有机发光二极管显示基板及制备方法、显示面板技术

本发明专利技术提供一种有机发光二极管显示基板及制备方法、显示面板，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的对有机发光二极管显示基板的隔离柱的检测方法的操作复杂、成本高的问题。本发明专利技术的一种有机发光二极管显示基板，包括显示区、隔离区以及切割区，隔离区位于显示区和切割区之间，有机发光二极管显示基板包括：基底；有机发光层；第一隔离柱，位于基底上，且位于隔离区中，第一隔离柱具有第一阻断结构；第二隔离柱，位于基底上，且位于隔离区中，第二隔离柱具有第二阻断结构，第一阻断结构和第二阻断结构用于将位于隔离区的有机发光层阻断；检测结构，与第一隔离柱和第二隔离柱连接，用于检测第一阻断结构和第二阻断结构。

【技术实现步骤摘要】
有机发光二极管显示基板及制备方法、显示面板
本专利技术属于显示
，具体涉及一种有机发光二极管显示基板及制备方法、显示面板。
技术介绍
随着显示技术的不断发展、用户对显示装置的要求的不断提高，全面屏显示装置得到越来越多人的关注。为了在全面屏显示装置中设置摄像头或者听筒等结构，需要将该全面屏显示装置的显示基板上设置一个安装孔。对于有机发光二极管显示基板而言，其用于显示的有机发光层由亲水氧材料形成，这样环境中的水氧会通过安装孔的侧壁经过有机发光层进入显示区，从而影响有机发光二极管显示基板的性能。现有技术中，为了解决上述问题，一般在围绕安装孔的边缘设置多个隔离柱，以通过隔离柱的阻断结构将有机发光层阻断，从而避免环境中的水氧或通过安装孔的侧壁经过有机发光层进入显示区。然而，现有技术中，为了检测隔离柱的阻断结构的性能，需要将采用扫描等方式对隔离柱进行观察，该检测方式具有操作复杂、成本高等问题。
技术实现思路
本专利技术至少部分解决现有的对有机发光二极管显示基板的隔离柱的检测方法的操作复杂、成本高的问题，提供一种能够简化对有机发光二极管显示基板的隔离柱检测方法的有机发光二极管显示基板。解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种有机发光二极管显示基板，包括显示区、隔离区以及切割区，所述隔离区位于所述显示区和所述切割区之间，所述有机发光二极管显示基板包括：基底；有机发光层，位于所述基底上，且位于所述显示区和至少部分所述隔离区中；第一隔离柱，位于所述基底上，且位于所述隔离区中，所述第一隔离柱具有第一阻断结构；第二隔离柱，位于所述基底上，且位于所述隔离区中，所述第二隔离柱具有第二阻断结构，所述第一阻断结构和所述第二阻断结构用于将位于所述隔离区的所述有机发光层阻断；检测结构，与所述第一隔离柱和所述第二隔离柱连接，用于检测所述第一阻断结构和所述第二阻断结构。进一步优选的是，所述第二隔离柱比所述第一隔离柱远离所述切割区，所述第二隔离柱和第二隔离柱之间形成电容；所述检测结构包括：第一检测线，与所述第一隔离柱电连接；第二检测线，与所述第二隔离柱电连接，所述第一检测线和所述第二检测线之间绝缘。进一步优选的是，所述第一检测线位于所述第一隔离柱和所述基底之间，所述第二检测线位于所述第二隔离柱和所述基底之间。进一步优选的是，所述第一检测线具有第一测试焊盘，所述第二检测线具有第二测试焊盘，所述第一测试焊盘位于所述切割区或者所述隔离区，所述第二测试焊盘位于所述切割区或者所述隔离区。进一步优选的是，所述第一测试焊盘位于所述第一隔离柱和所述第二隔离柱之间，所述第二测试焊盘位于所述第一隔离柱和所述第二隔离柱之间。进一步优选的是，所述第一隔离柱包括：第一导电层，位于所述基底上；第二导电层，位于所述第一导电层远离所述基底的一侧，所述第一导电层在所述基底上的正投影在所述第二导电层在所述基底上的正投影中，以形成所述第一阻断结构；所述第二隔离柱包括：第三导电层，位于所述基底上；第四导电层，位于所述第三导电层远离所述基底的一侧，所述第三导电层在所述基底上的正投影在所述第四导电层在所述基底上的正投影中，以形成所述第二阻断结构；所述有机发光层覆盖至少部分所述第一隔离柱和所述第二隔离柱，且所述第一导电层靠近所述第二导电层的至少部分侧表面不覆盖所述有机发光层，所述第三导电层靠近所述第四导电层的至少部分侧表面不覆盖所述有机发光层。进一步优选的是，所述第一隔离柱还包括：第五导电层，位于所述基底和所述第一导电层之间；所述第二隔离柱还包括：第六导电层，位于所述基底和所述第三导电层之间。进一步优选的是，所述隔离区围绕所述切割区，所述显示区围绕所述隔离区，所述第一隔离柱和所述第二隔离柱均环绕所述切割区。解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种有机发光二极管显示基板的制备方法，基于上述的有机发光二极管显示基板，所述制备方法包括：在基底上形成检测结构；在基底上形成第一隔离柱和第二隔离柱，检测结构与所述第一隔离柱连接和所述第二隔离柱连接；通过所述检测结构对所述第一隔离柱的第一阻断结构和所述第二隔离柱的第二阻断结构进行检测，判断所述第一阻断结构和所述第二阻断结构是否符合标准；若所述第一阻断结构和所述第二阻断结构符合标准，则采用蒸镀的工艺在所述基底上形成有机发光层。进一步优选的是，所述第二隔离柱和第二隔离柱之间形成电容；所述通过所述检测结构对所述第一隔离柱的第一阻断结构和所述第二隔离柱的第二阻断结构检测，判断所述第一阻断结构和所述第二阻断结构是否符合标准包括：通过检测所述第一检测线和所述第二检测线的电信号，以检测所述电容的电容值，以判断所述第一阻断结构和所述第二阻断结构是否符合标准。解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种显示面板，包括上述的有机发光二极管显示基板。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1为本专利技术的实施例的一种有机发光二极管显示基板的结构示意图；图2为本专利技术的实施例的一种有机发光二极管显示基板的局部放大示意图；图3为图2中A-A截面的结构示意图；图4a和图4b为本专利技术的实施例的一种有机发光二极管显示基板的隔离柱的制备过程的结构示意图；图5为图2中B-B截面的结构示意图图6为本专利技术的实施例的一种有机发光二极管显示基板的局部放大示意图；图7为本专利技术的实施例的一种有机发光二极管显示基板的局部放大示意图；图8为本专利技术的实施例的一种有机发光二极管显示基板的局部放大示意图；其中，附图标记为：11、显示区；12、隔离区；13、切割区；2、基底；3、有机发光层；4、第一隔离柱；41、第一阻断结构；42、第一导电层；43、第二导电层；44、第五导电层；5、第二隔离柱；51、第二阻断结构；52、第三导电层；53、第四导电层；54、第六导电层；61、第一检测线；611、第一测试焊盘；62、第二检测线；621、第二测试焊盘。具体实施方式为使本领域技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细描述。在本专利技术中，两结构“同层设置”是指二者是由同一个材料层形成的，故它们在层叠关系上处于相同层中，但并不代表它们与基底间的距离相等，也不代表它们与基底间的其它层结构完全相同。以下将参照附图更详细地描述本专利技术。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。在下文中描述了本专利技术的许多特定的细节，例如部件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本专利技术。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本专利技术。实施例1：如图1至图8所示，本实施例提供一种有机发光二极管显示基板，包括显示区11、隔离区12以及切割区13，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种有机发光二极管显示基板，其特征在于，包括显示区、隔离区以及切割区，所述隔离区位于所述显示区和所述切割区之间，所述有机发光二极管显示基板包括：/n基底；/n有机发光层，位于所述基底上，且位于所述显示区和至少部分所述隔离区中；/n第一隔离柱，位于所述基底上，且位于所述隔离区中，所述第一隔离柱具有第一阻断结构；/n第二隔离柱，位于所述基底上，且位于所述隔离区中，所述第二隔离柱具有第二阻断结构，所述第一阻断结构和所述第二阻断结构用于将位于所述隔离区的所述有机发光层阻断；/n检测结构，与所述第一隔离柱和所述第二隔离柱连接，用于检测所述第一阻断结构和所述第二阻断结构。/n

