一种闭环光纤陀螺仪的死区克服系统及其方法技术方案

本发明专利技术公开了一种闭环光纤陀螺仪的死区克服系统及其方法，属于光纤陀螺仪技术领域。闭环光纤陀螺仪包括宽谱光源、耦合器、Y波导集成光学芯片，光纤传感环、光电探测器、信号处理电路，信号处理电路包括：前向放大电路、A/D模块、FPGA数字逻辑电路、D/A模块、驱动电路。当陀螺进入死区时，由于系统DAC寄存器在两种方波调制状态中切换，此时可以在DAC寄存器中对两种幅值不同的方波脉冲进行计数，用以确定测量的偏置误差。再将已经确定的串扰误差信号反馈至调制电压中作误差补偿，消除信号串扰带来的影响，使得陀螺工作在完全的闭环，并且修正此时速率寄存器为零的问题，使得速率寄存器中的数值与真实输入相等，从而克服死区问题。从而克服死区问题。从而克服死区问题。

【技术实现步骤摘要】
一种闭环光纤陀螺仪的死区克服系统及其方法


[0001]本专利技术涉及一种闭环光纤陀螺的死区克服系统及其方法，属于光纤陀螺仪


技术介绍

[0002]光纤陀螺仪是一种基于sagnac效应的角速度测量仪器，是惯性导航
的重要元件，目前被广泛使用的是数字式闭环检测方案。闭环光纤陀螺仪的结构如图1所示，由1宽谱光源、2耦合器、3Y波导集成光学芯片、4光纤环、5光电探测器、7A/D模块、9D/A模块、6前向放大电路、10驱动电路、8FPGA数字逻辑电路组成。
[0003]在全数字闭环的光纤陀螺仪中，由宽谱光源1发出的光经耦合器2一分为二，其中一束光进入Y波导集成光学芯片3，光分为两路以顺时针与逆时针的方向进入光纤环4，这两束光在Y波导集成光学芯片3中的分束器中形成干涉，再经过耦合器2分为两束，光电探测器5组件(如PINFET)对光路产生的光电流进行检测、控制与跟踪。在这个方案中，会引入反馈相移作为补偿，使得陀螺的工作点在“零相位点”附近，进而实现良好的稳定性能与动态性能。
[0004]要完成数字闭环，驱动电路10需要将叠加本征方波的阶梯波施加到Y波导集成光学芯片3的相位调制器上，但由于电子交叉耦合，使得在信号检测电路会出现一个与幅值较大的方波调制信号同频、幅度成正比的串扰信号，这个信号会使得陀螺对低转速下的输入角速率不再敏感，当测量输入在接近零的范围内，测量输出会显示为零，称之为闭环光纤陀螺的测量死区，这是典型的传递函数非线性现象。对不同测量精度的陀螺而言，死区的范围不同，可能达到每小时零点零几度至每小时几十度，甚至更大。死区的产生原因也比较复杂，可能受到其他类型的差分、延迟或移项耦合影响，但主要是调制方波的串扰所致。在实际的应用中，闭环光纤陀螺的死区问题会导致许多重复测试、检修的工作，浪费了许多人力物力成本，影响陀螺的生产与应用。
[0005]综上所述，闭环光纤陀螺的死区克服问题是亟待解决的工程问题，但国内很少有关于这项问题的研究成果。目前的专利技术专利中提到的方法有设置物理结构上的屏蔽与增加一个周期性的随机电抖动信号，前者增加了陀螺的成本与体积，且这样的电磁屏蔽不能完全保证串扰信号的消除；后者只是将陀螺的工作点从“零速率”移开，但并不工作在彻底的闭环，且可能增加陀螺的随机游走系数。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的即解决上述问题，提供一种闭环光纤陀螺仪的死区克服系统及其方法，可以有效解决光纤陀螺中由于电子串扰信号导致的低转速下输出为零的问题。
[0007]为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
[0008]本专利技术的其中一个目的在于提供一种闭环光纤陀螺仪的死区克服系统，包括宽谱光源、耦合器、Y波导集成光学芯片、光纤环、光电探测器和信号处理电路；
[0009]由所述宽谱光源发出的光经耦合器之后进入到Y波导集成光学芯片中，分为顺、逆两束光并通过光纤环传输，再依次返回至Y波导集成光学芯片、耦合器后由光电探测器对光电流进行检测；
[0010]所述光电探测器输出的检测信号经信号处理电路处理，得到包含串扰误差补偿信息的反馈信号，将反馈信号送入Y波导集成光学芯片进行调制，实现闭环。
[0011]本专利技术的另一个目的在于提供一种基于上述系统实现克服闭环光纤陀螺仪死区的方法，包括以下步骤：
[0012]步骤1：将的方波调制信号引入Y波导集成光学芯片(3)的相位调制器上；
[0013]步骤2：给定一个不在死区范围内的恒定转速获取FPGA数字逻辑电路中的DAC寄存器包络的斜率值k，根据斜率值计算得到等效信号串扰强度P
C
，计算公式为：
[0014][0015]其中，DAC寄存器处于正常工作状态的区域大小为DAC寄存器处于溢出复位状态的区域大小为P表示DAC寄存器的位宽；k表示斜率值，θ表示倾斜角；
[0016]步骤3：利用权利要求1所述的光电探测器(5)获取实时的检测信号，通过前向放大电路(6)对检测信号进行放大，得到放大后的模拟信号；然后利用A/D模块(7)将放大后的模拟信号转换为数字信号，送至FPGA数字逻辑电路(8)进行处理，处理过程为：
