一种电表单板测试方法及系统技术方案

本发明专利技术提供的一种电表单板测试方法及系统，该方法包括：电表单板上电后，获取电表的存储器中存储的当前初始化标志；判断当前初始化标志是否与预设初始化标志一致；在当前初始化标志与预设初始化标志不一致时，执行电表初始化步骤，同时调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，单板测试程序存储在电表的内部闪存中。通过实施本发明专利技术，在初始化的同时完成了待测电表单板的测试，节省了初始化时间，提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种电表单板测试方法及系统
本专利技术涉及电力仪表检测领域，具体涉及一种电表单板测试方法及系统。
技术介绍
主印刷电路板作为智能电表的核心部件，它的生产、检测效率是影响智能电表生产效率的重要因素。现有的电表单板测试做法通常为：先对电表参数进行初始化处理，然后再插测试小板，下发测试命令以进行单板测试。由于初始化过程中，智能电表无法同时进行测试，只能在初始化完成后，人工插接测试小板再进行测试，初始化大约耗时1min，人工插接测试小板大约耗时1min，整个过程人工操作繁杂，测试效率低。
技术实现思路
因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中电表单板测试耗时耗力的缺陷，从而提供一种电表单板测试方法及系统。为达到上述目的，本专利技术提供如下技术方案：第一方面，本专利技术实施例提供一种电表单板测试方法，包括：电表单板上电后，获取电表的存储器中存储的当前初始化标志；判断所述当前初始化标志是否与预设初始化标志一致；在所述当前初始化标志与所述预设初始化标志不一致时，执行电表初始化步骤，同时调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，所述单板测试程序存储在电表的内部闪存中。在一实施例中，所述电表初始化步骤包括：获取待测电表参数及设置在内部闪存中的程序；将所述电表参数存储至电表的存储器中；将设置在内部闪存中的程序存储至外部闪存。在一实施例中，所述调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，包括：根据所述电表参数的存储状态，调用所述单板测试程序对电表的外围器件进行测试；根据所述程序的存储状态，调用所述单板测试程序对电表的外围器件进行测试。在一实施例中，所述根据所述电表参数的存储状态，调用所述单板测试程序对电表的外围器件进行测试，包括：将所述电表参数进行排序，生成参数存储列表；依次将所述参数存储列表中的电表参数逐条存储至电表的存储器中，并在各条电表参数存储至电表的存储器后，调用一次所述单板测试程序。在一实施例中，所述根据所述程序的存储状态，调用所述单板测试程序对电表的外围器件进行测试，包括：将内部闪存中的程序按页排序，生成程序存储页；依次将所述程序存储页中的程序逐页存储至外部闪存，并在各页程序存储至外部闪存后，调用所述单板测试程序。在一实施例中，所述调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，还包括：控制电表单板上的LED状态指示灯的开关，和获取外部输入的按键信号、强磁信号、模块盖信号及端盖信号，并对其信号状态进行判断，输出对应的液晶状态符。在一实施例中，所述电表单板测试方法，还包括：在所述当前初始化标志与预设初始化标志一致时，不执行初始化步骤和调用单板测试程序。在一实施例中，所述程序存储页包括偶数页及奇数页，其中，在偶数页程序存储至外部闪存后，调用所述单板测试程序对电表的外围器件进行测试；在奇数页程序存储至外部闪存后，清除所述单板测试程序对电表的外围器件进行测试的测试结果。第二方面，本专利技术实施例提供一种电表单板测试系统，包括：获取模块，用于电表单板上电后，获取电表的存储器中存储的当前初始化标志；判断模块，用于判断所述当前初始化标志是否与预设初始化标志一致；测试模块，用于在所述当前初始化标志与所述预设初始化标志不一致时，执行电表初始化步骤，同时调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，所述单板测试程序存储在电表的内部闪存中。第三方面，本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行本专利技术实施例第一方面所述的电表单板测试方法。第四方面，本专利技术实施例提供一种计算机设备，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行本专利技术实施例第一方面所述的电表单板测试方法。本专利技术技术方案，具有如下优点：本专利技术提供的电表单板测试方法，包括：电表单板上电后，获取电表的存储器中存储的当前初始化标志；判断当前初始化标志是否与预设初始化标志一致；在当前初始化标志与预设初始化标志不一致时，执行电表初始化步骤，同时调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，单板测试程序存储在电表的内部闪存中。通过在程序中设置预设初始化标志，以及对比当前初始化标志与预设初始化标志是否一致，判断是否启动初始化及测试操作，避免待测电表单板在每次上电都进行初始化及测试操作。通过将单板测试程序存储在电表的内部闪存中，并在电表初始化的同时调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，使得初始化与单板测试同时进行，节省了初始化和人工插接测试小板的时间，提高了检测效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例中电表单板测试方法的一个具体示例的流程图；图2为本专利技术实施例中电表单板液晶全屏图；图3为本专利技术实施例中电表单板测试系统的一个具体示例的原理框图；图4为本专利技术实施例提供的计算机设备一个具体示例的组成图。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。本专利技术实施例提供一种电表单板测试方法，如图1所示，包括如下步骤：步骤S1：电表单板上电后，获取电表的存储器中存储的当前初始化标志。在一具体实施例中，为了避免待测电表在每次上电都进行初始化及测试操作，通常在程序中设置预设初始化标志，并在测电表的EEPROM存储器中设置当前初始化标志。步骤S2：判断当前初始化标志是否与预设初始化标志一致。在一具体实施例中，通过对比当前初始化标志与预设初始化标志是否一致，来判断是否启动初始化及测试操作。具体地，将预设初始化标志设置为0x5555，在待测电表单板第一次上电时，程序从EEPROM存储器中读取的当前初始化标志为0x0000，将当前初始化标志与预设初始化标志进行对比。步骤S3：在当前初始化标志与预设初始化标志不一致时，执行电表初始化步骤，同时调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，单板测试程序存储在电表的内部闪存中。在一具体实施例中，当对比结果不一致时，开始进行待测电表单板数据初始化操作，同时调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，以检验待测电表元器件的焊接质量。同时将当前初始化标志0x5555固化到E本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电表单板测试方法，其特征在于，包括：/n电表单板上电后，获取电表的存储器中存储的当前初始化标志；/n判断所述当前初始化标志是否与预设初始化标志一致；/n在所述当前初始化标志与所述预设初始化标志不一致时，执行电表初始化步骤，同时调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，所述单板测试程序存储在电表的内部闪存中。/n

