一种天线反射面的测量工装及测量系统技术方案

本实用新型专利技术涉及微波天线测试装置技术领域，尤其是涉及一种天线反射面的测量工装及测量系统，以缓解现有技术中存在的测量需要消耗的人工成本大且生产周期长的问题。该天线反射面的测量工装，包括：标准靠板；标准靠板的测量侧设置为圆弧形曲面，圆弧形曲面的曲率与尺寸与待测天线反射面的曲率与尺寸相同；标准靠板沿圆弧形曲面的边缘布设有多个位移传感器。本实用新型专利技术提供的技术方案有利于减小人工成本和提高测量效率。和提高测量效率。和提高测量效率。

【技术实现步骤摘要】
一种天线反射面的测量工装及测量系统


[0001]本技术涉及微波天线测试装置
，尤其是涉及一种天线反射面的测量工装及测量系统。

技术介绍

[0002]随着通讯技术的不断进步，微波通讯天线在通讯中的应用越来越广泛。微波天线信号传输的距离越远，抛物面的口径要求也越大，对天线抛物面制造精度的要求也越严格。因此，在大口径微波通讯天线抛物面生产时，需要对天线反射面的精度进行准确的测量分析以决定后续是否继续生产。
[0003]现有技术主要是采用靠板加塞尺的方式测量抛物面与标准靠板的精度误差：根据曲率大小在标准靠板上分布若干个测试点，将靠板放入抛物面中，测量人员爬进天线抛物面中，用塞尺测量每个点的抛物面与靠板之间的缝隙，手工记录数值，再输入电脑中计算均方根，得出曲线精度误差范围。采用这种方法完成一件大口径抛物面精度的测量，一般需要两个人配合，且需要耗费5
‑
6小时。随着天线口径的增大，测量时需要测量的点位也会相应增多，这更加增大了人工成本和生产周期。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种天线反射面的测量工装及测量系统，以缓解现有技术中存在的测量需要消耗的人工成本大且生产周期长的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术提供的技术方案在于：
[0006]第一方面，本技术提供了一种天线反射面的测量工装，包括：标准靠板；
[0007]所述标准靠板的测量侧设置为圆弧形曲面，所述圆弧形曲面的曲率与尺寸与待测天线反射面的曲率与尺寸相同；
[0008]所述标准靠板沿所述圆弧形曲面的边缘布设有多个位移传感器。
[0009]更进一步地，
[0010]所述标准靠板底面的测量点位处设置有开口，所述位移传感器的触头设置于所述开口内；
[0011]所述触头能够在所述开口内沿所述开口的开口方向移动；
[0012]所述触头用于测量所述标准靠板和所述待测天线反射面之间的距离。
[0013]更进一步地，
[0014]所述触头的形状为圆锥。
[0015]更进一步地，
[0016]所述标准靠板的靠近所述开口处连接有支座，所述位移传感器通过所述支座连接于所述标准靠板。
[0017]更进一步地，
[0018]所述标准靠板的中部靠近底面位置处连接有定位座；
[0019]所述定位座包括顶部的加强板、中部的第一圆柱座和底部的第二圆柱座，所述第一圆柱座的底面直径大于所述第二圆柱座的底面直径。
[0020]更进一步地，
[0021]还包括校准件，所述校准件顶面的曲率与尺寸与所述待测天线反射面的曲率与尺寸相同；
[0022]校准状态下，所述标准靠板和所述校准件通过第一定位结构相抵接；
[0023]测量状态下，所述标准靠板与所述待测天线反射面通过第二定位结构相抵接。
[0024]更进一步地，
[0025]所述第一定位结构包括设置于所述第二圆柱座底面的凹槽和设置于所述校准件顶面的凸起，所述凸起伸入所述凹槽内使得所述标准靠板和所述校准件抵接。
[0026]更进一步地，
[0027]所述第二定位结构包括所述第一圆柱座、所述第二圆柱座和所述待测天线反射面的中心孔，所述中心孔的直径大于所述第二圆柱座的底面直径且小于所述第一圆柱座的底面直径；
[0028]所述第二圆柱座伸入所述中心孔内，所述第一圆柱座抵靠于所述待测天线反射面。
[0029]更进一步地，
[0030]所述标准靠板表面开设有减重孔。
[0031]第二方面，本技术提供了一种测量系统，包括第一方面述及的天线反射面的测量工装，还包括测量仪器，所述位移传感器与所述测量仪器电连接，所述测量仪器用于读取并显示所述标准靠板和所述待测天线反射面之间的距离。
