一种观测纳米材料的支架制造技术

本实用新型专利技术涉及观测设备制造技术领域，尤其涉及一种观测纳米材料的支架。包括采用设置有镜柱、载物板、观察灯的配合，实现了当有较多个纳米材料同时需要观测时，将待观测的纳米材料按照观测顺序从下往上依次放置到载物板上，转动最下侧载物板，使限位块在转动槽滑动，到达第一滑动槽位置后将载物板下滑，使载物板到达限位槽位置，开启观察灯通过透光孔照射到待观测的纳米材料上，通过目镜对纳米材料进行观测后在最下侧转动槽转动载物板，使限位块到达第二滑动槽后下滑，放到载物台上，观测下一个载物板上纳米材料的功能，解决了每次只能对一个纳米材料进行观测，料费时费力且容易在多个纳米材料更换观测的过程中出现重复观测或记录错误的问题。录错误的问题。录错误的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种观测纳米材料的支架


[0001]本技术涉及观测设备制造
，尤其涉及一种观测纳米材料的支架。

技术介绍

[0002]纳米材料生产过程中需要时时观察检测，以保证纳米材料的生产合规符合标准，对纳米材料的观测会同时需要对多个产品进行抽样检测，通常使用的观测仪器每次只能对一个纳米材料进行观测，进行记录后取下纳米材料更换下一个需要观测的纳米材料，料费时费力且容易在多个纳米材料更换观测的过程中出现重复观测或记录错误。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题，是针对上述存在的技术不足，提供了一种观测纳米材料的支架，采用设置有镜柱、镜座、载物台、载物板、观察灯的配合，实现了当有较多个纳米材料同时需要观测时，将放置有待观测的纳米材料按照观测顺序从下往上依次放置到载物板上，夹在压片夹下，观测时，转动最下侧载物板，使限位块在转动槽滑动，到达第一滑动槽位置，后将载物板下滑，使限位块在第一滑动槽向下滑动，使载物板到达载物台限位槽位置被限位，开启观察灯，灯光通过透光孔照射到待观测的纳米材料上，后通过目镜对纳米材料进行观测，观测结束后在最下侧转动槽转动载物板，使限位块到达第二滑动槽位置后下滑，放置到载物台上，后观测下一个载物板上的纳米材料，方便有序节省时间的功能，解决了使用的观测仪器每次只能对一个纳米材料进行观测，进行记录后取下纳米材料更换下一个需要观测的纳米材料，料费时费力且容易在多个纳米材料更换观测的过程中出现重复观测或记录错误的问题。
[0004]为解决上述技术问题，本技术所采用的技术方案是：包括镜柱、镜座、载物台、镜筒、目镜、物镜；所述镜柱竖直方向等距设置有多个转动槽；所述镜柱靠近载物台一侧设置有第一滑动槽；所述镜柱相对第一滑动槽相反方向一侧下部设置有第二滑动槽；所述镜柱上设置有多个载物板；所述载物板与镜柱连接处设置有限位块；所述限位块分别与转动槽、第一滑动槽、第二滑动槽之间采用滑动连接；所述载物板上侧设置有两个压片夹；所述载物板一侧中部设置有透光孔；所述载物台相对于载物板位置设置有限位槽。
[0005]进一步优化本技术方案，所述第一滑动槽内竖直方向等距设置有多个弹簧卡球；所述弹簧卡球位于第一滑动槽与转动槽相交处下侧设置。
[0006]进一步优化本技术方案，所述限位槽内相对于透光孔位置设置有观察灯。
[0007]与现有技术相比，本技术具有以下优点：设置有镜柱、镜座、载物台、载物板、观察灯的配合，实现了当有较多个纳米材料同时需要观测时，将放置有待观测的纳米材料按照观测顺序从下往上依次放置到载物板上，夹在压片夹下，观测时，转动最下侧载物板，使限位块在转动槽滑动，到达第一滑动槽位置，后将载物板下滑，使限位块在第一滑动槽向下滑动，使载物板到达载物台限位槽位置被限位，开启观察灯，灯光通过透光孔照射到待观测的纳米材料上，后通过目镜对纳米材料进行观测，观测结束后在最下侧转动槽转动载物
板，使限位块到达第二滑动槽位置后下滑，放置到载物台上，后观测下一个载物板上的纳米材料，方便有序节省时间。
附图说明
[0008]图1为一种观测纳米材料的支架的整体结构示意图。
[0009]图2为一种观测纳米材料的支架的局部结构放大示意图。
