一种无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法技术

本发明专利技术公开一种无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法，步骤包括：S1.获取目标集成电路中所有的触发器；S2.遍历获取的所有触发器进行判断，每次判断时对当前触发器所在的数据通路进行静态时序分析，计算出数据通路的时序余量，并计算将当前触发器替换为所需的加固触发器后建立时间参数的增量值以及CLK

【技术实现步骤摘要】
一种无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法


[0001]本专利技术涉及大规模集成电路设计
，尤其涉及一种无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法。

技术介绍

[0002]在宇宙空间中，存在大量高能粒子，集成电路受到这些高能粒子轰击后，会产生单粒子瞬态脉冲。单粒子瞬态脉冲将影响集成电路的正常工作，例如，当单粒子瞬态脉冲产生于触发器单元的交叉互锁反相器电路节点时，会改变其中一个节点的数据值，引起另一个节点的数据值发生改变，最终改变时序单元所存储的数据值，使得所存储的数据发生错误，引发单粒子翻转效应。单粒子翻转效应改变了集成电路时序单元中所存储的数据值，会导致集成电路执行错误的指令或读取错误的数据，从而影响集成电路的正常工作。
[0003]为了缓解单粒子翻转效应对集成电路正常工作的影响，需要在集成电路设计过程中采用加固方法以防止单粒子翻转。针对集成电路的加固，现有技术中主要采用以下两类方法：
[0004]一类加固方法是采用冗余的加固结构，例如交叉互锁触发器单元结构、双模冗余触发器结构、三模冗余触发器结构等。但是上述加固方法由于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法，其特征在于，步骤包括：S1.触发器获取：获取目标集成电路中所有的触发器；S2.触发器筛选：遍历获取的所有触发器进行判断，每次判断时对当前触发器所在的数据通路进行静态时序分析，计算出所述数据通路的时序余量，并计算将当前触发器替换为所需的加固触发器后建立时间参数以及CLK
‑
Q延时参数的增量值，所述CLK
‑
Q延时参数为触发器的时钟端CLK到输出端Q的延时，根据当前触发器对应的时序余量与所述增量值之间的差值判断当前触发器是否为所需筛选出的目的触发器；S3.触发器加固：将步骤S2筛选出的所有目的触发器替换为所述加固触发器，得到加固后的集成电路。2.根据权利要求1所述的无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法，其特征在于，所述步骤S2中，使用数据到达触发器输入端、输出端所需要的最大到达时间，以及触发器输入端、输出端必须要满足的到达时间，分别计算数据到达当前触发器输入端的第一时序余量以及数据到达当前触发器输出端的第二时序余量。3.根据权利要求2所述的无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法，其特征在于，所述计算数据到达当前触发器输入端的第一时序余量的步骤包括：通过静态时序分析，计算数据到达当前触发器的输入端D所需要的第一最大到达时间T
D，arrive
，以及计算当前触发器的输入端D必须要满足的第一到达时间T
D，require
，根据所述第一最大到达时间T
D，arrive
、第一到达时间T
D，require
得到数据到达当前触发器的输入端D的第一时序余量T
D，slack
。4.根据权利要求2所述的无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法，其特征在于，所述计算数据到达当前触发器输出端的第二时序余量的步骤包括：通过静态时序分析，计算数据从当前触发器的输出端Q出发，到达下一级触发器的输入端D所需要的第二最大到达时间T
Q，arrive

【专利技术属性】
技术研发人员：宋睿强，邵津津，刘必慰，吴振宇，梁斌，池雅庆，陈建军，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：发明
国别省市：