【技术实现步骤摘要】
一种光开关阵列中光开关的测试与标定系统及方法
[0001]本专利技术涉及光子链路测试
，具体涉及一种光开关阵列中光开关的测试与标定系统及方法。
技术介绍
[0002]光开关可以实现光信号在不同光路上传输的切换，通过多个光开关组合成阵列或网络，能够实现光延时线、光交换机等多种不同器件，在光通信领域有着重要的应用。光开关常见的实现方式多种多样，包括采用微机电系统、二氧化硅平面光路、III
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V族材料以及硅基光电子集成等。
[0003]为了使光延时线、光交换机等系统链路中的光开关实现光路切换，需要将光开关的状态设定到最佳工作点，因此光开关的工作点需要测试与标定。对于单个光开关如图1所示，可以包括MZI模型和MRR模型，可以通过加电压扫描其任一输出端口的光功率，在电压
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光功率的响应曲线上找出其光功率极值所对应的电压值，即为其开关工作点。而对于光延时线、光交换机等系统链路中的光开关，若系统基于分立器件搭建，可以通过单独标定各个光开关的最佳工作点，这种方法虽然能够准确标定每个光开关的状...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光开关阵列中光开关的测试与标定系统，其特征在于，包括：激光光源、待测光开关阵列、光开关控制电源、光功率计和上位机；其中，所述待测光开关阵列包括多个光开关；所述激光光源与所述待测光开关阵列的输入端连接；所述光功率计与所述待测光开关阵列的输出端连接，用于测量所述待测光开关阵列中各个光开关对应的光功率值；所述光开关控制电源与所述待测光开关中各个光开关的控制电极连接，所述上位机用于控制所述光开关控制电源的各通道输出电压以及从所述光功率计读取光功率值；所述上位机用于控制所述光开关控制电源向任一条链状光开关结构的各个光开关输出电压，并扫描各个光开关的第一电压
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光功率响应曲线，确定光功率极值对应的电压，将其设置为各个光开关的第一工作点电压，完成该条链状光开关结构中各个光开关的第一次扫描；所述上位机用于再次控制所述光开关控制电源向任一条链状光开关结构的各个光开关输出电压，并扫描各个光开关的第二电压
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光功率响应曲线，确定光功率极值对应的电压，将其设置为各个光开关的第二工作点电压，完成对各个光开关的第二扫描；重复扫描步骤，直至最后一次扫描的各个光开关的工作点电压与上一次扫描对应的各个光开关的工作点电压差值小于第一预定阈值，或者直至各个光开关的开关消光比均大于第二预定阈值，完成该条链状光开关结构中各个光开关的测试与标定。2.根据权利要求1所述的光开关阵列中光开关的测试与标定系统，其特征在于，所述激光光源向所述待测光开关阵列输出功率恒定的工作波长范围内的单一波长或宽频的连续光信号。3.根据权利要求1所述的光开关阵列中光开关的测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯靖，欧阳伯灵，廖海军，崔乃迪，
申请(专利权)人：联合微电子中心有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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