【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于定位传感器的方法、设备和定位系统本专利技术涉及一种用于定位传感器以监视技术系统的方法、设备和定位系统，其中，对传感器的位置进行优化以优选地提供对技术系统的执行的加强的（intensified）响应信号。针对例如工业工厂或机器之类的技术系统的操作监视，传感器的准确位置是希望的，以使能例如彻底的健康监视、寿命预测或故障检测和/或标识。传感器的错位（misplacement）可以导致差的传感器数据并因此导致不准确的监视和/或预测。然而，最佳的传感器配置，特别是不同类型，受到用于安装或嵌入它们的限制的域或可访问性的约束。本专利技术的目的是确定至少一个传感器的优化位置，以产生用于精确预测和/或故障检测的改进的传感器数据质量。该目的通过独立权利要求的特征解决。从属权利要求包含本专利技术的进一步发展。本专利技术的第一方面涉及一种用于定位传感器的方法，该方法包括以下步骤：-提供技术系统的物理模拟模型，该物理模拟模型包括在给定位置处的虚拟传感器，-借助于物理模拟模型模拟技术系统的执行（performance），
【技术保护点】
1.一种用于定位传感器的方法，包括以下步骤：/n-提供（1）技术系统（TS）的物理模拟模型，所述物理模拟模型包括在给定位置处的虚拟传感器，/n-借助于所述物理模拟模型来模拟（2）所述技术系统的执行，/n-在所述给定位置处提供（3）所述虚拟传感器对模拟执行的响应信号，/n-借助于优化算法确定（4）所述响应信号被加强的所述虚拟传感器的第一优化位置，以及/n-提供（5）所述第一优化位置的坐标，以用于在所述技术系统处定位物理传感器（pS）。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180706 EP 18182182.81.一种用于定位传感器的方法，包括以下步骤：
-提供（1）技术系统（TS）的物理模拟模型，所述物理模拟模型包括在给定位置处的虚拟传感器，
-借助于所述物理模拟模型来模拟（2）所述技术系统的执行，
-在所述给定位置处提供（3）所述虚拟传感器对模拟执行的响应信号，
-借助于优化算法确定（4）所述响应信号被加强的所述虚拟传感器的第一优化位置，以及
-提供（5）所述第一优化位置的坐标，以用于在所述技术系统处定位物理传感器（pS）。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述虚拟传感器的所述响应信号与关于从所述模拟获取的所述技术系统的行为的信息进行比较，并且取决于所述比较来确定所述第一优化位置。
3.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，
-取决于所述第一优化位置的所述坐标将所述物理传感器（pS）放置（6）在某位置处，
-记录（7）所述物理（pS）传感器的响应信号，
-比较（8）所述虚拟传感器和所述物理传感器（pS）的响应信号，以及
-基于所述响应信号的比较来验证（9）放置所述物理传感器（pS）的位置。
4.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，提供（10）关于所述验证的结果的通知。
5.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，基于所述物理传感器（pS）的传感器数据来更新（11）所述物理模拟模型。
6.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，
-借助于所述物理模拟模型来模拟所述技术系统（TS）的故障，
-提供所述虚拟传感器对所述故障的响应信号，
-借助于所述优化算法确定对所述故障的所述响应信号被加强的所述虚拟传感器的第二优化位置，以及
-提供所述第二优化位置的坐标和/或在所述第二优化位置处的对所述故障的所述响应信号。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，
-记录放置在所述第二优化位置处的物理传感器（pS）的响应信号，
-将所述物理传感器（pS）的所述响应信号与所述虚拟传感器的对所述故障的所述响应信号进行比较，以及
-取决于所述响应信号的比较来执行所述技术系统（TS）的错误控制。
8.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，所述物理模拟模型包括至少两个不同传感器类型的多个虚拟传感器，并且借助于所述优化算法确定所述虚拟传感器的所述响应信号被加强的所述虚拟传感器的优化位置。
9.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，所述物理模拟模型包括所述技术系统（TS）的数学或数字或数据模型和设计模型。
10.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，借助于定位系统（200）将所述物理传感器（pS）放置在所述第一优化位置或所述第二优化位置处。
11.一种用于定位传感器的设备，包括：
-模拟模块（101），被配置为提供技术系统（TS）的物理模拟模型，所述物理模拟模型包括在给定位置...
【专利技术属性】
技术研发人员：A·博斯科，C·海因里希，M·哈利勒，S·奈尔，
申请(专利权)人：西门子股份公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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