一种光纤破损程度检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于光纤检测装置技术领域，具体涉及一种光纤破损程度检测装置，包括光纤，所述光纤的右端设置有破损检测装置外壳，所述破损检测装置外壳内设置有透光容器，所述透光容器内设置有金颗粒，所述透光容器的上下两端开设有小孔，所述透光容器的内壁上设置有第一导体、第二导体、第三导体和第四导体，所述破损检测装置外壳内设置有电流表。本发明专利技术根据光纤破损程度不同时，泄漏光强不同，金颗粒表面膨胀尺度不同，使得金颗粒向上向下运动时，位移不同，产生的感应电流不同。故此装置不但可以测量光纤是否破损，也可以测量光纤的破损程度，根据电流数值判定破损程度，直观且精确化了测量结果。量结果。量结果。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤破损程度检测装置


[0001]本专利技术涉及光纤检测装置
，具体为一种光纤破损程度检测装置。

技术介绍

[0002]光纤是光导纤维的简写，是一种由玻璃或塑料制成的纤维，可作为光传导工具。传输原理是光的全反射。微细的光纤封装在塑料护套中，使得它能够弯曲而不至于断裂。通常，光纤的一端的发射装置使用发光二极管或一束激光将光脉冲传送至光纤，光纤的另一端的接收装置使用光敏元件检测脉冲，光纤在长时间使用时，容易受到外力导致光纤破损。
[0003]现有技术中，光纤破损程度检测装置对光纤破损检测不便，进行多次检测时需要进行调整，同时，装置对光纤细微破损处的破损大小难以判定，且检测精度较低。因此，需要对现有技术进行改进。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种光纤破损程度检测装置，解决了装置进行多次检测时需要进行调整、装置对光纤细微破损处的破损大小难以判定、检测精度较低的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种光纤破损程度检测装置，包括光纤，所述光纤的右端设置有破损检测装置外壳，所述破损检测装置外壳内设置有透光容器，所述透光容器内设置有金颗粒，所述透光容器的上下两端开设有小孔，所述透光容器的内壁上设置有第一导体、第二导体、第三导体和第四导体，所述破损检测装置外壳内设置有电流表。
[0006]优选的，所述破损检测装置外壳内设置有两个通电线圈，在破损检测装置外壳内形成均匀磁场。
[0007]优选的，所述金颗粒直径与透光容器宽度相同，所述金颗粒的外侧固定连接有磁性薄膜。
[0008]优选的，所述磁性薄膜有两层，上层所述磁性薄膜的上表面为N极，下层所述磁性薄膜的下表面为N极。
[0009]优选的，所述透光容器在两层磁性薄膜之间部分透光。
[0010]优选的，所述破损检测装置外壳为椭球面结构。
[0011]优选的，所述磁性薄膜和透光容器之间设置有微小滚珠。
[0012]优选的，所述透光容器的上下两端的小孔成流线型结构。
[0013]与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：
[0014]1、本专利技术根据光纤破损程度不同时，泄漏光强不同，金颗粒表面膨胀尺度不同，使得金颗粒向上向下运动时，位移不同，产生的感应电流不同。故此装置不但可以测量光纤是否破损，也可以测量光纤的破损程度，根据电流数值判定破损程度，直观且精确化了测量结果。
[0015]2、本专利技术可以循环利用，且不需要做过多的调整。
附图说明
[0016]图1为本专利技术结构示意图；
[0017]图2为本专利技术结构示意图二；
[0018]图3为本专利技术磁性薄膜示意图；
[0019]图4为本专利技术透光容器示意图一；
[0020]图5为本专利技术透光容器示意图二。
[0021]图中：1、光纤；2、破损检测装置外壳；3、透光容器；4、金颗粒；5、磁性薄膜；6、第一导体；7、第二导体；8、第三导体；9、第四导体；10、电流表。
具体实施方式
[0022]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0023]实施例1
