谱测量和成像。许多感兴趣的化学成分具有在光谱的MIR区域激发的分子振动，所述区域的波长在5至25微米之间。因此，测量样品上不同位置的MIR光吸收可以提供关于作为样品位置的函数的样品化学性质的有用信息。一类成像光谱仪根据样品上的位置和MIR照射光的波长来测量从样品直接反射的光。反射的光量取决于样品的化学和物理属性，因为光既可能因样品中的吸收(反映样本的化学组成)而损失，也可能因散射(取决于样本表面的物理状态)而损失。因此，将直接反射吸收产生的光谱与文库中已知的化学吸收光谱进行比较是一项重大挑战。利用衰减全反射(ATR)照射样本的系统避免了样本对入射光散射造成的问题。然而，样品的表面必须基本上是平坦的，因为与样本相互作用的电场只延伸到ATR物镜反射表面以下几微米。许多感兴趣的样品都不在这个公差范围内。此外，许多样品不太适合平面化。
技术实现思路
本专利技术包括一种制备用于通过ATR物镜观察的样品的方法和用于保持样品的设备。该ATR物镜本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种制备样品的方法，所述样品用于通过以ATR反射表面为特征的ATR物镜进行观察，所述方法包括：/n将所述样品夹在第一和第二材料支撑层之间；以及/n切割所述第一和第二支撑层和所述样品，以产生切割平面表面，该切割平面表面具有在平面中位于所述第一和第二支撑层之间的切割样品。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180930 US 62/739,2991.一种制备样品的方法，所述样品用于通过以ATR反射表面为特征的ATR物镜进行观察，所述方法包括：
将所述样品夹在第一和第二材料支撑层之间；以及
切割所述第一和第二支撑层和所述样品，以产生切割平面表面，该切割平面表面具有在平面中位于所述第一和第二支撑层之间的切割样品。


2.根据权利要求1所述的方法，其中所述切割平面表面放置成与ATR物镜接触，所述样品靠在所述ATR反射表面上。


3.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一和第二支撑层在虎钳结构中被压靠在所述样品上，所述虎钳结构包括相对于彼此移动的第一和第二虎钳构件。


4.根据权利要求3所述的方法，其中所述第一和第二支撑层分别是所述第一和第二虎钳构件的一部分。


5.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一和第二支撑层在所述第一和第二支撑层的所述切割过程中被夹紧在一起。


6.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一和第二支撑层包括聚乙烯。


7.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一和第二支撑层与所述样品相比可压缩性更高。


8.根据权利要求3所述的方法，其中所述第一和第二支撑层与所述第一和第二虎钳构件是分...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·P·泰拉，M·科尔，
申请(专利权)人：安捷伦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US