【技术实现步骤摘要】
一种自动检测探测器坏点的方法
[0001]本专利技术涉及医学影像设备
,尤其涉及一种自动检测探测器坏点的方法。
技术介绍
[0002]CT系统中主要有X光探测器来采集被测对象的CT图像,但由于运输、使用或老化等因素,探测器可能会存在个别像素坏点,即探测器的某一位置的像素存在对X射线不响应或响应异常的点。这种坏点往往会比较严重影响CT图像质量,因此检测和矫正坏点是非常重要的。但一般的售后工程师不能单从图像质量来判断是探测器坏点引起的,往往是借助外接的探测器检测设备进行坏点识别,识别效率及准确性很难提高。
[0003]基于此,本案由此提出。
技术实现思路
[0004]为解决上述问题,本专利技术的目的在于提供一种自动检测探测器坏点的方法。
[0005]为了实现上述目的,本专利技术的技术方案如下:一种自动检测探测器坏点的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1. CT系统在扫描曝光时,通过FPGA采集到的探测器数据,得到探测器模块像素的平均曝光数据,并根据平均曝光数据设定阀值;S2. 判断各个像素点的噪声值,当噪声值多次高于或低于阀值时,即认定该像素点为坏点;S3. 记录下坏点的序号,并计算得到坏点的坐标位置;S4. 进行坏点校准或探测器模块更换。
[0006]进一步的,所述步骤S1包括以下步骤:获取每个探测器模块的曝光数据和暗电流数据,FPGA先运算出探测器模块的暗电流平均值和探测器响应平均值, 其中探测器响应平均值 ,暗电流平均值,之后进行暗电流校准,得到探测器模块像素的平均曝光 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种自动检测探测器坏点的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1. CT系统在扫描曝光时,通过FPGA采集到的探测器数据,得到探测器模块像素的平均曝光数据,并根据平均曝光数据设定阀值;S2. 判断各个像素点的噪声值,当噪声值多次高于或低于阀值时,即认定该像素点为坏点;S3. 记录下坏点的序号,并计算得到坏点的坐标位置;S4. 进行坏点校准或探测器模块更换。2.如权利要求1所述的一种自动检测探测器坏点的方法,其特征在于,所述步骤S1包括以下步骤:获取每个探测器模块的曝光数...
【专利技术属性】
技术研发人员:蒋唯,朱炯,郭浩瑞,陈伟,
申请(专利权)人:明峰医疗系统股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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