【技术实现步骤摘要】
一种基于不同介质的激光穿透检测方法
本专利技术涉及激光
,具体涉及一种基于不同介质的激光穿透检测方法。
技术介绍
激光检测技术应用十分广泛,如激光干涉测长、激光测距、激光测振、激光测速、激光散斑测量、激光准直、激光全息、激光扫描、激光跟踪、激光光谱分析等都显示了激光测量的巨大优越性。激光外差干涉是纳米测量的重要技术。激光测量是一种非接触式测量,不影响被测物体的运动,精度高、测量范围大、检测时间短,具有很高的空间分辨率。如授权公告号为CN111421252A的中国专利,其公开了一种激光穿孔检测方法及激光切割机,激光切割机的激光头本体上设置有信号处理单元,用于检测激光穿透板材的信号的至少一个传感器,至少一个传感器位于激光头本体外部,且与信号处理单元电连接,方法包括:激光切割机的主控系统向信号处理单元发送激光出光信号;主控系统接收信号处理单元反馈的穿透信号;穿透信号为在激光头本体出光期间,信号处理单元根据所有传感器的检测信号进行处理,获得的激光穿孔状态为穿透状态的信号;主控系统根据穿透信号进行激光穿孔检测过程中的闭环控制。上述的这种检测方法具有提高切割工艺的优点;但是上述的这种检测方法依旧存在着一些缺点,如:激光穿孔检测的时候,只通过同种介质的材料进行穿孔检测,没有检测其它介质的材料,在经过激光切割机进行切割的时候,无法保障切割的穿透效率,只进行单次检测,无法确定检测的精度。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基于不同介质的激光穿透检测方法,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。 ...
【技术保护点】
1.一种基于不同介质的激光穿透检测方法,其特征在于:所述基于不同介质的激光穿透检测方法的具体步骤如下:/n步骤一:准备材料,准备不同介质的材料,依次固定安装在激光发射器装置上,进行安装固定;/n步骤二:启动激光发射器装置,通过激光发射器装置对不同介质的材料进行穿孔实验;/n步骤三:第一次检测,在激光发射器装置对不同介质的材料进行穿孔,利用穿透检测技术得到激光微孔制造中通孔形成时所需的脉冲个数,以脉冲个数阈值N作为实验中不同参数组合下使用的脉冲个数,且不断的收集穿孔过程中的光信号,将光信号转化为信号值,并设置一最小信号阈值,判断孔的穿透状况,通过数据的计算得出不同介质材料的激光穿透率;/n步骤四:第二次检测,借助于光度测量仪器确定透射率T与辐射通量产生的两个电信号的关系,通过使用一个800-1000nm瓦数和辐射极低的激光发光二极管穿透待检测的不同介质的材料,被另一边的光度检测器检测,所述光度检测器产生与发光二极管的辐射激光量成比例的电信号,这一比例值即为测到的激光穿透率;/n步骤五:数据分析,将步骤步骤三:第一次检测的数据与步骤四:第二次检测的数据进行对比,确定数据的误差,将两次测得的 ...
【技术特征摘要】
1.一种基于不同介质的激光穿透检测方法,其特征在于:所述基于不同介质的激光穿透检测方法的具体步骤如下:
步骤一:准备材料,准备不同介质的材料,依次固定安装在激光发射器装置上,进行安装固定;
步骤二:启动激光发射器装置,通过激光发射器装置对不同介质的材料进行穿孔实验;
步骤三:第一次检测,在激光发射器装置对不同介质的材料进行穿孔,利用穿透检测技术得到激光微孔制造中通孔形成时所需的脉冲个数,以脉冲个数阈值N作为实验中不同参数组合下使用的脉冲个数,且不断的收集穿孔过程中的光信号,将光信号转化为信号值,并设置一最小信号阈值,判断孔的穿透状况,通过数据的计算得出不同介质材料的激光穿透率;
步骤四:第二次检测,借助于光度测量仪器确定透射率T与辐射通量产生的两个电信号的关系,通过使用一个800-1000nm瓦数和辐射极低的激光发光二极管穿透待检测的不同介质的材料,被另一边的光度检测器检测,所述光度检测器产生与发光二极管的辐射激光量成比例的电信号,这一比例值即为测到的激光穿透率;
步骤五:数据分析,将步骤步骤三:第一次检测的数据与步骤四:第二次检测的数据进行对比,确定数据的误差,将两次测得的数据进行整合,得出最终的激光穿透率。
2.根据权利要求1所述的一种基于不同介质的激光穿透检测方法,其特征在于:所述步骤三的第一次检测中的脉冲个数阈值N的计算公式如下:
N=(t1-t0)·f;
式中,t0为打孔开始的时间点;t1为材料被打通的时间点;f为脉冲重复频率。
3.根据权利要求2所述的一种基于不同介质的激光穿透检测方法,其特征在于:所述脉冲重复率通过计算公式得出激光穿透功率;
激光脉冲的平均功率Pav=E/T,脉冲激光的峰值功率Ppk=E/t;
式中,t为单个脉冲...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵梓君,
申请(专利权)人:南京理工大学北方研究院,
类型:发明
国别省市:天津;12
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