【技术实现步骤摘要】
紫外发光二极管的外延片及其制备方法
[0001]本公开涉及发光二极管领域,特别涉及一种紫外发光二极管的外延片及其制备方法。
技术介绍
[0002]紫外LED(Light Emitting Diode,发光二极管)有着广阔的市场应用前景,如紫外(简称UV)LED光疗仪是未来很受欢迎的医疗器械,但是UV LED技术还处于成长期,内量子效率低等问题制约着AlGaN基紫外LED进一步发展。
[0003]相关技术提供了一种AlGaN基紫外发光二极管的外延片,其结构包括:衬底以及顺次生长在衬底上的缓冲层、N型层、有源层、电子阻挡层和P型层。
[0004]在实现本公开的过程中,专利技术人发现相关技术至少存在以下问题:外延片的电性(如工作电压、抗静电能力等)存在改善的空间。
技术实现思路
[0005]本公开实施例提供了一种紫外发光二极管的外延片及其制备方法,能够提高紫外发光二极管的电性。所述技术方案如下:
[0006]一方面,提供了一种紫外发光二极管的外延片,所述外延片包括:
[0007]衬底 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种紫外发光二极管的外延片,其特征在于,所述外延片包括:衬底和顺次层叠在所述衬底上的低温缓冲层、第一未掺杂AlGaN层、N型半导体层、有源层和P型半导体层,所述N型半导体层包括顺次层叠在所述第一未掺杂AlGaN层上的高掺杂N型层和低掺杂N型层,所述低掺杂N型层包括层叠在所述高掺杂N型层上的第一低掺杂层,所述高掺杂N型层和所述第一低掺杂层均包括交替分布的多个AlGaN层和多个SiN层,所述高掺杂N型层中Si掺杂浓度高于所述低掺杂N型层中Si掺杂浓度。2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述低掺杂N型层还包括第二低掺杂层,所述第二低掺杂层包括顺次层叠在所述第一低掺杂层上的GaN层和SiN层。3.根据权利要求2所述的外延片,其特征在于,所述低掺杂N型层还包括第三低掺杂层,所述第三低掺杂层包括顺次层叠在所述第二低掺杂层上的AlN层和SiN层。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的外延片,其特征在于,所述低掺杂N型层中Si掺杂浓度低于10E19/cm3。5.根据权利要求1
‑
3任一项所述的外延片,其特征在于,所述外延片还包括第二未掺杂AlGaN层,所述第二未掺杂AlGaN层位于所述N型半导体层和所述有源层之间,所述第二未掺杂AlGaN层的厚度小于所述第一未掺杂AlGaN层的厚度。6.一种紫外发光二极管的外延片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:提供衬底;顺次在所述衬底上沉积低温缓冲层和第一未掺杂AlGaN层;在所述第一未掺杂AlGaN层上沉积N型半导体层,所述N型半导体层包括顺次层叠在所述第一未掺杂AlGaN...
【专利技术属性】
技术研发人员:乔楠,李昱桦,刘旺平,刘源,
申请(专利权)人:华灿光电苏州有限公司,
类型:发明
国别省市:
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