一种电子器件检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于一种检测装置，具体是涉及到一种电子器件检测装置，包括壳体和器件载体，壳体上设置有滑槽，器件载体滑动设置在滑槽上，器件载体上设置有安装电子器件的安装卡位，壳体的滑槽内朝向安装卡位设置有若干个温度传感器，若干个温度传感器与电子器件的若干发热部位对应设置，或者，若干个温度传感器呈阵列排布设置，本实用新型专利技术通过滑动设置器件载体，并且在滑槽内壁设置若干个与电子器件发热部位对应或者呈阵列排布的温度传感器，在对待测电子器件进行测试的过程中，通过全方位监控电子器件的温度变化认定或者佐证电子器件的是否正常，同时，温度传感器与待测位置点对点测温，具有定位效果，便于对应传感器与预设温度的对比。度的对比。度的对比。

【技术实现步骤摘要】
一种电子器件检测装置


[0001]本技术属于一种检测装置，具体是涉及到一种电子器件检测装置。

技术介绍

[0002]目前有些传统电子器件，例如芯片、主板等的检验方法是人工或者半自动检验方式，每一检验项目都需要人工操作，有些电子器件是新兴的技术，需要对检验人员有较高的技术素养，并且人工或者半自动的检测存在很大的不确定性因素，从而导致产品可能在检验后遗漏检验项目，导致产品存在质量隐患，另外，特别是对于结构尺寸较大的电子器件，需要检验的项目较多，在电子器件出现检验异常的情况无法直接判断异常情况，从而降低了产品的检验效率。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是提供一种能够检验电子器件各个位置是否正常，且检验效率高的电子器件检测装置。
[0004]本技术的内容包括壳体和器件载体，所述壳体上设置有滑槽，器件载体滑动设置在滑槽上，所述器件载体上设置有安装电子器件的安装卡位，所述壳体的滑槽内朝向安装卡位设置有若干个温度传感器，若干个温度传感器与电子器件的若干发热部位对应设置，或者，若干个温度传感器呈阵列排布设置。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子器件检测装置，其特征是，包括壳体(1)和器件载体(3)，所述壳体(1)上设置有滑槽(2)，器件载体(3)滑动设置在滑槽(2)上，所述器件载体(3)上设置有安装电子器件的安装卡位(301)，所述壳体(1)的滑槽(2)内朝向安装卡位(301)设置有若干个温度传感器(5)，若干个温度传感器(5)与电子器件的若干发热部位对应设置，或者，若干个温度传感器(5)呈阵列排布设置。2.如权利要求1所述的电子器件检测装置，其特征是，若干个温度传感器(5)呈矩形阵列设置，呈矩形阵列设置的若干个温度传感器(5)尺寸大于电子器件的外形尺寸。3.如权利要求2所述的电子器件检测装置，其特征是，呈矩形阵列设置的若干个温度传感器(5)彼此之间相距1
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3mm。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：王湘明，贺厅，
申请(专利权)人：湖南常德牌水表制造有限公司，
类型：新型
国别省市：