基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测方法及系统技术方案

技术编号:28220542 阅读:9 留言:0更新日期:2021-04-28 09:42
本发明专利技术公开了基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测方法及系统,该丝线缺陷自动检测方法包括以下步骤:接收设定的缺陷检测条件,所述缺陷检测条件包括检测模块长度以及预设缺陷条件的信息;接收丝线缺陷在线检测设备发送的数据,并且根据所述检测设备发送的数据,判断当前检测的丝线的表面上在所述检测模块长度内是否出现所述预设缺陷条件的缺陷,如是,发出报警信息;本发明专利技术基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测方法及系统,采用衍射法测量细丝的直径,比用常规的螺旋测微器法精度更高,前者为0.0001mm,后者为0.001mm,同时在单缝衍射实验中,用衍射法测量细丝的直径比测量狭缝的宽度,对彰显“衍射法测量微小量”更直观。更直观。更直观。

【技术实现步骤摘要】
基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及丝线缺陷检测
,具体为基于光学衍射原理的丝线缺 陷自动检测方法及系统。

技术介绍

[0002]波可以绕过障碍物继续传播,这种现象叫做波的衍射。即在障碍物的边 缘,一些波偏离直线传播而进入障碍物后面的“阴影区”的现象。遥感传感 器中的一些分光部件就是运用多孔衍射原理达到了分光的目的;
[0003]按照惠更斯原理,波面上的每一点都可以看做子波的波源,位于狭缝的 点也是子波的波源,因此,波自然可以到达挡板后的位置。惠更斯原理只能 解释波的传播方向,不能解释波的强度,所以无法说明衍射现象与狭缝或障 碍物的大小的关系。
[0004]就声光衍射而言,依实验条件不同,出现两种不同的衍射现象:

当超 声波的频率不太高,且光束穿越声场的作用距离较小的情况下,声波引起媒 质折射率的周期性变化起着相位光栅的作用,使通过的光束产生多级衍射, 分布在出射光束两侧,此现象是C.V.曼和N.S.纳根德拉
·
纳特首先提出的, 称为曼

纳特衍射;

当超声波频率较高,且光束穿越声场的作用距离较大的 情况下,类似于X射线在点阵上的衍射作用,光束通过声场以后,在出射光束 的一侧出现较强的一级衍射光,服从布拉格父子提出的理论,称为布拉格衍 射。不管在哪一种衍射的情况下,衍射光束都要产生偏转、频移和强度变化, 变化的量值则随声波的强度、波长和传播速度等参量而改变。声光作用的应 用就是利用衍射光束的这些性质来实现的;
[0005]而光的衍射现象是光波动眭的一个重要标志。单缝衍射是指光波在传播 过程中遇到障碍物时,当障碍物(小孔、狭缝、毛发、细针等)的线度与光的 波长相差不多时,所发生的偏离直线传播的现象。即光可绕过障碍物,传播 到障碍物的几何阴影区域中,并在障碍物后的观察屏上呈现出光强的不均匀 分布,通常称为衍射图样,光的衍射在近代科学技术中已获得了极其重要的 应用。但是,大学物理实验中的“单缝衍射实验”多数只针对单缝衍射的光 强分布及单缝宽度的测量,较少涉及更具体、直观的应用。因此,提出一种 基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测方法及系统。