[0024]请参阅图1，一种光纤破损程度检测装置，包括光纤1，光纤1的右端设置有破损检测装置外壳2，破损检测装置外壳2内设置有两个通电线圈，在破损检测装置外壳2内形成均匀磁场，破损检测装置外壳2内设置有透光容器3，透光容器3内设置有金颗粒4，金颗粒4直径与透光容器3宽度相同，金颗粒4的外侧固定连接有磁性薄膜5，磁性薄膜5有两层，上层磁性薄膜5的上表面为N极，下层磁性薄膜5的下表面为N极，透光容器3在两层磁性薄膜5之间部分透光，透光容器3的上下两端开设有小孔，透光容器3的内壁上设置有第一导体6、第二导体7、第三导体8和第四导体9，破损检测装置外壳2内设置有电流表10。
[0025]具体的，当光纤1密闭完好时，金颗粒4受到自身向下重力，磁性薄膜5因为上层上表面为N极，会受到向上的吸引力。同样由于下层下表面为N极，故下层会受到向上的斥力。向上的力与向下的力相等，金颗粒4会保持稳定状态，漂浮在空中。第一导体6、第二导体7、第三导体8和第四导体9四根导体不动，电流表10显示为0，报警装置不工作。
[0026]当光纤1破损时，光纤1会有光泄漏，漏出来的光照射到金颗粒4上，金颗粒4表面会产生光热效应，热会使得金颗粒4表面膨胀，从而会使得连在金颗粒4表面的磁性薄膜5向上下伸缩。此时上层受到的吸引力与下层受到的排斥力都会变大，且方向向上，破坏金颗粒4和磁性薄膜5的稳定状态，使得金颗粒4向上运动，向上运动后，上部不透光特性使得金颗粒4不再具备光热状态，不再发热，收缩回原状态，此时金颗粒4会向下运动。在磁场力与惯性的作用下，金颗粒4做上下来回振荡运动。
[0027]当金颗粒4上下运动时，会使得透光容器3内气压发生变化，向上运动时，上部气压变大，下部气压变小。气压的改变会使得第一导体6和第二导体7向两侧运动，第三导体8和第四导体9向中间运动。相反，向下运动会使得第一导体6和第二导体7向中间运动，第三导体8和第四导体9向两侧运动。导体运动切割磁感线，根据右手法则，向中间运动的导体中会产生向下的电流，向两侧运动的导体会产生向上的电流。电流汇聚被收集在电流表10中，当电流表10中有电流时，报警装置报警。
[0028]实施例2
[0029]请参阅图1，一种光纤破损程度检测装置，包括光纤1，光纤1的右端设置有破损检测装置外壳2，破损检测装置外壳2内设置有两个通电线圈，在破损检测装置外壳2内形成均匀磁场，破损检测装置外壳2内设置有透光容器3，透光容器3内设置有金颗粒4，金颗粒4直径与透光容器3宽度相同，金颗粒4的外侧固定连接有磁性薄膜5，磁性薄膜5有两层，上层磁性薄膜5的上表面为N极，下层磁性薄膜5的下表面为N极，透光容器3在两层磁性薄膜5之间部分透光，透光容器3的上下两端开设有小孔，透光容器3的内壁上设置有第一导体6、第二导体7、第三导体8和第四导体9，破损检测装置外壳2内设置有电流表10。
[0030]具体的，当光纤1密闭完好时，金颗粒4受到自身向下重力，磁性薄膜5因为上层上表面为N极，会受到向上的吸引力。同样由于下层下表面为N极，故下层会受到向上的斥力。向上的力与向下的力相等，金颗粒4会保持稳定状态，漂浮在空中。第一导体6、第二导体7、第三导体8和第四导体9四根导体不动，电流表10显示为0，报警装置不工作。
[0031]当光纤1破损时，光纤1会有光泄漏，漏出来的光照射到金颗粒4上，金颗粒4表面会产生光热效应，热会使得金颗粒4表面膨胀，从而会使得连在金颗粒4表面的磁性薄膜5向上下伸缩。此时上层受到的吸引力与下层受到的排斥力都会变大，且方向向上，破坏金颗粒4和磁性本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光纤破损程度检测装置，包括光纤(1)，其特征在于：所述光纤(1)的右端设置有破损检测装置外壳(2)，所述破损检测装置外壳(2)内设置有透光容器(3)，所述透光容器(3)内设置有金颗粒(4)，所述透光容器(3)的上下两端开设有小孔，所述透光容器(3)的内壁上设置有第一导体(6)、第二导体(7)、第三导体(8)和第四导体(9)，所述破损检测装置外壳(2)内设置有电流表(10)。2.根据权利要求1所述的一种光纤破损程度检测装置，其特征在于：所述破损检测装置外壳(2)内设置有两个通电线圈，在破损检测装置外壳(2)内形成均匀磁场。3.根据权利要求2所述的一种光纤破损程度检测装置，其特征在于：所述金颗粒(4)直径与透光容器(3)宽度相同，所述金颗粒(...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ五一IntClG零一N二七零零，
申请(专利权)人：彭瞳生，
类型：发明
国别省市：