【技术实现步骤摘要】
一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质
本专利技术涉及一种光电检测系统，尤其是涉及一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质。
技术介绍
光电检测系统如分子吸收光谱仪、原子吸收光谱仪等，是光谱学检测中的重要仪器。其中，气相分子吸收光谱仪是基于被测成分所分解成的气体对光的吸收强度与被测成分浓度的关系遵守光吸收定律这一原则来进行定量测定的；根据吸收波长的不同，也可以确定被测定的成分而进行定性分析。气相分子吸收光谱仪可以包括光源、准直和聚焦透镜组、吸光池、单色器以及光电检测器件，在进行检测过程中因为背景干扰等因素导致系统误差。如何降低背景干扰提高光电检测系统的检测精度是本领域亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种有效降低背景干扰、提高精度的光学检测中窄带吸收的背景校正方法、设备及介质。本专利技术的目的可以通过以下技术方案来实现：一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法，用于对光学检测系统进行背景误差校正，该方法包括以下步骤：<...
【技术保护点】
1.一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，用于对光学检测系统进行背景误差校正，该方法包括以下步骤：/n获取光学检测系统的光学检测系统原始检测数据；/n基于预先获得的背景校正系数对所述原始检测数据进行背景校正；/n其中，所述背景校正系数通过以下方式获得：获取一组该光学检测系统的检测数据，通过反向推演及验证的方式获得最优的所述背景校正系数。/n
【技术特征摘要】
1.一种光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，用于对光学检测系统进行背景误差校正，该方法包括以下步骤：
获取光学检测系统的光学检测系统原始检测数据；
基于预先获得的背景校正系数对所述原始检测数据进行背景校正；
其中，所述背景校正系数通过以下方式获得：获取一组该光学检测系统的检测数据，通过反向推演及验证的方式获得最优的所述背景校正系数。
2.根据权利要求1所述的光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，所述背景校正系数用于表征该光学检测系统的背景杂散光。
3.根据权利要求1所述的光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，所述光学检测系统为基于朗博-比尔定律的光谱检测系统及设备。
4.根据权利要求1所述的光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，所述光学检测系统的光源为连续光源或含有背景干扰的锐线光源。
5.根据权利要求4所述的光学检测中窄带吸收的背景校正方法，其特征在于，所述光源为连续光源时，背景校正系数为复合光强与入射光强的比值。
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【专利技术属性】
技术研发人员：刘丰奎，郝俊，刘盼西，刘向东，赵东，牛军，王美彩，
申请(专利权)人：上海安杰环保科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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