物体检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供物体检测装置，具备：第一检测部、物体追踪部、第二检测部以及轴偏移判定部。在S402中，第一检测部基于从检测传感器获取的检测信息，来检测移动体与物体的距离以及物体相对于移动体的方位，其中，上述检测传感器包括利用探测波搜索检测区域的探测波传感器。在S406中，物体追踪部基于检测信息，追踪穿过不同的检测区域的相同物体。在S404中，第二检测部基于检测信息，检测物体的高度和物体的水平距离中的至少任一信息作为物体信息。在S408～S412中，轴偏移判定部根据第一检测部基于探测波传感器的检测信息检测出的物体的距离和方位、以及由第二检测部在不同的检测区域检测出的物体信息，来判定探测波传感器是否产生轴偏移。移。移。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】物体检测装置
[0001]相关申请的交叉引用：本国际申请主张基于2018年9月6日向日本专利厅申请的日本专利申请第2018
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166853号的优先权，通过参照将日本专利申请第2018
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166853号的全部内容引用到本国际申请中。


[0002]本公开涉及判定探测波传感器的轴偏移的技术，上述探测波传感器利用探测波搜索移动体周围的检测区域。

技术介绍

[0003]在车辆等移动体搭载探测波传感器，探测波传感器向以检测轴为中心的移动体周围的检测区域照射探测波，检测到存在于检测区域的物体的距离和物体相对于移动体的方位。若探测波传感器的检测轴产生轴偏移，则会误检测物体的方位，因此需要判定探测波传感器的检测轴是否产生轴偏移。
[0004]例如，在专利文献1中记载了如下技术：在利用激光雷达、毫米波雷达、声纳等探测波搜索移动体周围的多个探测波传感器的检测区域重叠的重叠区域存在物体的情况下，基于在重叠区域中由各探测波传感器检测的物体的位置，来判定探测波传感器的检测轴是否产生轴偏移。
[0005]在专利文献本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种物体检测装置，具备：第一检测部(12、S402)，构成为基于从检测传感器获取的检测信息来检测移动体(100)与存在于检测区域(110)的物体(200)的距离以及上述物体相对于上述移动体的方位，其中，上述检测传感器是搭载于上述移动体且以上述移动体周围的不同的检测区域为检测对象的多个检测传感器(2～8)中的至少一个检测传感器是以检测轴(112)为中心利用探测波搜索上述检测区域的探测波传感器(2)；物体追踪部(14、S406)，构成为基于上述检测信息，追踪伴随着上述移动体的移动穿过不同的上述检测区域的相同的上述物体；第二检测部(16、S404)，构成为基于上述检测信息，检测上述物体追踪部所追踪的上述物体的高度以及上述移动体与上述物体的水平方向的水平距离中的至少任一信息作为物体信息；以及轴偏移判定部(18、S408～S412)，构成为针对上述物体追踪部所追踪的相同的上述物体，根据上述第一检测部基于上述探测波传感器的上述检测信息检测出的上述物体的距离和方位、以及由上述第二检测部在与上述探测波传感器的上述检测区域不同的上述检测区域检测出的上述物体信息，来判定上述探测波传感器的上述检测轴是否产生轴偏移。2.根据权利要求1所述的物体检测装置，其中，上述轴偏移判定部构成为基于上述第一检测部所检测的上述物体的距离和上述第二检测部所检测的上述物体信息来推定上述物体的方位，根据推定出的上述方位和上述第一检测部基于上述探测波传感器的上述检测信息检测出的上述物体的方位之差，来判定上述检测轴是否产生轴偏移。3.根据权利要求1或2所述的物体检测装置，其中，上述检测传感器具有至少一个雷...

【专利技术属性】
技术研发人员：近藤胜彦，三宅康之，
申请(专利权)人：株式会社电装，
类型：发明
国别省市：