流体温度调节装置制造方法及图纸

流体温度调节装置(20)包括磁路部(25)，在所述磁路部(25)，设置有收纳磁工质(31)并供与磁工质(31)进行热交换的流体流动的磁工质收纳部(30)、和用于对磁工质收纳部(30)施加磁场的线圈(33)。在磁路部(25)设置有抑制在磁工质收纳部(30)产生的水流到线圈(33)的线圈防水构造。其结果是，能够抑制从线圈通过水产生漏电。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】流体温度调节装置
本公开涉及一种流体温度调节装置。
技术介绍
迄今为止，利用磁工质来调节流体温度的装置已为人所知。例如，在专利文献1中公开了下述温度调节装置：其包括磁路，在所述磁路设置有收纳磁工质的磁工质收纳部和用于对该磁工质收纳部施加磁场的线圈，并且构成为在磁工质收纳部中，在其内部流动的流体与磁工质之间进行热交换。磁工质例如当被施加磁场时发热，另一方面，当被去除磁场时吸热(磁热效应)。在温度调节装置中，利用该磁热效应对流体进行加热或冷却。现有技术文献专利文献专利文献1：日本公开专利公报特开2004－317040号公报
技术实现思路
－专利技术要解决的技术问题－然而，有时存在下述情况：在磁工质收纳部，周围的空气在磁工质的吸热作用下冷却，从而产生结露水。当这样的结露水沿着构成磁路的铁心等部件流动而到达线圈时，就有可能会从线圈产生漏电。本公开的目的在于：抑制从线圈通过水产生漏电。－用以解决技术问题的技术方案－本公开的第一方面以一种流体温度调节装置20为对象。该流体温度调节装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种流体温度调节装置，其特征在于：/n所述流体温度调节装置包括磁路部(25)和线圈防水构造，/n在所述磁路部(25)，设置有收纳磁工质(31)并供与所述磁工质(31)进行热交换的流体流动的磁工质收纳部(30)、和用于对该磁工质收纳部(30)施加磁场的线圈(33)，/n所述线圈防水构造设置于所述磁路部(25)，并抑制在所述磁工质收纳部(30)产生的水流至所述线圈(33)。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180914 JP 2018-1720201.一种流体温度调节装置，其特征在于：
所述流体温度调节装置包括磁路部(25)和线圈防水构造，
在所述磁路部(25)，设置有收纳磁工质(31)并供与所述磁工质(31)进行热交换的流体流动的磁工质收纳部(30)、和用于对该磁工质收纳部(30)施加磁场的线圈(33)，
所述线圈防水构造设置于所述磁路部(25)，并抑制在所述磁工质收纳部(30)产生的水流至所述线圈(33)。


2.根据权利要求1所述的流体温度调节装置，其特征在于：
所述线圈防水构造是所述线圈(33)被布置于比在所述磁工质收纳部(30)产生的水所流经的路径高的位置处的构造。


3.根据权利要求2所述的流体温度调节装置，其特征在于：
所述线圈(33)布置于所述磁工质收纳部(30)的上方。


4.根据权利要求2所述的流体温度调节装置，其特征在于：
所述线圈防水构造具有线圈骨架(32)，该线圈骨架(32)供所述线圈(33)卷绕，且包括阻止从所述磁工质收纳部(30)流过来的水到达所述线圈(33)的下凸缘部(32c)。


5.根据权利要求1所述的流体温度调节装置，其特征在于：
所述线圈防水构造是在构成所述磁路部(25)的铁心(26)、与所述线圈(33)之间形成有间...

【专利技术属性】
技术研发人员：榧野茜，浅野能成，日比野宽，
申请(专利权)人：大金工业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP