【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】四极质量分析装置
本专利技术涉及四极质量分析装置。
技术介绍
质量分析装置是根据质荷比(m/z)将源自试样分子的离子分离并检测的装置。四极质量分析装置作为小型且分辨率优异的质量分析装置而被广泛利用。四极质量分析装置是如下的装置：通过将交流电场施加到围绕中心轴而配置的被称为四极滤质器的4根杆状电极上，产生仅使规定的质荷比的离子通过的振荡电场，从而进行质量分析。在四极质量分析装置中，多以混合有应分析的试样分子与氦等低反应性的载气的试样作为测量对象。因此，若要提高测量精度，需要将应分析的试样分子从载气的分子中分离从而进行测量。在专利文献1中，在离子源与四极滤质器之间，通过设置夹着离子光轴对置的电极而在该电极间形成规定的交流电场，使得相对较轻的离子大幅偏转。由此，防止大部分相对较轻的载流子的离子向四极滤质器入射。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开第2005-259481号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题即便使用专利文献1的方法，也有微小比率的载气进...
【技术保护点】
1.一种四极质量分析装置，其特征在于，具备：/n四极滤质器，围绕中心轴配置有4根杆电极；/n磁体，在所述四极滤质器的内部的至少一部分形成与所述中心轴交叉的方向的磁场。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种四极质量分析装置，其特征在于，具备：
四极滤质器，围绕中心轴配置有4根杆电极；
磁体，在所述四极滤质器的内部的至少一部分形成与所述中心轴交叉的方向的磁场。
2.如权利要求1所述的四极质量分析装置，其特征在于，
所述磁体在从所述四极滤质器的入射端到长度方向的中间之间的至少一部分形成所述磁场。
3.如权利要求1所述的四极质量分析装置，其特征在于，
在所述四极滤质器的后级具备碰撞池及第2四极滤质器。
4.如权利要求3所述的四极质量分析装置，其特征在于，
具有第2磁体，在所述第2四极滤质器的内部形成与所述第2四极滤质器的中心轴交叉的方向的磁场。
5.如权利要求1所述的四极质量分析装置，其特征在于，
在所述四极滤质器的后级进一步具备飞行管。
6.如权利要求1～5的任一项所述的四极质量分析装置，其特征在...
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