DWDM光模块发端调试方法技术

本发明专利技术公开了一种DWDM光模块发端调试方法，包括：S1、基于模块中激光器的特性，通过对发射中心波长与TEC温度斜率K1、发射光功率与TEC温度斜率K2进行计算，并根据计算结果得到对应的TEC温度、功率变化量；S2、根据TEC温度、功率变化量，在DWDM模块发端调试时，对发端功率、中心波长进行预调试，进而缩减发端中心波长调试的次数和发端调试循环的次数。本发明专利技术提供一种DWDM光模块发端调试方法，其利用发端调试中根据TOSA的工作特性，预先计算出发射中心波长与TEC温度斜率K1，发射光功率与TEC温度斜率K2，在DWDM模块发端调试时，用K1、K2系数计算出所需的目标值替代实际调试值，缩减发端中心波长调试的次数、发端调试循环的次数、调试等待时间，大幅降低发端调试的用时，调高生产效率，调试时间只是现有方案的二分之一，调试效率提高200％。

【技术实现步骤摘要】
DWDM光模块发端调试方法
本专利技术涉及一种光通信领域。更具体地说，本专利技术涉及一种DWDM光模块发端调试方法。
技术介绍
如图2，DWDM光模块发射端主要由激光驱动器、发射光器件(TransmittingOpticalSub-Assembly，以下简称TOSA)、微控制单元、TEC温度驱动四部分组件。激光驱动器主要是为TOSA提供偏置和调制电流，调节TOSA的光功率，TOSA主要是完成电信号光信号的转换，根据不同的电流发射出不同的光功率，TEC温度驱动主要为TOSA的半导体制冷器(ThermoElectricCooler，以下简称TEC)提供驱动，调节激光器的工作温度DWDM光模块发端调试主要是通过激光驱动器调整TOSA的工作电流、通过TEC温度驱动器调整TOSA的工作温度，使TOSA发射光功率、中心波长满足使用要求。通过图3的发射光器件特性可以看出，激光器发射功率随工作电流成正比，工作电流越大发射光功率越大；相同的工作电流时工作温度越高，发射功率越低。TOSA中心波长随激光工作温度变化，根据是采用TOSA，中心波长随温度本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种DWDM光模块发端调试方法，其特征在于，包括：/nS1、基于模块中激光器的特性，通过对发射中心波长与TEC温度斜率K1、发射光功率与TEC温度斜率K2进行计算，并根据计算结果得到对应的TEC温度、功率变化量；/nS2、根据TEC温度、功率变化量，在DWDM模块发端调试时，对发端功率、中心波长进行预调试，进而缩减发端中心波长调试的次数和发端调试循环的次数。/n

【技术特征摘要】
1.一种DWDM光模块发端调试方法，其特征在于，包括：
S1、基于模块中激光器的特性，通过对发射中心波长与TEC温度斜率K1、发射光功率与TEC温度斜率K2进行计算，并根据计算结果得到对应的TEC温度、功率变化量；
S2、根据TEC温度、功率变化量，在DWDM模块发端调试时，对发端功率、中心波长进行预调试，进而缩减发端中心波长调试的次数和发端调试循环的次数。


2.如权利要求1所述的DWDM光模块发端调试方法，其特征在于，在步骤S1中，所述TEC温度、功率变化量的获得步骤被配置为包括：
S10、通过调节TOSA工作电流，使TOSA发射功率满足使用要求范围；
S11、根据功率调试后当前波长与目标波长的差异值，基于波长与TEC斜率K1计算出需调试TOSA的...

【专利技术属性】
技术研发人员：范巍，杨培云，何志贤，
申请(专利权)人：四川华拓光通信股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51