有载开关三相导通试验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种有载开关三相导通试验装置，包括三个相同的检测电路，每个检测电路包括第一至第四数码管A1

【技术实现步骤摘要】
有载开关三相导通试验装置


[0001]本技术属于有载开关测试
，特别是涉及到一种用于有载开关三相导通试验装置。

技术介绍

[0002]电力变压器作为电力系统的主要设备之一，其工作状态关系到整个电力系统的运行安全。在运行过程中，由于高峰低谷时输送容量不同，会造成电压幅值波动，为解决这一问题，电力系统采用有载分接开关，实现变压器的可变变比供电。有载开关特性试验的目的是对有载开关的性能进行测试。有载开关导通试验是有载开关特性试验项目之一，其目的是判断有载开关在动作的过程中是否存在断点，是判断有载开关质量的重要依据。
[0003]目前，有载开关导通试验平均用时43分钟，约占有载开关特性试验总时间的51％，占用了大量的试验时间，影响了整个有载开关验收工作的工作效率。
[0004]通过研究有载开关导通试验的试验步骤发现导致有载开关导通试验时间过长的因素主要有以下几方面：
[0005](1)更改试验接线次数过多，耗费时间；
[0006](2)每次更改测试引线时，都需攀爬一次变压器，攀爬次数过多；
[0007](3)需要对A、B、C三相分别进行1次循环调档操作。

