一种继电保护缺陷数据的唯一性校核方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种继电保护缺陷数据的唯一性校核方法及系统，包括计算缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度；根据多个样本缺陷记录对，利用支持向量机确定缺陷记录唯一性校核分界面；根据待校验的缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度对应的数据点与所述缺陷记录唯一性校核分界面的相对位置，确定所述待校验的缺陷记录对的唯一性；本发明专利技术能够有效支撑继电保护专业管理人员分析继电保护缺陷，能够准确地判断同一设备的任意2次缺陷记录是否重复，能够减轻人工分析数据的工作量，减小了人力物力成本，通过筛查、清理重复的缺陷数据，能够提升继电保护缺陷数据的综合应用水平。

【技术实现步骤摘要】
一种继电保护缺陷数据的唯一性校核方法及系统
本专利技术涉及数据处理
，并且更具体地，涉及一种继电保护缺陷数据的唯一性校核方法及系统。
技术介绍
继电保护数据可划分为设备管理、运行维护、状态评价和定值整定等类型。设备管理类数据包含保护设备台账以及台账与一次设备、厂站间关系。定值整定类数据包含保护定值模型、定值项、保护定值同系统运行方式的关系等。状态评价类数据模型包含基于智能变电站配置文件(SCD文件)所生成的IED设备信息，以及每一台IED设备所对应的状态量、告警、动作以及模拟量等信息模型。运行维护类数据包含巡检巡视、缺陷、家族性缺陷数据等。继电保护缺陷数据是一类描述继电保护设备运行异常及故障的设备运行维护数据，能够体现出设备运行可靠性、不同类型设备总体质量等信息。目前，对继电保护专业信息的管理和应用还停留在单一信息的采集应用层面，数据的准确性、完整性、标准性方面问题突出，尚未实现数据从保护装置源端至变电站端、调度端的信息自动采集及智能录入管理。因此，亟需开展继电保护装置标识技术和数据校核技术的研究工作，实现全网保护设备数据的唯一识别，全面完善保护设备全寿命周期信息模型，为继电保护信息准确、完备采集及分析应用奠定基础，实现继电保护专业各应用系统基于标识信息的关联应用。其中，继电保护数据的唯一性是数据治理的重要方面。继电保护专业系统中常存在重复的继电保护缺陷记录，影响了缺陷数据的应用水平。
技术实现思路
本专利技术提出一种继电保护缺陷数据的唯一性校核方法及系统，以解决如何自动对继电保护缺陷数据进行唯一性校核的问题。为了解决上述问题，根据本专利技术的一个方面，提供了一种继电保护缺陷数据的唯一性校核方法，所述方法包括：获取同一继电保护设备标识对应的至少两条待校验的缺陷记录，并选取所述至少两条待校验的缺陷记录中的两条待校验的缺陷记录作为待校验的缺陷记录对；根据继电保护全体缺陷记录的各项属性的统计结果计算每项缺陷属性的权重，并根据所述待校验的缺陷记录对中的缺陷属性数据以及每项缺陷属性的权重计算所述待校验的缺陷记录对的缺陷属性差异度根据所述待校验的缺陷记录对中的缺陷时间确定所述待校验的缺陷记录对的缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度；获取多个样本缺陷记录对，计算每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度，并根据每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度组成的数据点，利用支持向量机确定缺陷记录唯一性校核分界面；根据所述待校验的缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度对应的数据点与所述缺陷记录唯一性校核分界面的相对位置，确定所述待校验的缺陷记录对的唯一性校核结果；其中，所述唯一性校核结果包括：重复缺陷记录对和非重复缺陷记录对。优选地，其中所述方法利用如下方式根据继电保护全体缺陷记录的各项属性的统计结果计算每项缺陷属性的权重，包括：其中，ωi为第i项缺陷属性的权重；Pij为第i项缺陷属性的第j个取值出现的概率；k为第i项缺陷属性的不同取值的个数。优选地，其中所述方法利用如下公式根据每项缺陷属性的权重计算所述缺陷记录对的缺陷属性差异度，包括：其中，V1为缺陷记录对的缺陷属性差异度；ωi为第i项缺陷属性的权重；Ii表示缺陷记录对第i项缺陷属性的数据是否有差别，如果有差别则取1，无差别则取0。优选地，其中所述方法利用如下方式根据缺陷记录对中的缺陷时间确定所述缺陷记录对的缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度，包括：V2＝(V21+V22)/2，其中，V2为缺陷记录对的缺陷时间差异度；V21为缺陷记录对的缺陷发生时间差异度；V22为缺陷记录对的缺陷消除时间差异度；Tdif1和Tdif2分别为缺陷记录对中的缺陷发生时间之差和缺陷消除时间之差，单位为分钟；V3为缺陷记录对的缺陷时间跨度分隔度。