一种集成电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定安装有固定座和竖板，竖板的顶部固定安装有横板，横板的顶部固定安装有第一电动推杆和电仪表，第一电动推杆的输出端固定安装有第一伸缩杆，横板的顶部开设有圆孔，第一伸缩杆的底端贯穿圆孔并固定安装有安装板。本实用新型专利技术设计合理，实用性好，便于对不同尺寸的集成电路进行稳固夹持，避免对集成电路测试过程中造成集成电路发生偏移而导致测试结果不准确，并且便于对测试探针的高度位置和水平位置进行调节，不需人工手动调节，给检测工作带来便捷性，而且能够实现了对多个集成电路进行连续性测试工作，合理利用工作时间，大大的提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置
本技术涉及集成电路测试
，具体为一种集成电路测试装置。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，当今，半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路，在进行集成电路生产过程中，需要使用侧视设备对集成电路进行性能检测，以判断集成电路是否合格。经检索，授权公告号为CN207965052U公开了一种集成电路测试装置，包括底座、电路测试座、测试探针、探针连接板、旋转杆头、连接杆、锁扣、支撑杆、手柄、前顶板、电仪表，测试探针通过螺丝与探针连接板贯穿连接并且水平设有三个，旋转杆头垂直安装于探针连接板上端并且与连接杆相连接，锁扣设有两个并且下端通过螺丝贯穿于连接杆顶部，锁扣上端通过螺丝与支撑杆相连接，该集成电路测试装置，在结构上设置了测试探针，并且通本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部固定安装有固定座(2)和竖板(3)，竖板(3)的顶部固定安装有横板(4)，横板(4)的顶部固定安装有第一电动推杆(5)和电仪表(6)，第一电动推杆(5)的输出端固定安装有第一伸缩杆(7)，横板(4)的顶部开设有圆孔，第一伸缩杆(7)的底端贯穿圆孔并固定安装有安装板(8)，安装板(8)的底部设有电机(9)，电机(9)的输出轴端固定安装有探针连接板(10)，探针连接板(10)的底部固定安装有三个测试探针(11)，固定座(2)的顶部开设有滑槽(12)，滑槽(12)的一侧内壁上固定安装有第二电动推杆(13)，第二电动推杆(13)...

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部固定安装有固定座(2)和竖板(3)，竖板(3)的顶部固定安装有横板(4)，横板(4)的顶部固定安装有第一电动推杆(5)和电仪表(6)，第一电动推杆(5)的输出端固定安装有第一伸缩杆(7)，横板(4)的顶部开设有圆孔，第一伸缩杆(7)的底端贯穿圆孔并固定安装有安装板(8)，安装板(8)的底部设有电机(9)，电机(9)的输出轴端固定安装有探针连接板(10)，探针连接板(10)的底部固定安装有三个测试探针(11)，固定座(2)的顶部开设有滑槽(12)，滑槽(12)的一侧内壁上固定安装有第二电动推杆(13)，第二电动推杆(13)的输出端固定安装有第二伸缩杆(14)，滑槽(12)内滑动安装有滑座(15)，第二伸缩杆(14)远离第二电动推杆(13)的一端与滑座(15)的一侧固定连接，滑座(15)的顶部延伸至滑槽(12)外并固定安装有电路测试座(16)，电路测试座(16)位于测试探针(11)的正下方，电路测试座(16)的顶部开设有两个放置槽(17)，两个放置槽(17)相互远离的一侧内壁上均开设有螺纹孔(18)，两个螺纹孔(18)内均螺纹安装有丝杆(19)，丝杆(19)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨光，
申请(专利权)人：深圳市博盛盈科供应链有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44