技术实现思路

[0008]针对现有风罩所存在的问题，本技术提出一种有载开关三相导通试验装置，以解决传统的有载开关导通试验用时长的问题。
[0009]本技术提供的有载开关三相导通试验装置包括三个相同的检测电路，每个检测电路包括第一至第四数码管A1-A4、第一至第四数码管译码器驱动器 B1-B4、固定电容C1、可变电容C2、第一至第二双输入与非门D1-D2、第一至第三六非门反相器E1-E3、第一至第六计数器G1-G6、晶振F、第一至第六电阻 R1-R6、启动开关S1和检测开关S3；其中，启动开关S1的一端接地，另一端与第一电阻R1的一端耦接，第一电阻R1的另一端与5V直流电源耦接；第一双输入与非门D1的两个输入端耦接于第五电阻R5与启动开关S1之间的连接点，第一双输入与非门D1的输出端分别与第一计数器G1的13引脚耦接，第一计数器G1的13引脚与第二计数器G2的13引脚耦接，第一计数器G1的3 引脚接地，第一计数器G1的10引脚与第二计数器G2的8引脚耦接，第一计数器G1的11引脚与9引脚耦接，第一计数器G1的9、5、4、8引脚分别与第一数码管译码器驱动器B1的7、1、2、6引脚耦接，第一数码管译码器驱动器 B1的13、12、11、10、9、15、14引脚分别与第一数码管A1的A-G引脚耦接；第二计数器G2的3引脚接地，第二计数器G2的11引脚与9引脚耦接，第二计数器G2的13引脚与第三计数器G3的13引脚耦接，第二计数器G2的9、5、4、 8引脚分别与第二数码管译码器驱动器B2的7、1、2、6引脚耦接，第二数码管译码器驱动器B2的13、12、11、10、9、15、14引脚分别与第二数码管A2的 A-G引脚耦接；第三计数器G3的3引脚接地，第三计数器G3的8引脚与第二计数器G2的10引脚耦
接，第三计数器G3的11引脚与9引脚耦接，第三计数器G3的13引脚与第四计数器G4的13引脚耦接，第三计数器G3的9、5、4、 8引脚分别与第三数码管译码器驱动器B3的7、1、2、6引脚耦接，第三数码管译码器驱动器B3的13、12、11、10、9、15、14引脚分别与第三数码管A3的 A-G引脚耦接；第四计数器G4的3引脚接地，第四计数器G4的8引脚与第三计数器G3的10引脚耦接，第四计数器G4的11引脚与9引脚耦接，第四计数器G4的9、5、4、8引脚分别与第四数码管译码器驱动器B4的7、1、2、6引脚耦接，第四数码管译码器驱动器B4的13、12、11、10、9、15、14引脚分别与第四数码管A4的A-G引脚耦接；第五计数器G5的3引脚接地，第五计数器 G5的8引脚与第四计数器G4的10引脚耦接，第五计数器G5的11引脚与9 引脚耦接，第五计数器G5的13引脚与第六计数器G6的13引脚耦接；第六计数器G6的3引脚接地，第六计数器G6的8引脚与第五六非门反相器E4的10 引脚耦接，第六计数器G6的11引脚与9引脚耦接；检测开关S3的动触点与第一六非门反相器E1的输出端分别与第二双输入与非门D2的两个输入端耦接，第二双输入与非门D2的输出端与第六计数器G6的10引脚耦接，检测开关S3 的一个静触点第二电阻R2的一端耦接，第二电阻R2的另一端接地，检测开关S3的另一个静触点与第三电阻R3的一端耦接，第三电阻R3的该端耦接于第二电阻R2与地之间，第三电阻R3的另一端与5V直流电源耦接，第二六非门反相器E2的输出端与固定电容C1的一端耦接，固定电容C1的另一端与第三六非门反相器E3的输入端耦接，第三六非门反相器E3的输出端与第一六非门反相器E1的输入端耦接，第二六非门反相器E2的输入端与可变电容C2的一端耦接，可变电容C2的另一端与晶振F的一端耦接，晶振F的另一端与第四电阻 R4的一端耦接，第三六非门反相器E3的输出端还耦接于第四电阻R4与晶振F 之间的连接点，第五电阻R5并联在第二六非门反相器E2的两端；第一至第四数码管A1-A4的CA引脚分别与第六电阻R6的一端耦接，第六电阻R6的另一端与5V直流电源耦接。其中计数器的型号为74LS290N；数码管译码器驱动器的型号为74LS47N；六非门反相器的型号为74LS04N。
[0010]利用上述本技术提供的有载开关三相导通试验装置，可以节约有载开关三相导通试验的时间，有效减少试验人员滞留场地的时间，而且相较于以往单相测试法能够减少2次拆接线的步骤，从而降低试验人员因攀爬变压器而产生的潜在登高危险，因此达到增加安全的效果。
附图说明
[0011]以下结合附图和具体实施方式对本技术作进一步的说明：
[0012]图1为本技术实施例提供的有载开关三相导通试验装置的电路结构图。
[0013]图中的附图标记包括：第一至第四数码管A1-A4、第一至第四数码管译码器驱动器B1-B4、固定电容C1、可变电容C2、第一至第二双输入与非门D1-D2、第一至第三六非门反相器E1-E3、第一至第六计数器G1-G6、晶振F、第一至第六电阻R1-R6、启动开关S1和检测开关S3。
[0014]在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。
具体实施方式
[0015]在下面的描述中，出于说明的目的，为了提供对一个或多个实施例的全面理解，阐述了许多具体细节。然而，很明显，也可以在没有这些具体细节的情况下实现这些实施例。
在其它例子中，为了便于描述一个或多个实施例，公知的结构和设备以方框图的形式示出。
[0016]图1示出了本技术实施例提供的有载开关三相导通试验装置的电路结构。
[0017]如图1所示，本技术实施例提供的有载开关三相导通试验装置，包括三个相同的检测电路，三条检测电路同时对有载开关的A、B、C三相进行检测，判断有载开关的A、B、C三相是否存在断点，每个检测电路包括第一至第四数码管A1-A4、第一至第四数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种有载开关三相导通试验装置，其特征在于，包括三个相同的检测电路，每个检测电路包括第一至第四数码管A1-A4、第一至第四数码管译码器驱动器B1-B4、固定电容C1、可变电容C2、第一至第二双输入与非门D1-D2、第一至第三六非门反相器E1-E3、第一至第六计数器G1-G6、晶振F、第一电阻至第六电阻R1-R6、启动开关S1和检测开关S3；其中，启动开关S1的一端接地，另一端与第一电阻R1的一端耦接，第一电阻R1的另一端与5V直流电源耦接；第一双输入与非门D1的两个输入端耦接于第五电阻R5与启动开关S1之间的连接点，第一双输入与非门D1的输出端分别与第一计数器G1的13引脚耦接，第一计数器G1的13引脚与第二计数器G2的13引脚耦接，第一计数器G1的3引脚接地，第一计数器G1的10引脚与第二计数器G2的8引脚耦接，第一计数器G1的11引脚与9引脚耦接，第一计数器G1的9、5、4、8引脚分别与第一数码管译码器驱动器B1的7、1、2、6引脚耦接，第一数码管译码器驱动器B1的13、12、11、10、9、15、14引脚分别与第一数码管A1的A-G引脚耦接；第二计数器G2的3引脚接地，第二计数器G2的11引脚与9引脚耦接，第二计数器G2的13引脚与第三计数器G3的13引脚耦接，第二计数器G2的9、5、4、8引脚分别与第二数码管译码器驱动器B2的7、1、2、6引脚耦接，第二数码管译码器驱动器B2的13、12、11、10、9、15、14引脚分别与第二数码管A2的A-G引脚耦接；第三计数器G3的3引脚接地，第三计数器G3的8引脚与第二计数器G2的10引脚耦接，第三计数器G3的11引脚与9引脚耦接，第三计数器G3的13引脚与第四计数器G4的13引脚耦接，第三计数器G3的9、5、4、8引脚分别与第三数码管译码器驱动器B3的7、1、2、6引脚耦接，第三数码管译码器驱动器B3的13、12、11、10、9、15、14引脚分别与第三数码管A3的A-G引脚耦接...

【专利技术属性】
技术研发人员：李智，衣红印，任宝龙，孟凡星，贾晨，李建民，杨宝伟，李春雨，杨春飞，张辉，王金山，韩冬，谢利，黄大志，高晗，王鹏飞，刘畅，翟永杰，张浩，石记龙，王明海，刘宏宇，井雨淳，柴金慧，陈洁，卢洪军，陈冠遇，郝国屹，于颢明，张乘，
申请(专利权)人：国家电网有限公司，
类型：新型
国别省市：