[0032]本技术实施例带来了以下有益效果：
[0033]由于本技术提供了一种天线反射面的测量工装，包括：标准靠板；所述标准靠板的测量侧设置为圆弧形曲面，所述圆弧形曲面的曲率与尺寸与待测天线反射面的曲率与尺寸相同；所述标准靠板沿所述圆弧形曲面的边缘布设有多个位移传感器。
[0034]在对天线反射面的精度进行测量时，只需将标准靠板的测量侧放置于待测天线反射面上，通过位移传感器进行测量读数，即可得出待测天线反射面的精度误差。
[0035]采用本技术提供的工装进行测量，可以快速精准的确定待测抛物面尺寸与设计的标准抛物面尺寸的差值，不需要测量人员爬进天线抛物面中，用塞尺逐点测量并手工记录数值，改善了测量人员的工作条件，且可以一次性完成多个点位的尺寸测量，减小了人工成本，提高了测量效率。
[0036]为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或相关技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0038]图1为本技术实施例提供的校准状态下标准靠板和校准件的结构示意图；
[0039]图2为本技术实施例提供的测量状态下标准靠板与待测天线反射面的结构示意图；
[0040]图3为本技术实施例提供的图1中A处位移传感器的局部放大图；
[0041]图4为本技术实施例提供的图1中B处定位座的局部放大图。
[0042]图标：
[0043]100
‑
标准靠板；110
‑
位移传感器；111
‑
触头；120
‑
开口；
[0044]130
‑
支座；140
‑
定位座；141
‑
加强板；142
‑
第一圆柱座；
[0045]143
‑
第二圆柱座；150
‑
减重孔；160
‑
支撑架；
[0046]200
‑
校准件；300
‑
待测天线反射面；310
‑
中心孔。
具体实施方式
[0047]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0048]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步的定义和解释。
[0049]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线反射面的测量工装，其特征在于，包括：标准靠板(100)；所述标准靠板(100)的测量侧设置为圆弧形曲面，所述圆弧形曲面的曲率与尺寸与待测天线反射面(300)的曲率与尺寸相同；所述标准靠板(100)沿所述圆弧形曲面的边缘布设有多个位移传感器(110)。2.根据权利要求1所述的天线反射面的测量工装，其特征在于，所述标准靠板(100)底面的测量点位处设置有开口(120)，所述位移传感器(110)的触头(111)设置于所述开口(120)内；所述触头(111)能够在所述开口(120)内沿所述开口(120)的开口方向移动；所述触头(111)用于测量所述标准靠板(100)和所述待测天线反射面(300)之间的距离。3.根据权利要求2所述的天线反射面的测量工装，其特征在于，所述触头(111)的形状为圆锥。4.根据权利要求2所述的天线反射面的测量工装，其特征在于，所述标准靠板(100)的靠近所述开口(120)处连接有支座(130)，所述位移传感器(110)通过所述支座(130)连接于所述标准靠板(100)。5.根据权利要求1所述的天线反射面的测量工装，其特征在于，所述标准靠板(100)的中部靠近底面位置处连接有定位座(140)；所述定位座(140)包括顶部的加强板(141)、中部的第一圆柱座(142)和底部的第二圆柱座(143)，所述第一圆柱座(142)的底面直径大于所述第二圆柱座(143)的底面直径。6.根据权利要求5所述的天线反射面的测量工装，其特征在于，还包括校准件(200)，所述校准件(...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴亚鸣，姬学现，赵祉一，张玉波，武丰，
申请(专利权)人：摩比天线技术深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：