技术实现思路

[0006]针对现有技术的不足,本专利技术提供了基于光学衍射原理的丝线缺陷自动 检测方法及系统,解决了目前丝线缺陷检测手段较为单一,不够精确,的问 题。
[0007]本专利技术提供如下技术方案:基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测方法 及系统,该丝线缺陷自动检测方法包括以下步骤:
[0008]步骤一、接收设定的缺陷检测条件,所述缺陷检测条件包括检测模块长 度以及预设缺陷条件的信息;
[0009]步骤二、接收丝线缺陷在线检测设备发送的数据,并且根据所述检测设 备发送的
数据,判断当前检测的丝线的表面上在所述检测模块长度内是否出 现所述预设缺陷条件的缺陷,如是,发出报警信息。
[0010]优选的,所述预设缺陷条件包括以下至少一种:大于第一粒径的第一粒 子数量大于第一数值、大于第二粒径且小于所述第一粒径的第二粒子数量大 于第二数值。
[0011]优选的,该丝线缺陷自动检测系统由缺陷检测条件接收模块、决策模块、 警报模块组成。
[0012]优选的,所述缺陷检测条件接收模块用于接收设定的缺陷检测条件,所 述缺陷检测条件包括检测模块长度以及预设缺陷条件的信息。
[0013]优选的,所述决策模块用于接收丝线缺陷在线检测设备发送的数据,并 且根据所述检测设备发送的数据,判断当前检测的丝线的表面上在所述检测 模块长度内是否出现所述预设缺陷条件的缺陷。
[0014]优选的,所述警报模块在确定当前检测的丝线的表面上在所述检测模块 长度内出现所述预设缺陷条件的缺陷时,发出报警信息。
[0015]优选的,所述预设缺陷条件包括以下至少一种:大于第一粒径的第一粒 子数量大于第一数值、大于第二粒径且小于所述第一粒径的第二粒子数量大 于第二数值、所检测的漏电流大于预设漏。
[0016]该丝线缺陷自动检测系统利用光学衍射原理检测方法对丝线缺陷进行检 测,该光学衍射原理检测方法包括以下步骤:
[0017]步骤一、调整激光器,使激光束沿水平方向且平行于光学平台上的米尺;
[0018]步骤二、参照实验装置图,调节扩束镜及准直透镜以获得一扩束的平行 光,且光束平行于米尺;
[0019]步骤三、依次放入其他光学元件,并调节等高共轴;
[0020]步骤四、适当调节狭缝2的宽度并调节其左右位置,使狭缝2的一直边 屏挡住狭缝1衍射光一侧一级以上的衍射条纹,让零级光通过并照射待测细 丝;
[0021]步骤五、调节测微目镜的左右位置,使目镜观测到狭缝2直边屏挡光的 一测,并在目镜前用遮光屏挡住细丝衍射的零级光;
[0022]步骤六、适当调节狭缝2和待测细丝的左右位置以及细丝与狭缝2的平 行度,同时可适当调节狭缝1的宽度,以获得更清晰的衍射条纹及合适的视 场亮度;
[0023]步骤七、用测微目镜测量细丝衍射暗纹间距s,要求测量多个暗纹间距再 求平均;从米尺测出细丝到测微目镜的距离£;
[0024]步骤八、用求出细丝直径d。
[0025]与现有技术对比,本专利技术具备以下有益效果:该基于光学衍射原理的丝 线缺陷自动检测方法及系统,采用衍射法测量细丝的直径,比用常规的螺旋 测微器法精度更高,前者为0.0001mm,后者为0.001mm,同时在单缝衍射实 验中,用衍射法测量细丝的直径比测量狭缝的宽度,对彰显“衍射法测量微 小量”更直观。
附图说明
[0026]图1为本专利技术的基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测方法及系统的整 体结构示意图;
[0027]图2为本专利技术细丝产生的衍射图;
[0028]图3为本专利技术单缝衍射原理图。
具体实施方式
[0029]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行 清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而 不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做 出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0030]请参阅图1

3,基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测方法及系统,该丝 线缺陷自动检测方法包括以下步骤:
[0031]步骤一、接收设定的缺陷检测条件,所述缺陷检测条件包括检测模块长 度以及预设缺陷条件的信息;
[0032]步骤二、接收丝线缺陷在线检测设备发送的数据,并且根据所述检测设 备发送的数据,判断当前检测的丝线的表面上在所述检测模块长度内是否出 现所述预设缺陷条件的缺陷,如是,发出报警信息。
[0033]预设缺陷条件包括以下至少一种:大于第一粒径的第一粒子数量大于第 一数值、大于第二粒径且小于所述第一粒径的第二粒子数量大于第二数值。
[0034]该本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测方法,其特征在于:该丝线缺陷自动检测方法包括以下步骤:步骤一、接收设定的缺陷检测条件,所述缺陷检测条件包括检测模块长度以及预设缺陷条件的信息;步骤二、接收丝线缺陷在线检测设备发送的数据,并且根据所述检测设备发送的数据,判断当前检测的丝线的表面上在所述检测模块长度内是否出现所述预设缺陷条件的缺陷,如是,发出报警信息。2.根据权利要求1所述的基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测方法,其特征在于:所述预设缺陷条件包括以下至少一种:大于第一粒径的第一粒子数量大于第一数值、大于第二粒径且小于所述第一粒径的第二粒子数量大于第二数值。3.根据权利要求1所述的基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测系统,其特征在于,该丝线缺陷自动检测系统由缺陷检测条件接收模块、决策模块、警报模块组成。4.根据权利要求3所述的基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测系统,其特征在于:所述缺陷检测条件接收模块用于接收设定的缺陷检测条件,所述缺陷检测条件包括检测模块长度以及预设缺陷条件的信息。5.根据权利要求3所述的基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测系统,其特征在于:所述决策模块用于接收丝线缺陷在线检测设备发送的数据,并且根据所述检测设备发送的数据,判断当前检测的丝线的表面上在所述检测模块长度内是否出现所述预设缺陷条件的缺陷。6.根据权利要求3所述的基于光学衍射原理的丝线缺陷自动检测系统,其特征在于:所述警报模块在确定当...

【专利技术属性】
技术研发人员:柴春来邢建国
申请(专利权)人:无锡瑞特思普智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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