【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及 一 种集成电路制造流程,尤其是与可制造性设计(design for manufacturing, DFM )系纟克有关,更净争别的是与集成电 ^各设计与制造的良率评估有关。
技术介绍
可制造性设计是一种在产品设计流程中强调制造i果题的开发 方式。成功的DFM结果可以乂人早期i殳计阶,殳就可降4氐制造成本而 不会牺4生产品品质。现在有越来越多的DFM意识设计。在设计阶段,中介设计一 般都会离线以执行DFM检查来确保设计符合DFM,并且在找到问 题时修正设计。在实现全芯片制作的过程中,重新设计的情形也需 要执行与重复额外的设计签结(sign-off)分析。举例来说,这些步 骤浪费时间和资源在执行重复的集成电^各的实体分析,像是重新特 性化智能财产(IP) /细胞元(cell)等。如果设计者可以评估设计制造考虑,举例来说,决定设计的良 率(yield),在早期设计开发阶段决定是否采用的设计等,将有助 于才是升成本岁丈率。然而,如果真的有良率i平估工具在一DFM平台, 它们只能分析一个时点的良率,而i殳计组件库不可能定期地^'务改不 同时点的不同良率,更 ...
【技术保护点】
一种设计系统,包含: 设计组件库,实体上仅包含非时依性数据; 可制造性设计(DFM)数据套件,实质上仅包含时依性数据;以及 工具,用以读取非时依性数据与时依性数据,以便进一步分析与应用。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:傅宗民,郑仪侃,
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。