优选地，其中所述根据每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度组成的数据点，利用支持向量机确定缺陷记录唯一性校核分界面，包括：构建以缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度为坐标的指标空间；在所述指标空间中确定每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度组成的数据点，并根据每个样本缺陷记录对的是否为重复缺陷记录的先验结果进行分簇，确定重复缺陷记录簇和非重复缺陷记录簇；根据所述重复缺陷簇和非重复缺陷簇，采用支持向量机进行训练，以确定缺陷记录唯一性校核分界面。根据本专利技术的另一个方面，提供了一种继电保护缺陷数据的唯一性校核系统，所述系统包括：待校验的缺陷记录对确定单元，用于获取同一继电保护设备标识对应的至少两条待校验的缺陷记录，并选取所述至少两条待校验的缺陷记录中的两条待校验的缺陷记录作为待校验的缺陷记录对；缺陷属性差异度确定单元，用于根据继电保护全体缺陷记录的各项属性的统计结果计算每项缺陷属性的权重，并根据所述待校验的缺陷记录对中的缺陷属性数据以及每项缺陷属性的权重计算所述待校验的缺陷记录对的缺陷属性差异度；缺陷时间差异度确定单元，用于根据所述待校验的缺陷记录对中的缺陷时间确定所述待校验的缺陷记录对的缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度；缺陷记录唯一性校核分界面确定单元，用于获取多个样本缺陷记录对，计算每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度，并根据每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度组成的数据点，利用支持向量机确定缺陷记录唯一性校核分界面；唯一性校核结果确定单元，用于根据所述待校验的缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度对应的数据点与所述缺陷记录唯一性校核分界面的相对位置，确定所述待校验的缺陷记录对的唯一性校核结果；其中，所述唯一性校核结果包括：重复缺陷记录对和非重复缺陷记录对。优选地，其中所述系统利用如下方式根据继电保护全体缺陷记录的各项属性的统计结果计算每项缺陷属性的权重，包括：其中，ωi为第i项缺陷属性的权重；Pij为第i项缺陷属性的第j个取值出现的概率；k为第i项缺陷属性的不同取值的个数。优选地，其中所述系统利用如下公式根据每项缺陷属性的权重计算所述缺陷记录对的缺陷属性差异度，包括：其中，V1为缺陷记录对的缺陷属性差异度；ωi为第i项缺陷属性的权重；Ii表示缺陷记录对第i项缺陷属性的数据是否有差别，如果有差别则取1，无差别则取0。优选地，其中所述系统利用如下方式根据缺陷记录对中的缺陷时间确定所述缺陷记录对的缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度，包括：V2＝(V21+V22)/2，其中，V2为缺陷记录对的缺陷时间差异度；V21为缺陷记录对的缺陷发生时间差异度；V22为缺陷记录对的缺陷消除时间差异度；Tdif1和T本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种继电保护缺陷数据的唯一性校核方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取同一继电保护设备标识对应的至少两条待校验的缺陷记录，并选取所述至少两条待校验的缺陷记录中的两条待校验的缺陷记录作为待校验的缺陷记录对；/n根据继电保护全体缺陷记录的各项属性的统计结果计算每项缺陷属性的权重，并根据所述待校验的缺陷记录对中的缺陷属性数据以及每项缺陷属性的权重计算所述待校验的缺陷记录对的缺陷属性差异度；/n根据所述待校验的缺陷记录对中的缺陷时间确定所述待校验的缺陷记录对的缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度；/n获取多个样本缺陷记录对，计算每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度，并根据每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度组成的数据点，利用支持向量机确定缺陷记录唯一性校核分界面；/n根据所述待校验的缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度对应的数据点与所述缺陷记录唯一性校核分界面的相对位置，确定所述待校验的缺陷记录对的唯一性校核结果；其中，所述唯一性校核结果包括：重复缺陷记录对和非重复缺陷记录对。/n