【技术特征摘要】
1.一种电表单板测试方法，其特征在于，包括：
电表单板上电后，获取电表的存储器中存储的当前初始化标志；
判断所述当前初始化标志是否与预设初始化标志一致；
在所述当前初始化标志与所述预设初始化标志不一致时，执行电表初始化步骤，同时调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，所述单板测试程序存储在电表的内部闪存中。


2.根据权利要求1所述的电表单板测试方法，其特征在于，所述电表初始化步骤包括：
获取待测电表参数及设置在内部闪存中的程序；
将所述电表参数存储至电表的存储器中；
将设置在内部闪存中的程序存储至外部闪存。


3.根据权利要求2所述的电表单板测试方法，其特征在于，所述调用单板测试程序对电表的外围器件进行测试，包括：
根据所述电表参数的存储状态，调用所述单板测试程序对电表的外围器件进行测试；
根据所述程序的存储状态，调用所述单板测试程序对电表的外围器件进行测试。


4.根据权利要求3所述的电表单板测试方法，其特征在于，所述根据所述电表参数的存储状态，调用所述单板测试程序对电表的外围器件进行测试，包括：
将所述电表参数进行排序，生成参数存储列表；
依次将所述参数存储列表中的电表参数逐条存储至电表的存储器中，并在各条电表参数存储至电表的存储器后，调用一次所述单板测试程序。


5.根据权利要求3所述的电表单板测试方法，其特征在于，所述根据所述程序的存储状态，调用所述单板测试程序对电表的外围器件进行测试，包括：
将内部闪存中的程序按页排序，生成程序存储页；
依次将所述程序存储页中的程序逐页存储至外部闪存，并在各页程序存储至外部闪存后，调用所述单板测试程序。


...

【专利技术属性】
技术研发人员：邬西占，沈亮，周银蕾，
申请(专利权)人：浙江正泰仪器仪表有限责任公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33