应用于电子装置的完整性检查方法及相应电路制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种应用于电子装置的完整性检查方法及相应电路。该方法包含：撷取外部数据的至少一部分至特定存储器，其中外部数据储存于电子装置；在撷取外部数据中至少一部分至特定存储器的期间中，检查在特定存储器中已撷取数据的大小是否达到预定值，其中预定值小于外部数据的全部大小；以及当在特定存储器中已撷取数据的大小达到预定值，使能已撷取数据的完整性检查。通过实施本发明专利技术，可提高进行完整性检查所需的操作期间内的效率，也可加强上述电子装置的安全性，同时上述电子装置可以通过低成本的嵌入式系统来实现。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子装置的安全性，特别是有关电子装置的完整性检查方法 及其相关电路。
技术介绍
在安全性的考虑下，对最新的光学储存装置，例如蓝光光驱(Blu-my drive, BD drive)以及高解析数字多用途光驱(High definition digital versatile disc, HD-DVD)而言，避免控制相关数据被更改或是检查控制相关数据是否被更 改是必要的。控制相关数据(如:固件码，Firmware code)的完整性检查是解 决此问题的一种方法。对光学储存装置而言，因为面对用来掌管光学储存装置的主机装置(例 如在个人计算机内主机板上的控制器/控制电路)需要快速的反应时间，因此 使用与个人计算机中基本输入输出系统(BIOS) —样的方法来执行光学储存 装置中控制相关数据的完整性检査并不适当。如果主机装置在一预定时间间 隔内(例如数百毫秒)没有接收到光学储存装置发出的响应，光学储存装置 会被视为无法使用而导致无法作业。依据相关技术，控制相关数据一般是被储存于存取速度被认定不够快速 的存储器中(例如非易失性存储器)，控制相关数据首先全部被撷取至位于光 学储存装置内的一较快速的存储器，例如动态随机存储器(Dynamic random access memory, DRAM)或是静态随机存储器(Static random access memory, SRAM)中，因此控制相关数据的完整性检查会在上述较快速的存储器中执行。 然而，如果光学储存装置需要被赋予更多的功能或是改良的功能，控制相关数据的容量会过大以致无法在要求时间内完成检査。因此，控制相关数据可 能在进行完整性检査之前就被使用，这意味着光学储存装置的安全性会非常弱。
技术实现思路
为了克服现有技术中存在的上述技术问题，本专利技术提供一种应用于电子 装置的完整性检查方法及用于对电子装置进行完整性检査的电路。本专利技术揭示一种应用于电子装置的完整性检查方法，包含撷取外部数 据中至少一部分至特定存储器，其中所述外部数据是储存于电子装置；在撷 取所述外部数据中所述至少一部分至所述特定存储器期间，检查所述特定存 储器中所述已撷取数据的大小是否达到预定值，其中所述预定值小于所述外 部数据的全部大小；以及当所述特定存储器中所述已撷取数据的大小达到所述预定值时，使能(enable)所述已撷取数据的完整性检查。本专利技术揭示一种用于对电子装置进行完整性检查的电路的实施例包含 特定存储器，用来储存外部数据中至少一部分，其中所述外部数据储存于电 子装置中；以及微处理器，耦接于所述特定存储器，用来撷取所述外部数据 中所述至少一部分至所述特定存储器，其中在撷取所述外部数据中所述至少 一部分至所述特定存储器期间，所述微处理器检查所述特定存储器中所述已 撷取数据的大小是否达到预定值，且所述预定值是小于所述外部数据的全部 大小；其中当所述特定存储器中所述已撷取数据的大小达到所述预定值时，所述微处理器使能所述已撷取数据的完整性检查。通过实施本专利技术，可提高进行完整性检查所需的操作期间内的效率，也 可加强上述电子装置的安全性，同时上述电子装置可以通过低成本的嵌入式 系统来实现。附图说明图1是本专利技术提供一实施例有关完整性检查方法的流程图。图2是用以进行完整性检查方法的相应电路示意图。图3是本专利技术提供实施例有关完整性检查方法的流程图。图4是显示执行图3所示完整性检查方法时，从非易失性存储器中撷取数据的示意图。图5是本专利技术提供实施例有关完整性检查方法的流程图。图6为可用来进行图5所示完整性检查方法的电路的示意图。