一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置，属于测量技术领域，解决了现有技术中测量点为内凹陷点时，不易被测量的问题。本发明专利技术提供一种基于十字形基准器的校对方法，步骤包括：步骤1：分别制作测量件A、测量件B；步骤2：设计十字形基准器；步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器；步骤4：部件A与部件B对接；步骤5：计算测量点A与测量点B的相对距离；步骤6：部件A与部件B校对。本发明专利技术实现了内凹陷点的引出与再测量，测量过程简便，测量精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置
本专利技术涉及测量
，尤其涉及一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置。
技术介绍
飞行器大尺寸精确对接是保证飞行器外形结构尺寸的重要工艺环节，也是开展后续分系统总装工作的前提，在大部件对接过程中必须保证相关特征尺寸。大部件对接往往涉及到多组交联点尺寸精度，且各组交联点特征分别分布于不同部件之上，导致每个交联点与位于不同部件的多个交联点存在空间特征关系。通过采用激光跟踪仪测量布设在测量现场中的固定参考点信息位置，与其在全局坐标系中的理论位置信息进行数据的最佳拟合，进而实现部件对接特征尺寸、姿态信息与理论数模一致。然而，在实际应用过程中，测量点特征往往存在不易被测量的盲点现象，如分布于两个部件之上且有尺寸位置要求的凹陷内螺纹、分布于两个部件之上且有尺寸要求的凹陷定位销孔，或者由于部件尺寸大、测量点范围分布广，激光跟踪仪无法覆盖测量面等。
技术实现思路
鉴于上述的分析，本专利技术实施例旨在提供一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置，用以解决了现有技术中测量点为内凹本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，步骤包括：/n步骤1：分别制作测量件A、测量件B；/n步骤2：设计十字形基准器；/n步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器；/n步骤4：部件A与部件B对接；/n步骤5：计算测量点A与测量点B的相对距离；/n步骤6：部件A与部件B校对。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，步骤包括：
步骤1：分别制作测量件A、测量件B；
步骤2：设计十字形基准器；
步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器；
步骤4：部件A与部件B对接；
步骤5：计算测量点A与测量点B的相对距离；
步骤6：部件A与部件B校对。


2.根据权利要求1所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述步骤1包括引出测量件A、测量件B的测量点A、测量点B。


3.根据权利要求1所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述步骤2中，所述十字形基准器包括两个互相垂直的第一平板和第二平板。


4.根据权利要求3所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述第一平板上左右两端测量对接口的中心点为引出点A1、A2或B1、B2。


5.根据权利要求4所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述步骤2还包括所述十字形基准器...

【专利技术属性】
技术研发人员：白雪涛，贺龙，刘连喜，徐子淇，
申请(专利权)人：北京星航机电装备有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11