一种反射率测量装置制造方法及图纸

本申请适用于光电测量技术领域，提供了一种反射率测量装置，包括用于固定样品的位置与姿态的样品架、与样品架相对设置的积分球、用于承载样品架和积分球的第一导轨，以及分别设置于第一导轨的两侧的光源和亮度仪；积分球的与光源相对的一侧开设有采光孔，积分球的与亮度仪相对的一侧开设有探测孔，光源发出的光能够穿过采光孔照射样品，且亮度仪能够通过探测孔探测样品。通过设置第一导轨，能够方便地移动样品架和积分球，控制积分球和样品架之间的距离，反射率测量装置可以兼具镜面反射测量和漫反射测量的功能；通过采光孔和探测孔在漫反射测量状态下与样品架的位置关系，可以方便地获知测试漫反射率时光源和亮度仪的正确方位。获知测试漫反射率时光源和亮度仪的正确方位。获知测试漫反射率时光源和亮度仪的正确方位。

【技术实现步骤摘要】
一种反射率测量装置


[0001]本申请涉及光电测量
，特别涉及一种反射率测量装置。

技术介绍

[0002]材料表面反射率作为表征材料辐射特性的物理量，是非常重要的参数，其对于材料的诸多功能性参数都具有决定性的影响，大到航空航天设备的辐射防护与热防护，小到传感器的设计与制造，都需要对相关材料表面的反射率进行测试测量。
[0003]随着科学技术的发展，显示设备的相关技术日新月异。其中，对于OLED(OrganicLight
‑
Emitting Diode，有机发光半导体)、液晶显示屏等利用了光的偏振原理的显示设备，在其设计与生产过程中，均需要对其不同入射角度、方向下的镜面反射率和漫反射率等诸多反射性能参数进行检测。然而，由于镜面反射率测量和漫反射率测量的几何条件不同，传统的反射率测量设备不能兼具镜面反射率测量和漫反射率测量的功能。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于提供一种反射率测量装置，旨在解决传统的反射率测量装置不能兼具镜面反射率测量和漫反射率测量的功能的技术问题。
>[0005]本申请本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种反射率测量装置，其特征在于，包括用于固定样品的位置与姿态的样品架、与所述样品架相对设置的积分球、用于承载所述样品架和所述积分球的第一导轨，以及分别设置于所述第一导轨的两侧的光源和亮度仪；所述积分球的与所述光源相对的一侧开设有采光孔，所述积分球的与所述亮度仪相对的一侧开设有探测孔，所述光源发出的光能够穿过所述采光孔照射所述样品，且所述亮度仪能够通过所述探测孔探测所述样品。2.如权利要求1所述的反射率测量装置，其特征在于，所述第一导轨采用直线导轨，所述第一导轨与所述光源相对的一侧和/或所述第一导轨与所述亮度仪相对的一侧设置有长度刻度尺。3.如权利要求1所述的反射率测量装置，其特征在于，所述反射率测量装置还包括用于承载所述亮度仪和/或所述光源的第二导轨，所述第二导轨采用弧形导轨；所述样品架设置于所述第一导轨上的固定位置，且所述样品架位于所述第二导轨对应的弧形的圆心处。4.如权利要求3所述的反射率测量装置，其特征在于，所述第二导轨的背对所述样品架的一侧设置有角度刻度尺。5.如权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟铁涛，孙琴，霍丙忠，李祖华，
申请(专利权)人：深圳市三利谱光电科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：