一种电机相序测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开的电机相序测试仪包括：主控芯片、用于接收和发送信号的串口芯片、桥驱芯片、以及为待测电机提供工作电压的供电电源；所述供电电源通过所述桥驱芯片与待测电机的各相电连接；所述主控芯片与待测电机的各相电连接以检测待测电机的各相电流值及转速；所述主控芯片与所述串口芯片连接，将待测电机的各相电流值及转速对外发送。本实用新型专利技术所述的电机相序测试仪向待测电机进行供电使电机通电工作，桥驱芯片改变电机各相的通电顺序并获取电机的转速，进而判断待测电机的相序，操作人员对转速进行判断电机的相序即可，无需对获取的数值进行转绘，提高电机相许测试的便捷性与准确度。与准确度。与准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种电机相序测试仪


[0001]本技术涉及电机检测仪
，尤其涉及一种电机相序测试仪。

技术介绍

[0002]现有的电机相许测试方法是通过手动旋转电机或者通过外部驱动装置对电机进行驱动，是电机各相产生感应电动势。操作人员通过检测仪获取电机各相的感应电动势或相内电流，根据获取的值进行绘图，从图内各相电流之间的相位差获取电机的相序。这种操作方式繁琐，且操作人员在绘图时容易出现数值判断错误的问题，无法准确、快速地获取电机的相序。