图7是显示本专利技术实施例中图1、图3或是图5所示取得步骤中提及的储存于非易失性存储器中的数据的一特定部分的示意图。具体实施例方式本专利技术提供的完整性检查方法可以应用在市面上大范围的电子装置，例 如光学储存装置、移动电话以及个人数字助理(Personal digital assistants,PDAs)。特别是，依据本专利技术提供的某些实施例，这些电子装置可为一嵌入式系统。请参考图1以及图2，图1为依据本专利技术一实施例应用于如上所述电子装 置(例如光学储存装置)的完整性检查方法910的流程图。图2为可用来 进行完整性检查方法910的相应电路100的示意图。电路100位于如图1所 示完整性检査方法910所应用的电子装置内，特别是，依据本实施例，此电 子装置可为一嵌入式系统。依据本实施例，电路100包含有芯片110以及非易失性存储器，例如闪 存120 (例如平行闪存或是串行闪存)，且芯片110包含有只读存储器(Read Only Memory, ROM) 112、微处理器114以及动态随机存储器(Dynamic Random Access Memory, DRAM) 116。微处理器114可用来依据如图1所示 的完整性检查方法910来执行用来控制完整性检査的完整性检查程序代码， 其中保护完整性检查程序代码以避免被更改。此外，本实施例中完整性检查 程序代码是由包含有一启动程序代码以及上述完整性检查程序代码的只读存储器程序代码来实现，其中启动程序代码以及完整性检查禾呈序代码均储存于只读存储器112之内，图1所示的完整性检査方法910描述如下。完整性检查方法910始于步骤910S;在步骤912中，取^f寻储存于电子装置内非易失性存储器中一数据的初始位置以及数据长度，依据本实施例，非 易失性存储器为闪存120。此外，储存在如图2所示闪存120中的数据120D 包含有固件启动程序代码(可以简单地表示为如图2所示启动程序代码)、"主 循环启动(main loop startup)以及检查流程"程序代码(可以简单地表示为 如图2所示主循环启动以及检査流程)以及一些其它数据。依据本专利技术提供的优选实施例，仅预定检查部分数据120D，部分数据 120D可以是启动程序代码以及位于数据120D内的程序代石马，因此上述初始 位置以及数据长度是对应于位于数据120D内的启动程序代码以及"主循环启 动以及检查流程"程序代码。依据另一可选的优选实施例，储存于闪存120 中整个的数据-120D全部预定要被检査，因此上述初始位置以及数据长度对应 于整个数据120D。在包含步骤914以及步骤916的回圈中，完整性检查方法910开始撷取 储存在非易失性存储器中的数据至一特定存储器中。依据本实施例，此特定 存储器为图2所示的动态随机存储器116，因此步骤914撷取储存在非易失性 存储器(例如闪存120)中的数据至动态随机存储器116。在这里，因为闪存 120中的数据120D不在此特定存储器内，储存在闪存120中的数据120D被 视为特定存储器(在本实施例中即动态随机存储器116)的一外部数据。依据 上述有关步骤912的不同实施选择，外部数据的至少一部分(即储存于闪存 120的数据120D)是预定要被检查，即表示预定要被检査的数据位于一部分 外部数据中。在依据本实施例、包含步骤914以及步骤916的循环中，在撷取一部分 外部数据至特定存储器的期间，步骤916检査特定存储器(即动态随机存储 器116)中已撷取数据的大小是否达到一预定值Dthl，其中预定值Dthl小于整个外部数据的大小。在步骤916中，如果特定存储器中被撷取数据本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种应用于电子装置的完整性检查方法，其特征在于，所述方法包含：　撷取外部数据中至少一部分至特定存储器，其中所述外部数据储存于电子装置；　在撷取所述外部数据中所述至少一部分至所述特定存储器期间，检查所述特定存储器中所述已撷取数据的大小是否达到预定值，其中所述预定值小于所述外部数据的全部大小；以及　当所述特定存储器中所述已撷取数据的大小达到所述预定值时，使能所述已撷取数据的完整性检查。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：陈炳盛，赵铭阳，许绩群，张尧敦，吴哲宏，
申请(专利权)人：联发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[]