一种金属线镀层厚度的测试方法技术

本发明专利技术提供一种金属线镀层厚度的测试方法。本发明专利技术的测试方法，通过夹具将金属线样品先进行固定，然后再进行填充固化剂进行固化，并且还通过矫正公式对其进行矫正，可以简单、精确地对金属线镀层进行测量，可操作性强，对实验人员和环境无害。实验人员和环境无害。实验人员和环境无害。

【技术实现步骤摘要】
一种金属线镀层厚度的测试方法


[0001]本专利技术涉及测试分析
，具体涉及一种金属线镀层的测试方法。

技术介绍

[0002]镀层厚度是衡量镀层产品品质的重要指标之一。镀层厚度的测量方法有许多种，其中显微镜法测量比较直观，重现性好，所以得到广泛应用。然而显微镜法镀层厚度测试的制样方法描述较系统，都是比较概括性的，一般是粗糙地裁剪截面、磨抛和测量。
[0003]金属线较软，容易变形，仅仅粗糙地裁剪截面也会导致镀层界面不清晰，无法测量；若采用传统热镶嵌方法、金属线也无法垂直放置于模具中镶嵌，并且热和压力作用会导致金属线形变，无法获得测量截面。专利CN110926399A公开了一种金属细丝超薄金属镀层厚度测试方法，主要针对直径小于20μm，镀层厚度小于0.2μm镀层厚度，并且需要采用化学方法溶解镀层，扫描电镜测量金属线镀层，计算二者差值获得结果；专利CN104197880A公开了一种电化学方法测量铜丝镀层厚度的方法及其装置，通过带镀层厚度的铜丝直径和不带镀层厚度的铜丝直径差值获得镀层厚度值。以上两种方法采用化学方法对实验人员和环境有一定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金属线镀层厚度的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S1.金属线样品清洗、裁剪；S2.将金属线垂直固定到固化剂中，得到镶嵌有金属线的镶件样品；S3.将S2得到的镶件样品的底面进行磨抛至露出金属线截面，得到待测样品；S4.测量：对S3得到的待测样品的磨抛面上露出的金属线截面的镀层厚度进行测量；S5.结果矫正；其中，步骤S2中，所述垂直固定的具体步骤为：将金属线样品垂直放入盛固化剂的模具中，并用夹具将金属线样品夹紧，然后向模具中填充固化剂液体进行固化，即得所述镶件样品。2.根据权利要求1所述金属线镀层厚度的测试方法，其特征在于，步骤S1中所述清洗为用水进行清洗。3.根据权利要求1所述金属线镀层厚度的测试方法，其特征在于，步骤S1中所述金属线样品为单根或多根的组合。4.根据权利要求1所述金属线镀层厚度的测试方法，其特征在于，步骤S1中所述金属线样品的长度>盛固化剂的模具的高度。5.根据权利要求1所述金...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴博，徐文文，庞承焕，李卫领，黄险波，叶南飚，宁红涛，
申请(专利权)人：国高材高分子材料产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：