【技术特征摘要】
1.一种继电保护缺陷数据的唯一性校核方法，其特征在于，所述方法包括：
获取同一继电保护设备标识对应的至少两条待校验的缺陷记录，并选取所述至少两条待校验的缺陷记录中的两条待校验的缺陷记录作为待校验的缺陷记录对；
根据继电保护全体缺陷记录的各项属性的统计结果计算每项缺陷属性的权重，并根据所述待校验的缺陷记录对中的缺陷属性数据以及每项缺陷属性的权重计算所述待校验的缺陷记录对的缺陷属性差异度；
根据所述待校验的缺陷记录对中的缺陷时间确定所述待校验的缺陷记录对的缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度；
获取多个样本缺陷记录对，计算每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度，并根据每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度组成的数据点，利用支持向量机确定缺陷记录唯一性校核分界面；
根据所述待校验的缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度对应的数据点与所述缺陷记录唯一性校核分界面的相对位置，确定所述待校验的缺陷记录对的唯一性校核结果；其中，所述唯一性校核结果包括：重复缺陷记录对和非重复缺陷记录对。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法利用如下方式根据继电保护全体缺陷记录的各项属性的统计结果计算每项缺陷属性的权重，包括：



其中，ωi为第i项缺陷属性的权重；Pij为第i项缺陷属性的第j个取值出现的概率；k为第i项缺陷属性的不同取值的个数。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法利用如下公式根据每项缺陷属性的权重计算所述缺陷记录对的缺陷属性差异度，包括：



其中，V1为缺陷记录对的缺陷属性差异度；ωi为第i项缺陷属性的权重；Ii表示缺陷记录对第i项缺陷属性的数据是否有差别，如果有差别则取1，无差别则取0。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法利用如下方式根据缺陷记录对中的缺陷时间确定所述缺陷记录对的缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度，包括：
V2＝(V21+V22)/2，









其中，V2为缺陷记录对的缺陷时间差异度；V21为缺陷记录对的缺陷发生时间差异度；V22为缺陷记录对的缺陷消除时间差异度；Tdif1和Tdif2分别为缺陷记录对中的缺陷发生时间之差和缺陷消除时间之差，单位为分钟；V3为缺陷记录对的缺陷时间跨度分隔度。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度组成的数据点，利用支持向量机确定缺陷记录唯一性校核分界面，包括：
构建以缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度为坐标的指标空间；
在所述指标空间中确定每个样本缺陷记录对的缺陷属性差异度、缺陷时间差异度和缺陷时间跨度分隔度组成的数据点，并根据每个样本缺陷记录对的是否为重复缺陷记录的先验结果进行分簇，确定重复缺陷记录簇和非重复缺陷记录簇；
根据所述重复缺陷簇和非重复缺陷簇，采用支持向量机进行训练，以确定缺陷记录唯一性校核分界面。


6.一种继电保护缺陷数据的唯一性校核系统，其特征在于，所述系统包括：
待校验...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭鹏，王文焕，张烈，杨国生，康逸群，李妍霏，张瀚方，胡海燕，闫周天，吴春亮，王丽敏，申华，赵保涛，任庆雷，
申请(专利权)人：中国电力科学研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11