物件对位方法技术

一种物件对位方法，其包括：在物件转动下侦测物件的若干个第一对位结构，其中于物件转动过程中物件的若干个第二对位结构依序面向一感光元件；以及当若干个第一对位结构达一既定型态时，停止物件的转动并进行物件的影像撷取程序；其中，影像撷取程序包括：撷取物件的一测试影像，其中测试影像包括呈现当前面向感光元件的第二对位结构的影像区块；侦测测试影像中影像区块的呈现位置；于影像区块位于测试影像中间时，撷取物件的检测影像；以及于影像区块未位于测试影像中间时，以第一方向位移物件，并返回执行撷取物件的测试影像的步骤。借此，人工神经网络系统根据相同位置的检测影像建立更为精准的预测模型，进一步降低误判的几率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
物件对位方法


[0001]本案是关于一种物件表面检测系统，特别是物件表面检测系统的物件对位方法。

技术介绍

[0002]产品的缺陷检测是工业生产程序中极为重要的一环，具有缺陷的产品无法贩售，或者，若具有缺陷的中间产品贩售给其他厂商进行加工，将造成最终的产品无法工作。现有的缺陷检测方法的其中之一是人工以肉眼观察或以双手触摸待检测的产品，以判定产品是否具有缺陷，例如凹坑、划痕、色差、缺损等，然而，以人工方式检测产品是否具有缺陷的效率较差，且极容易发生误判的情形，如此将造成产品的良率无法控管的问题。

技术实现思路

[0003]在一实施例中，一种物件对位方法，适用于对位一物件。物件对位方法包括在物件转动下侦测物件的若干个第一对位结构，其中于物件转动过程中物件的若干个第二对位结构依序面向一感光元件；以及当若干个第一对位结构达一既定型态时，停止物件的转动并进行物件的影像撷取程序。其中，进行物件的影像撷取程序的步骤包括：以一感光元件撷取物件的一测试影像，其中测试影像包括呈现当前面向感光元件的第二对位结构的影像区块；侦测测试影像中影本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种物件对位方法，适用于对位一物件，其特征在于，包含：在该物件转动下侦测该物件的若干个第一对位结构，其中于该物件转动过程中该物件的若干个第二对位结构依序面向一感光元件；当该若干个第一对位结构达一既定型态时，停止该物件的转动并进行该物件的影像撷取程序，其中进行该物件的影像撷取程序的步骤包括：以该感光元件撷取该物件的一测试影像，其中该测试影像包括呈现当前面向该感光元件的该第二对位结构的影像区块；侦测该测试影像中该影像区块的呈现位置；于该呈现位置为该影像区块位于该测试影像中间时，以该感光元件撷取该物件的一检测影像；于该呈现位置为该影像区块未位于该测试影像中间时，以一第一方向位移该物件，并返回执行以该感光元件撷取该物件的该测试影像的步骤。2.如权利要求1所述的物件对位方法，其特征在于，该若干个第二对位结构沿该第一方向间隔配置，且任二相邻的该第二对位结构之间的间隔距离大于或等于该感光元件的视角。3.如权利要求1所述的物件对位方法，其特征在于，该物件为圆筒形，且该第一方向为一顺时针方向。4.如权利要求1所述的物件对位方法，其特征在于，该物件为圆筒形，且该第一方向为一逆时针方向。5.如权利要求1所述的物件对位方法，其特征在于，该物件为平面形。6.如权利要求1所述的物件对位方法，其特征在于，进行该物件的影像撷取程序的步骤还包含：于以该感光元件撷取该物件的该检测影像的步骤后，位移该物件以使下一该第二对位结构面向该感光元件，并返回执行以该感光元件撷取该物件的该测试影像的步骤，直至根据该若干个第二对位结构面撷取到对应的该若干个检测影像。7.如权利要求6所述的物件对位方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡昆佑，杨博宇，
申请(专利权)人：神基科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：