一种压塞头限位块结构制造技术

技术编号:28268434 阅读:23 留言:0更新日期:2021-04-30 13:01
本实用新型专利技术涉及生产玻璃瓶药业的生产设备,尤其是一种抽真空充氮机用的压塞头限位块结构。该限位块是设在压塞头端部内侧密封圈的下部,该限位块的高度为H;所述限位块高度H=各玻璃瓶高度最小值‑密封圈距离瓶顶高度平均值‑密封圈形变量。本实用新型专利技术的结构可以实现排除因瓶型差异导致设备压塞头位置调整不到位情况。

【技术实现步骤摘要】
一种压塞头限位块结构
本技术涉及生产玻璃瓶药业的生产设备,尤其是一种抽真空充氮机用的压塞头限位块结构。
技术介绍
现有的抽真空充氮机压塞头位置。其抽真空充氮机压塞头位置调整工序是直接影响设备生产过程中产品抽、充工序密封效果,对产品瓶内充氮效果起到重要作用。如图1所示,是现有设备中压塞头位置的调整方法:如图1所示,随机选取生产用瓶,在压塞头1的最低位置,下降压塞头1与玻璃瓶3紧密接触,通过压塞头1端部的内侧设有密封圈2与玻璃瓶的紧密接触进行密封,再锁紧压塞头1的固定螺丝。由于玻璃瓶型高度存在差异,故采用原压塞头位置调整方式,虽然有密封圈2加以密封,但是在实际生产过程中因瓶型差异,瓶子颈部的尺寸往往大小不一,是有变化的,因此无法保证,抽真空充氮机抽、充工序密封效果。
技术实现思路
本技术的目的是克服上述现有技术的缺陷,为排除因瓶型差异导致设备压塞头位置调整不到位情况,采用了压塞头限位块。本技术的具体方案为:一种压塞头限位块结构,该限位块是设在压塞头1端部内侧密封圈2的下部,该限位块的高度为H;所述限位块高度H=各玻璃瓶高度最小值H1(min)-密封圈距离瓶顶高度平均值H2(Avg)-密封圈形变量Δ。进一步的,50ml规格限位块高度H=43.5mm;100ml规格限位块高度H=76.5mm。本技术的结构可以实现排除因瓶型差异导致设备压塞头位置调整不到位情况。附图说明图1是现有压塞头的结构示意图。图2是本技术压塞头限位块结构示意图。<br>1、压塞头;2、密封圈;3-玻璃瓶;4-限位块。具体实施方式下面将结合附图对本技术做进一步说明。如图2所示,一种压塞头限位块结构,该限位块是设在压塞头1端部内侧密封圈2的下部,该限位块的高度为H;所述限位块4高度H=各玻璃瓶3高度最小值H1(min)-密封圈距离瓶顶高度平均值H2(Avg)-密封圈形变量Δ。限位块高度依据如下:①取样各规格瓶100个,测量瓶型高度,选取最低瓶型高度;②取样各规格瓶30个,测量密封圈距离瓶顶高度,计算其平均值;③设定Δ弹簧形变量为0.5mm(可适当调整);④如图2所示:利用计算公式:H限位块高度=H1(min)各玻璃瓶高度最小值-H2(Avg)密封圈距离瓶顶高度平均值-Δ(弹簧形变量)。①Δ(弹簧形变量)值越大即罩杯内预应力亦越大;②测量单位mm。使用时,根据不同规格的玻璃瓶,可使用不同规格高度尺寸的限位块,实现排除因瓶型差异导致设备压塞头位置调整不到位情况。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种压塞头限位块结构,其特征在于,该限位块是设在压塞头端部内侧密封圈的下部,该限位块的高度为H;所述限位块高度H=各玻璃瓶高度最小值-密封圈距离瓶顶高度平均值-密封圈形变量。/n

【技术特征摘要】
1.一种压塞头限位块结构,其特征在于,该限位块是设在压塞头端部内侧密封圈的下部,该限位块的高度为H;所述限位块高度H=各玻璃瓶高度最小值-密封圈距离瓶顶高度平均值-密封圈形变量...

【专利技术属性】
技术研发人员:范侃
申请(专利权)人:上海长征富民金山制药有限公司
类型:新型
国别省市:上海;31

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