【技术实现步骤摘要】
一种MicroLED深度颜色校正的方法及系统
本专利技术涉及MicroLED显示
，特别涉及一种MicroLED深度颜色校正的方法及系统。
技术介绍
MicroLED的电致发光光谱根据驱动电压和电流的大小变化而显著变化，同时由于MicroLED显示屏每个点的离散分布特性，存在亮度不一致性和色度不一致性。因此，在大量像素上确保红色，绿色，蓝色在色度和亮度方面的均匀性，对于批量生产具有挑战性。由于LED颜色不均(波长一致性差)，不同的LED之间亮度和波长都存在着很大的差异，当显示屏使用一段时间后，在不同的区域会出现不同的亮度和色度差异，从而导致出现麻点，甚至花屏现象。传统大尺寸LED灯生产完成后，可通过对每一个灯进行测试，保证一致性。但是对于MicroLED来讲，由于MicroLED其微米级的尺寸，在生产中通过机械处理进行的色彩校正受到限制。MicroLED显示屏中每个显示点尺寸在100微米左右，生产中是通过巨量转移方式实现的，不可能把每个或者某几个MicroLED显示点单独测试。因此，现有技术还有待于改进
【技术保护点】
1.一种Micro LED深度颜色校正的方法，其特征在于，包括步骤：/n根据Micro LED显示屏的RGB三基色数据构建各个显示像素的颜色校正参数矩阵；/n根据所述颜色校正参数矩阵对各个显示像素的显示脉宽进行调整，实现Micro LED深度颜色校正。/n
【技术特征摘要】
1.一种MicroLED深度颜色校正的方法，其特征在于，包括步骤：
根据MicroLED显示屏的RGB三基色数据构建各个显示像素的颜色校正参数矩阵；
根据所述颜色校正参数矩阵对各个显示像素的显示脉宽进行调整，实现MicroLED深度颜色校正。
2.根据权利要求1所述MicroLED深度颜色校正的方法，其特征在于，所述根据MicroLED显示屏的原始RGB三基色数据构建各个显示像素的颜色校正参数矩阵的步骤包括：
将MicroLED显示屏划分成a×b个显示像素，每个显示像素包含m*m个MicroLED，其中m为大于等于2的整数；
获取当前显示像素的RGB三基色数据以及与其相接的显示像素的RGB三基色数据，根据麦克亚当的颜色容量图进行对比计算，获得当前像素的颜色校正数据，依次获得所述a×b个显示像素的颜色校正数据，生成颜色校正参数矩阵。
3.根据权利要求2所述MicroLED深度颜色校正的方法，其特征在于，m为4至16之间的整数。
4.根据权利要求2所述MicroLED深度颜色校正的方法，其特征在于，通过CCD相机采集当前显示像素的RGB三基色数据以及与其相接的显示像素的RGB三基色数据。
5.根据权利要求2所述MicroLED深度颜色校正的方法，其特征在于，所述RGB三基色数据包括亮度、色度和饱和度。
6.根据权利要求1所述MicroLED深度颜色校正的方法，其特征在于，所述根据所述颜色校正参数矩阵对各个显示像素的显示脉宽进行调整，实现MicroLED深度颜色校正的步骤包括：
根据所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：王得喜，
申请(专利权)人：康佳集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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