一种光驱进出仓自动化测试装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种光驱进出仓自动化测试装置和方法，该装置包括微处理器、两个驱动模块、按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块；微处理器通过第一驱动模块与按键执行模块相连，用于控制光驱开关的打开或者关闭；通过第二驱动模块与进仓推动模块相连，用于控制进仓推动模块推动光驱进仓；与光驱位置检测模块相连，用于获取光驱进出仓位置信息。光驱位置检测模块包括第一光驱位置检测模块和第二光驱位置检测模块；分别检测光驱是否完成进仓和出仓。基于该装置，本发明专利技术还提出了一种光驱进出仓自动化测试方法。本发明专利技术可以测试全部类型的光驱，精准判断光驱进出仓测试结果，提高测试效率，降低人力成本。降低人力成本。降低人力成本。

【技术实现步骤摘要】
一种光驱进出仓自动化测试装置和方法


[0001]本专利技术属于光驱进出仓
，特别涉及一种光驱进出仓自动化测试装置和方法。

技术介绍

[0002]在装有光驱的计算机上，常出现光驱不能顺畅进出光驱仓，甚至出现光驱在进出仓过程中卡住的现象。产生此现象的原因主要是计算机箱体中光驱仓结构设计不合理、或光驱仓加工工艺没有控制好，或光驱在装配过程中出现问题，或者光驱本身外壳出现变形等造成。所以光驱进出仓测试在计算机研发测试和批量生产出厂测试中都是必测项目。
[0003]依据光驱类型大致分3种测试流程；流程1、支持系统进出仓命令的光驱，可以基于系统命令实现进出仓测试，系统发出仓命令，光驱出仓，系统发进仓命令，光驱进仓；流程2、不支持系统进出仓命令的光驱，可以通过按光驱开关，按一下光驱开关，光驱出仓；再按一下光驱开关，光驱进仓；流程3、不支持命令和光驱开关实现自主进仓的光驱，按一下光驱开关，光驱出仓，使用外力推动实现光驱进仓。目前的测试方法主要分2种，1是通过编写脚本，实现自动化测试，缺点是这种方法只适用于支持系统进出仓命令的光驱，对于不支持系统进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，包括微处理器、两个驱动模块、按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块；所述微处理器通过第一驱动模块与按键执行模块相连，用于控制光驱开关的打开或者关闭；微处理器通过第二驱动模块与进仓推动模块相连，用于控制进仓推动模块推动光驱进仓；所述微处理器与光驱位置检测模块相连，用于获取光驱进出仓位置信息。2.根据权利要求1所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述光驱位置检测模块包括第一光驱位置检测模块和第二光驱位置检测模块；所述第一光驱位置检测模块采用对射式光电开关，安装在进出仓的近端，用于检测光驱是否完成进仓；所述第二光驱位置检测模块采用对射式光电开关，安装在进出仓的远端。用于检测光驱是否完成出仓。3.根据权利要求1所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述微处理器还与显示器相连；所述显示器用于输入光驱进出仓测试命令和测试参数。4.根据权利要求1所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述微处理器还与通信接口模块相连；用于通过通信接口向待测试计算机发出进出仓命令。5.根据权利要求1至4任意一项所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述装置还包括电源模块；其中电源模块包括工作电源和控制电源；所述工作电源分别为微处理器和显示器供电；所述控制电源分别为按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块供电。6.根据权利要求1所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述第一驱动模块采用第一三极管；所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宁，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：