一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法技术

本发明专利技术涉及一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法，在探测器输出的模拟信号采样位置

【技术实现步骤摘要】
一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法
本专利技术属于图像处理/信号处理领域，涉及一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法，具体涉及一种对红外探测器输出的模拟信号进行自判别抽样多采样的处理方法。
技术介绍
红外成像组件中的噪声主要有：背景辐射噪声、探测器噪声、读出处理电路噪声。当目标信号很弱时，目标信息将湮没在系统噪声中，红外成像组件所能探测到的红外辐射信号受其噪声的限制。背景辐射光子的起伏引起的噪声为背景辐射噪声，背景辐射噪声的大小与探测器的响应率成正比，探测器灵敏度越高，背景辐射噪声越大。探测器噪声主要包括热噪声、1/f噪声、产生-复合噪声和温度噪声等。提高信噪比的技术途径，一是增加有用信号的幅值，另一方法是降低成像组件的噪声。
技术实现思路
要解决的技术问题为了避免现有技术的不足之处，本专利技术提出一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法。技术方案一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法，其特征在于步骤如下：步骤1：在探测器输出的模拟信号采样位置范围内进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法，其特征在于步骤如下：/n步骤1：在探测器输出的模拟信号采样位置

【技术特征摘要】
1.一种应用于线列探测器的自判别变频抽样多采样方法，其特征在于步骤如下：
步骤1：在探测器输出的模拟信号采样位置范围内进行m次采样，得到采样数据gi，T为一个像素所占用的时间，T为一个像素所占用的时间，探测器输出的像素的最高频率为fmax，采样频率为fc，设置倍率最终探测器采样位置在范围内采集m个数据，m＜n；
步骤2：对采样数据gi中的m个数据，进行排序，去除掉m个数据中的最大值、最小值，对剩余m-2个数据进行以下计算得到输出数据：



步骤3：对gC数据进行非均匀校正；
步骤4、对经过非均匀校正后的图像进行图像质量评价并调整：
步骤a、首先以图像灰度方差Iσ进行图像质量评价并调整，当均匀背景下方差Iσ≥2.5时，返回步骤1，调整采样速率、抽样点位置，再从步骤2开始执行，当方差Iσ最小值Iσmin时，执行步骤b；
所述图像灰度方差
其中，其中图像I的分辨率大小为M×N，I(i,j)为在像素位置(i,j)处的灰度值；
步骤b、然后以图像粗糙度ρ进行图像质量评价并调整，重复步骤1～步骤3，调整采样速率、抽样点位置，直至找到最小值ρmin时，执行步骤c；
(1)以尺寸为n×n的窗从左到右、从上到下的方式对图像进行滑...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱寅非，魏俊杰，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所，
类型：发明
国别省市：河南;41