充电器协议扫描线制造技术

本申请提供了一种充电器协议扫描线，运用于充电老化测试技术领域，其包括转接外壳、协议芯片、老化设备接口、充电器接口和延展线；所述转接外壳内设有协议芯片；所述充电器接口设于转接外壳的侧部并与所述协议芯片连接；所述延展线一端接于转接外壳的侧部与协议芯片连接，另一端与所述老化设备接口连接；只需要一条扫描协议线插入以前的老式测试设备上，通过Von负载设置，可以对快充充电器进行不同电压的老化测试。的老化测试。的老化测试。

【技术实现步骤摘要】
充电器协议扫描线


[0001]本申请涉及充电老化测试
，特别涉及为一种充电器协议扫描线。

技术介绍

[0002]现在充电器都是以快充设备为主，快充设备必须要保证质量，对于其出厂前必须要进行老化测试，而在以前没有快充的时候充电器老化测试很简单，一个USB即可连接老化负载就可以进行老化测试，但是现在的快充(PD；QC3.0/QC2.0)等等，电压会根据不同的数码产品协议而变化，输出电压也不一样，这时就给老化测试设备增加了难度，需要老化不同电压挡位。现在的新型老化测试设备是具有快充协议的，而以前的老设备扔了可惜，不扔又不能用，加上新的老化设备售价高昂，售后维修复杂，一旦出现故障，工厂就会停线怠工，加上售后不能及时到位，会给工厂代来不必要的损失。

技术实现思路

[0003]本申请提供一种充电器协议扫描线，只需要一条扫描协议线插入以前的老式测试设备上，通过Von负载设置，可以对快充(PD；QC3.0/QC2.0)充电器进行不同电压的老化测试。
[0004]本申请为解决技术问题采用如下技术手段：
[0005]本申请提出的一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种充电器协议扫描线，其特征在于，包括转接外壳、协议芯片、老化设备接口、充电器接口和延展线；所述转接外壳内设有协议芯片；所述充电器接口设于转接外壳的侧部并与所述协议芯片连接；所述延展线一端接于转接外壳的侧部与协议芯片连接，另一端与所述老化设备接口连接。2.根据权利要求1所述的充电器协议扫描线，其特征在于，所述充电器接口包括：Type
‑
C接口、Android接口和USB接口中的任意一项或多项。3.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：官洁林，
申请(专利权)人：官洁林，
类型：新型
国别省市：