[0010]图3为一种观测纳米材料的支架的局部结构剖面放大示意图。
[0011]图4为一种观测纳米材料的支架的局部结构放大示意图。
[0012]图5为一种观测纳米材料的支架的局部结构放大示意图。
[0013]图6为一种观测纳米材料的支架的载物板结构示意图。
[0014]图中：1、镜柱；2、镜座；3、载物台；4、镜筒；5、目镜；6、物镜；7、载物板；8、弹簧卡球；9、观察灯；101、转动槽；102、第一滑动槽；103、第二滑动槽；301、限位槽；701、限位块；702、压片夹；703、透光孔。
具体实施方式
[0015]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合具体实施方式并参照附图，对本技术进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本技术的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本技术的概念。
[0016]具体实施方式：结合图1
‑
3所示，包括镜柱1、镜座2、载物台3、镜筒4、目镜5、物镜6；所述镜柱1竖直方向等距设置有多个转动槽101；所述镜柱1靠近载物台3一侧设置有第一滑动槽102；所述镜柱1相对第一滑动槽102相反方向一侧下部设置有第二滑动槽103；所述镜柱1上设置有多个载物板7；所述载物板7与镜柱1连接处设置有限位块701；所述限位块701分别与转动槽101、第一滑动槽102、第二滑动槽103之间采用滑动连接；所述载物板7上侧设置有两个压片夹702；所述载物板7一侧中部设置有透光孔703；所述载物台3相对于载物板7位置设置有限位槽301；所述第一滑动槽102内竖直方向等距设置有多个弹簧卡球8；所述弹簧卡球8位于第一滑动槽102与转动槽101相交处下侧设置；所述限位槽301内相对于透光孔703位置设置有观察灯9。
[0017]使用时，结合图1
‑
3所示，当有较多个纳米材料同时需要观测时，将放置有待观测的纳米材料按照观测顺序从下往上依次放置到载物板7上，夹在压片夹702下，观测时，转动最下侧载物板7，使限位块701在转动槽101滑动，到达第一滑动槽102位置，后将载物板7在镜柱1上下滑，将限位载物板7的弹簧卡球8压下，使限位块701在第一滑动槽102向下滑动，使载物板7到达载物台3限位槽301位置被限位，方便快速观察，开启观察灯9，灯光通过透光孔703照射到待观测的纳米材料上，后通过目镜5对纳米材料进行观测记录，观测结束后在最下侧转动槽101转动载物板7，使限位块701到达第二滑动槽103位置后下滑，限位块701在第二滑动槽103内向下滑动，后将载物板7放置到载物台3上，后观测下一个载物板7上的纳米材料，方便有序节省时间。
[0018]应当理解的是，本技术的上述具体实施方式仅仅用于示例性说明或解释本技术的原理，而不构成对本技术的限制。因此，在不偏离本技术的精神和范围的
情况下所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。此外，本技术所附权利要求旨在涵盖落入所附权利要求范围和边界、或者这种范围和边界的等同形式内的全部变化和修改例。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种观测纳米材料的支架，其特征在于：包括镜柱(1)、镜座(2)、载物台(3)、镜筒(4)、目镜(5)、物镜(6)；所述镜柱(1)竖直方向等距设置有多个转动槽(101)；所述镜柱(1)靠近载物台(3)一侧设置有第一滑动槽(102)；所述镜柱(1)相对第一滑动槽(102)相反方向一侧下部设置有第二滑动槽(103)；所述镜柱(1)上设置有多个载物板(7)；所述载物板(7)与镜柱(1)连接处设置有限位块(701)；所述限位块(701)分别与转动槽(101)、第一滑动槽(102)、第二滑动槽(103)之间采用...

【专利技术属性】
技术研发人员：李彬，
申请(专利权)人：河北岱洛新材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：