一种基于光子辅助的微波频率测量方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及微波光子领域，公开了一种基于光子辅助的微波频率测量方法与装置，本方法中，激光器输出的光载波分为两路，上路光载波形成第一相位调制光信号，并经过幅值整型后形成幅值线性整型光信号；下路光载波形成第二相位调制光信号；第二相位调制光信号分为两分支，上分支经过左带通滤波器后得到左边带相位调制信号，再经过第一移频器得到第一移频信号；下分支经过右带通滤波器后得到右边带相位调制信号，再经过第二光移频器得到第二移频信号；幅值线性整型光信号、第一光移频信号和第二光移频信号合束后转换为电信号，最后对电信号进行分析，获得待测频率。本发明专利技术提供的装置及方法不仅提升了微波频率测量的范围，而且实现多频率的实时测量。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光子辅助的微波频率测量方法与装置
本专利技术属于微波光子领域，具体涉及一种基于光子辅助的微波频率测量方法与装置。
技术介绍
微波频率的测量对现代电子战中快速预警和拦截敌方未知信号有着重要的研究意义，传统的微波频率测量技术主要借助于电子器件，然而随着微波频段的提升，电子器件面临着带宽瓶颈的问题，无法满足高带宽、高精度和多频率微波频率测量。光子技术由于具有宽带、高精度、多维的信号处理能力而运用于微波频率测量以显著提升微波频率测量带宽。然而当前大部分的基于光子辅助的微波频率测量技术，例如频率-幅度映射测频法、频率-时间映射测频法和频率-频率映射测频法等测量带宽都局限在20GHz以内的频率范围和测量精度仅为GHz量级且不均匀，即使能实现宽带范围内微波频率测量的扫频法仍很难适用于多频率微波信号的实时频率测量。因此，现有的光子辅助的微波频率测量方法面临着技术不成熟，实现难度大的问题，无法满足高带宽、高精度和多频率微波信号的频率实时测量需求。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：针对上述存在的问题，提供了一种基于光子辅助本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光子辅助的微波频率测量方法，其特征在于，包括：/n激光器输出的光载波分为第一路光载波和第二路光载波，所述第一路光载波经过第一相位调制器时，加载待测的微波信号，形成第一相位调制光信号，通过线性光滤波器对所述第一相位调制光进行线性幅值整型，形成幅值与频率具有线性映射关系的幅值线性整型光信号；/n所述第二路光载波经过第二相位调制器，在本振源的配合下，加入本振信号，形成第二相位调制光信号；/n所述第二相位调制光信号分为两分支，所述第一分支第二相位调制光信号先经过左带通滤波器进行左带通滤波得到左边带相位调制信号，再通过第一光移频器得到第一光移频信号；/n所述第二分支第二相位调制光信号先经过右...

【技术特征摘要】
1.一种基于光子辅助的微波频率测量方法，其特征在于，包括：
激光器输出的光载波分为第一路光载波和第二路光载波，所述第一路光载波经过第一相位调制器时，加载待测的微波信号，形成第一相位调制光信号，通过线性光滤波器对所述第一相位调制光进行线性幅值整型，形成幅值与频率具有线性映射关系的幅值线性整型光信号；
所述第二路光载波经过第二相位调制器，在本振源的配合下，加入本振信号，形成第二相位调制光信号；
所述第二相位调制光信号分为两分支，所述第一分支第二相位调制光信号先经过左带通滤波器进行左带通滤波得到左边带相位调制信号，再通过第一光移频器得到第一光移频信号；
所述第二分支第二相位调制光信号先经过右带通光滤波器进行右带通滤波得到右边带相位调制信号，再经过第二光移频器得到第二光移频信号；
将所述幅值线性整型光信号、所述第一光移频信号和所述第二光移频信号进行合束，合束后再经过低速光电探测器光电转换为电信号，然后利用所述频谱分析模块对电信号进行分析，得到第一光移频信号和第二光移频信号的幅值之比，最后通过线性光滤波器的线性映射关系获得待测微波信号的频率。


2.根据权利要求1所述的一种基于光子辅助的微波频率测量方法，其特征在于，在形成幅值与频率具有线性映射关系的幅值线性整型光信号步骤中，其幅值线性整型光信号的公式如下：



其中，f0为光载波的频率，As为第一路光载波的幅值，fm为待测微波信号的频率，ms对应于所述第一相位调制器的调制系数，t为时间。


3.根据权利要求2所述的一种基于光子辅助的微波频率测量方法，其特征在于，所述第一光移频信号的公式如下：



其中，Ar为第一路光载波的幅值，mr为第二相位调制器的调制系数，f1为所述第一光移频器的移频频率，所述fn为本振信号的频率。


4.根据权利要求3所述的一种基于光...

【专利技术属性】
技术研发人员：王恒，徐兵杰，黄伟，皮峣迪，邹新海，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第三十研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51