【技术特征摘要】
1.一种有机发光二极管显示基板，其特征在于，包括显示区、隔离区以及切割区，所述隔离区位于所述显示区和所述切割区之间，所述有机发光二极管显示基板包括：
基底；
有机发光层，位于所述基底上，且位于所述显示区和至少部分所述隔离区中；
第一隔离柱，位于所述基底上，且位于所述隔离区中，所述第一隔离柱具有第一阻断结构；
第二隔离柱，位于所述基底上，且位于所述隔离区中，所述第二隔离柱具有第二阻断结构，所述第一阻断结构和所述第二阻断结构用于将位于所述隔离区的所述有机发光层阻断；
检测结构，与所述第一隔离柱和所述第二隔离柱连接，用于检测所述第一阻断结构和所述第二阻断结构。


2.根据权利要求1所述的有机发光二极管显示基板，其特征在于，所述第二隔离柱比所述第一隔离柱远离所述切割区，所述第二隔离柱和第二隔离柱之间形成电容；
所述检测结构包括：
第一检测线，与所述第一隔离柱电连接；
第二检测线，与所述第二隔离柱电连接，所述第一检测线和所述第二检测线之间绝缘。


3.根据权利要求2所述的有机发光二极管显示基板，其特征在于，所述第一检测线位于所述第一隔离柱和所述基底之间，所述第二检测线位于所述第二隔离柱和所述基底之间。


4.根据权利要求2所述的有机发光二极管显示基板，其特征在于，所述第一检测线具有第一测试焊盘，所述第二检测线具有第二测试焊盘，所述第一测试焊盘位于所述切割区或者所述隔离区，所述第二测试焊盘位于所述切割区或者所述隔离区。


5.根据权利要求4所述的有机发光二极管显示基板，其特征在于，所述第一测试焊盘位于所述第一隔离柱和所述第二隔离柱之间，所述第二测试焊盘位于所述第一隔离柱和所述第二隔离柱之间。


6.根据权利要求1所述的有机发光二极管显示基板，其特征在于，所述第一隔离柱包括：
第一导电层，位于所述基底上；
第二导电层，位于所述第一导电层远离所述基底的一侧，所述第一导电层在所述基底上的正投影在所述第二导电层在所述基底上的正投影中，以形成所述第一阻断结构；
所述第二隔离柱包括：
第三导电层，位于所述基底...

【专利技术属性】
技术研发人员：王文涛，史大为，赵东升，王培，杨璐，霍亮，
申请(专利权)人：重庆京东方显示技术有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50