技术实现思路

[0003]为了解决现有技术中电机相序获取过程繁琐、电机相许易判断错误的问题，本技术提出一种电机相序测试仪，所述电机相序测试仪向待测电机的各相通电，通过相同供电电流时电机的转速以获取电机的相序。
[0004]本技术通过以下技术方案实现的：
[0005]一种电机相序测试仪，所述电机相序测试仪包括：用于获取电流值的主控芯片、用于接收和发送信号的串口芯片、用于将电流发送至待测电机的桥驱芯片、以及为待测电机提供工作电压的供电电源；
[0006]所述供电电源与所述桥驱芯片电连接，所述桥驱芯片与待测电机的各相电连接，所述供电电源通过所述桥驱芯片为待测电机的各相依次供电；
[0007]所述主控芯片与待测电机的各相电连接以检测待测电机的各相电流值及转速；
[0008]所述主控芯片与所述串口芯片连接，所述主控芯片通过所述串口芯片将待测电机的各相电流值及转速对外发送。
[0009]进一步的，所述电机相序测试仪包括与待测电机相数相同的待测电阻，所述待测电阻与待测电机的各相一一连接；
[0010]所述主控芯片与所述待测电阻电连接，所述主控芯片检测所述待测电阻的电压值以检测待测电机的各相电流值。
[0011]进一步的，待测电机包括与待测电机各相电连接的霍尔元件，所述主控芯片与所述霍尔元件电连接以获取所述待测电机的转速。
[0012]进一步的，所述供电电源与所述主控芯片电连接并为所述主控芯片供电。
[0013]进一步的，所述主控芯片的型号为APT32F172。
[0014]进一步的，所述桥驱芯片包括与待测电机相数相同的三极管，所述供电电源通过所述三极管为待测电机供电，所述桥驱芯片的型号为SPE05M50。
[0015]进一步的，所述串口芯片的型号为MAX485。
[0016]进一步的，所述电机相序测试仪还包括：开关、显示板和调节钮；
[0017]所述调节钮增加或减小所述供电电源对待测电机的供电电压；所述显示板与所述
主控芯片电连接显示待测电机的转速；所述开关与所述主控芯片电连接，开启或关闭所述主控芯片。
[0018]进一步的，所述电机相序测试仪包括盒体、收容在所述盒体内的电路板和安装在所述盒体上的封盖板；
[0019]所述主控芯片、所述桥驱芯片、所述串口芯片和所述显示板安装在所述电路板上；
[0020]所述开关和所述调节钮安装在所述封盖板上；所述封盖板为透明材料。
[0021]进一步的，所述电机相序测试仪包括：与待测电机电连接的多个测试线和与终端连接的数据连接线；
[0022]所述测试线与待测电机的各相霍尔元件及供电线电连接；
[0023]所述数据连接线将电流值和转速数据发送至终端。
[0024]本技术的有益效果在于：
[0025]本技术所述的电机相序测试仪向待测电机进行供电，使电机通电工作，桥驱芯片依次向待测电机的各相通电，改变电机各相的通电顺序，获取电机在不同供电顺序时的转速，进而判断待测电机的相序，操作人员对转速进行判断电机的相序即可，无需对获取的数值进行转绘，提高电机相许测试的便捷性与准确度。
附图说明
[0026]图1是本技术的电路结构示意图；
[0027]图2是本技术的分解结构示意图。
具体实施方式
[0028]为使本技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0029]请参考图1和图2，请参考图1和图2，本技术公开一种电机相序测试仪，包括：用于获取电流值的主控芯片11、用于接收和发送信号的串口芯片12、用于将电流发送至待测电机的桥驱芯片13、以及为待测电机提供工作电压的供电电源14。
[0030]所述供电电源14与所述桥驱芯片13电连接，所述桥驱芯片13与待测电机的各相电连接，所述供电电源14通过所述桥驱芯片13为待测电机的各相依次供电。
[0031]电机工作时，电机的各个相会依次通过电流，每个相的电流均呈正弦状态变化，且不同相之间的电流具有相位差异。本技术所述的电机相序测试仪通过桥驱芯片13为电机的不同相依次供电，对于同一待测电机，若供电顺序与电机相序吻合，则电机的转速最大；若供电顺序与电机相序有差异，则电机转速变小或者不工作。
[0032]因而，在给与规定电流下，电机的转速最大，所述桥驱芯片13供电的相序即为电机的相序；电机转速不为该规定电流的最大值，则当前桥驱芯片13的供电相序则不是该电机的相序。
[0033]所述桥驱芯片13包括与待测电机相数相同的三极管130，所述供电电源14通过多个所述三极管130为待测电机的各相依次供电，在本技术的一个可实现的实施例中，所述桥驱芯片13的型号为SPE05M50。
[0034]所述主控芯片11与待测电机的各相电连接以检测待测电机的各相电流值及转速。
[0035]在上述的基础上，所述主控芯片11获取电机通电后的各相电流值及电机当前的转速，具体的，所述电机相序测试仪包括与待测电机相数相同的待测电阻15，所述待测电阻15与待测电机的各相一一连接；所述主控芯片11与所述待测电阻15电连接，所述主控芯片11检测所述待测电阻15的电压值以检测待测电机的各相电流值。
[0036]所述待测电阻15的电阻值是已知的，主控芯片11获取待测电阻15的电压值即可得出待测电阻15的电流值，待测电阻15与待测电机的各相分别串联，因而通过待测电阻15的电流即使相内的电流。
[0037]所述主控芯片11通过待测电机上与各相连接的霍尔元件电连接获取待测电机的转速。
[0038]在上述的实施例中，所述供电电源14不仅为待测电机提供工作电压，同时，所述供电电源14与所述主控芯片11电连接，所述供电电源14作为所述电机相序测试仪的供电装置。
[0039]在本技术的一个可实现的实施例中，所述主控芯片11的型号为APT32F172。
[0040]所述主控芯片11与所述串口芯片12连接，所述主控芯片11通过所述串口芯片12将待测电机的各相电流值及转速对外发送。
[0041]在本实施例中，所述主控芯片11获取的待测电机的各相电流值及电机的的转速需要发送至终端进行显示，因而，本技术所述的电机相序测试仪还设置有一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电机相序测试仪，其特征在于，所述电机相序测试仪包括：用于获取电流值的主控芯片、用于接收和发送信号的串口芯片、用于将电流发送至待测电机的桥驱芯片、以及为待测电机提供工作电压的供电电源；所述供电电源与所述桥驱芯片电连接，所述桥驱芯片与待测电机的各相电连接，所述供电电源通过所述桥驱芯片为待测电机的各相依次供电；所述主控芯片与待测电机的各相电连接以检测待测电机的各相电流值及转速；所述主控芯片与所述串口芯片连接，所述主控芯片通过所述串口芯片将待测电机的各相电流值及转速对外发送。2.根据权利要求1所述的电机相序测试仪，其特征在于，所述电机相序测试仪包括与待测电机相数相同的待测电阻，所述待测电阻与待测电机的各相一一连接；所述主控芯片与所述待测电阻电连接，所述主控芯片检测所述待测电阻的电压值以检测待测电机的各相电流值。3.根据权利要求1所述的电机相序测试仪，其特征在于，待测电机包括与待测电机各相电连接的霍尔元件，所述主控芯片与所述霍尔元件电连接以获取所述待测电机的转速。4.根据权利要求1所述的电机相序测试仪，其特征在于，所述供电电源与所述主控芯片电连接并为所述主控芯片供电。5.根据权利要求1至4任意一项所述的电机相序测试仪，其特征在于，所述主控芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：伍水新，董登雄，陈斌，
申请(专利权)人：友贸电机深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：