[0017]a.将数字信号解调、数字积分，输出测量结果
[0018]b.对作台阶增量积分与数字积分，经D/A转换为模拟信号，得到阶梯波信号
[0019]与此同时，实时根据DAC寄存器的输出状态判断系统是否处于死区；
[0020]当处于死区时，对DAC寄存器中交替出现的幅值分别为与的方波脉冲信号进行计数，计单个周期内脉冲信号出现次数为M，脉冲信号出现次数为N，根据计数结果计算周期性串扰误差补偿信号计算公式为：
[0021][0022]所述的周期性串扰误差补偿信号与方波调制信号同频；
[0023]若不处于死区，则
[0024]c.将阶梯波信号与串扰误差补偿信号相加作为反馈信号，表示为
将反馈信号施加到Y波导集成光学芯片(4)上，对光纤陀螺仪进行调制；
[0025]步骤4：重复步骤2
‑
3，更新等效信号串扰强度P
C
，实时判断死区状态，利用步骤4调制后的系统进行实时检测，将FPGA数字逻辑电路中经过数字信号解调、数字积分后输出的测量结果作为检测结果。
[0026]与现有技术相比，本专利技术的优势在于：
[0027]闭环光纤陀螺的串扰主要来自于信号处理电路产生的调制方波信号对于光电探测器的同相耦合。当系统的前后端存在信号串扰时，系统响应为其中P
C
是信号串扰强度。当DAC寄存器处于正常工作状态时，系统输出为当系统DAC寄存器处于复位状态时，系统响应为系统输出变为了系统输出变为了与的极性决定了阶梯波寄存器随时间递增或递减的状态，而当时，测量结果与的极性与实际相反，阶梯波的数值会被“锁”在溢出复位与正常工作两种状态的切换点上，陀螺的输出不随输入变化，总是为零，系统进入了死区。
[0028]本专利技术在陀螺进入死区时，由于系统DAC寄存器在两种方波调制状态中切换，此时可以在FPGA数字逻辑电路的DAC寄存器中对两种幅值不同的方波脉冲进行计数，用以确定测量的偏置误差。再将已经确定的串扰误差信号反馈至调制电压中作误差补偿，消除信号串扰带来的影响，使得陀螺工作在完全的闭环，并且修正此时速率寄存器为零的问题，使得速率寄存器中的数值与真实输入相等，从而能够克服死区问题。
[0029]本专利技术通过对方波脉冲计数得到误差补偿送到对相位调制器的反馈电压中，消除了方波调制造成的电磁串扰，适用范围广，可靠性高，操作简单，不牺牲系统的其他参数，提高了陀螺仪在低转速下的测量精度，有助于高精度闭环光纤陀螺仪的批量生产。
附图说明
[0030]图1是传统的闭环光纤陀螺仪结构示意图；
[0031]图2是本专利技术中死区误差校正控制系统方案图；
[0032]图3是本专利技术中死区状态下DAC寄存器数值变化示意图；
[0033]图4是本专利技术中正常状态下DAC寄存本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闭环光纤陀螺仪的死区克服系统，其特征在于，包括宽谱光源(1)、耦合器(2)、Y波导集成光学芯片(3)、光纤环(4)、光电探测器(5)和信号处理电路；由所述宽谱光源(1)发出的光经耦合器(2)之后进入到Y波导集成光学芯片(3)中，分为顺、逆两束光并通过光纤环(4)传输，再依次返回至Y波导集成光学芯片(3)、耦合器(2)后由光电探测器(5)对光电流进行检测；所述光电探测器(5)输出的检测信号经信号处理电路处理，得到包含串扰误差补偿信息的反馈信号，将反馈信号送入Y波导集成光学芯片(4)进行调制，实现闭环。2.根据权利要求1所述的闭环光纤陀螺仪的死区克服系统，其特征在于，所述的信号处理电路包括：前向放大电路(6)，其用于对光电探测器(5)输出的检测信号进行放大，得到放大后的模拟信号；A/D模块(7)，其用于将放大后的模拟信号转换为数字信号；FPGA数字逻辑电路(8)，其用于对数字信号进行两路处理，其中一路得到阶梯波信号另一路得到串扰误差补偿信号将两路输出相加得到包含串扰误差补偿信息的反馈信号；D/A模块(9)，其用于对包含串扰误差补偿信息的反馈信号由数字形式转换为模拟形式的反馈信号；驱动电路(10)，其用于将模拟形式的反馈信号施加到Y波导集成光学芯片(4)进行调制。3.根据权利要求1所述的闭环光纤陀螺仪的死区克服系统，其特征在于，所述的Y波导集成光学芯片(3)包括起偏器、Y分束器与相位调制器，所述起偏器的一端连接耦合器，另一端连接Y分束器一侧的端口；所述Y分束器另一侧的两个端口分别连接光纤环(4)的两端，形成两个分支；相位调制器位于其中一个或者两个分支上。4.一种基于权利要求1所述的系统实现克服闭环光纤陀螺仪死区的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：将的方波调制信号引入Y波导集成光学芯片(3)的相位调制器上；步骤2：给定一个不在死区范围内的恒定转...

【专利技术属性】
技术研发人员：周柯江，郭帅华，吴巍然，林滢，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：