一种光学器件的表平面的角度测量装置制造方法及图纸

一种光学器件的表平面的角度测量装置，依次排列有：反射光接收屏、准直器装置、旋转测试夹具；所述准直器装置，包括：准直器固定台、固定在所述准直器上方的准直器主体；所述旋转测试夹具，包括：T型固定底座、中心定位固定夹具、球头柱塞；所述中心定位固定夹具通过所述所述球头柱塞固定在所述T型固定底座上；所述中心定位固定夹具用于固定被测元件。本实用新型专利技术通过旋转装置将被测元件旋转180°，测量出两次反射光在光屏的距离，就能准确测量计算出待测元件的表平面与垂直线之间的角度。测试时使用方便，测试工时少，可以快速准确的测量出待测元件的角度。

【技术实现步骤摘要】
一种光学器件的表平面的角度测量装置
本技术属于光学器件
，具体是指一种光学器件的表平面的角度测量装置。
技术介绍
角度测量是计量科学的重要组成部分，特别是微小角度的测量在精密加工、航天航空、军事、通讯等许多领域都有极其重要的意义和作用。一般机械式量具和仪器已经不能满足许多角度的测量。光学测角方法具有非接触、高准确度和高灵敏度的特点。被测试的元件包括C-LENS&G-LENS&光纤头的平面的角度(如图1所示)，带轴对称的晶体的通光面的角度如YVO4晶体(如图2所示)，以及其他的带轴对称可通光的元件。目前市面上常见的光学检测角度的仪器有测角仪，测角仪大多采用平行光管自准直反射式测量角度。平行光管自准直反射式测角仪的装置在测量角度时需要将平行光入射到待测的元件表面，记录入射光的位置，以及反射光在光屏的位置。一旦测量过程中入射光的位置发生改变，就会对测量结果造成影响，带来测量的误差。并且，如果入射光没有垂直入射到待测元件的表面时，而在计算角度时通常用光屏到待测元件的距离进行计算，就会造成一定的测量误差，而如本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学器件的表平面的角度测量装置，其特征在于：依次排列有：反射光接收屏、准直器装置、旋转测试夹具；/n所述准直器装置，包括：准直器固定台、固定在所述准直器上方的准直器主体；/n所述旋转测试夹具，包括：T型固定底座、中心定位固定夹具、球头柱塞；所述中心定位固定夹具通过所述球头柱塞固定在所述T型固定底座上；所述中心定位固定夹具用于固定被测元件。/n

【技术特征摘要】
1.一种光学器件的表平面的角度测量装置，其特征在于：依次排列有：反射光接收屏、准直器装置、旋转测试夹具；
所述准直器装置，包括：准直器固定台、固定在所述准直器上方的准直器主体；
所述旋转测试夹具，包括：T型固定底座、中心定位固定夹具、球头柱塞；所述中心定位固定夹具通过所述球头柱塞固定在所述T型固定底座上；所述中心...

【专利技术属性】
技术研发人员：张芬，叶文辉，陈建林，
申请(专利权)人：福建华科光电有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35