一种机床轴线测量方法以及装置制造方法及图纸

本申请提供一种机床轴线测量方法，可以包括：从获取的第一图像集合中，确定标定物上多个特征点中每一个特征点的第一坐标集合；所述第一图像集合为在旋转过程中所述标定物的多张第一图像的集合；所述标定物在所述机床的旋转平台上；所述第一坐标集合为所述多张第一图像中同一特征点在转台坐标系下第一坐标的集合；根据所述多个特征点中每一个特征点的第一坐标集合，确定所述每一个特征点对应运动轨迹的圆心；根据所述每一个特征点对应运动轨迹的圆心，确定所述旋转平台的旋转轴线。实施本发明专利技术实施例，能够能够降低误差测量成本，同时便捷测量机床误差，并且适用范围广泛。

【技术实现步骤摘要】
一种机床轴线测量方法以及装置
本申请涉及机床的轴线测量领域，尤其涉及一种机床轴线测量方法以及装置。
技术介绍
数控机床几何误差是构成数控机床加工误差的主要误差源之一。其中，五轴机床不仅存在三项位置度、六项直线度、九项角摆误差、三项三轴之间的垂直度，还存在两个转台的位置度等23项误差。为了追求机床精度，一般采用数控系统对误差进行补偿的方式；具体地，测量机床的轴线，特别是旋转轴线，对于一些重要误差的确定以及补偿影响很大。目前，一般采用传统的接触式测量以及其他高精度复杂设备的装填，不仅操作繁琐复杂、成本较高。而且接触式测量涉及的步骤以及设备，并不适用桌面型机床操作。因此，如何降低成本且便捷测量机床误差，是本申请亟需解决的问题。
技术实现思路
本申请提供一种机床轴线测量方法，能够降低误差测量成本，同时便捷测量机床误差，并且适用范围广泛。第一方面，本专利技术实施例提供了一种机床轴线测量方法，应用于机床，可以包括：从获取的第一图像集合中，确定标定物上多个特征点中每一个特征点的第一坐标集合；所述第一图像集合本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机床轴线测量方法，其特征在于，应用于机床，包括：/n从获取的第一图像集合中，确定标定物上多个特征点中每一个特征点的第一坐标集合；所述第一图像集合为在旋转过程中所述标定物的多张第一图像的集合；所述标定物在所述机床的旋转平台上；所述第一坐标集合为所述多张第一图像中同一特征点在转台坐标系下第一坐标的集合；/n根据所述多个特征点中每一个特征点的第一坐标集合，确定所述每一个特征点对应运动轨迹的圆心；/n根据所述每一个特征点对应运动轨迹的圆心，确定所述旋转平台的旋转轴线。/n

【技术特征摘要】
1.一种机床轴线测量方法，其特征在于，应用于机床，包括：
从获取的第一图像集合中，确定标定物上多个特征点中每一个特征点的第一坐标集合；所述第一图像集合为在旋转过程中所述标定物的多张第一图像的集合；所述标定物在所述机床的旋转平台上；所述第一坐标集合为所述多张第一图像中同一特征点在转台坐标系下第一坐标的集合；
根据所述多个特征点中每一个特征点的第一坐标集合，确定所述每一个特征点对应运动轨迹的圆心；
根据所述每一个特征点对应运动轨迹的圆心，确定所述旋转平台的旋转轴线。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从获取的第一图像集合中，确定标定物上多个特征点中每一个特征点的第一坐标集合之前，还包括：
以预设角度在所述旋转平台上设立所述标定物；所述旋转平台用于带动所述标定物绕所述旋转平台的旋转轴线旋转；
通过拍摄设备获取所述第一图像集合。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从获取的第一图像集合中，确定标定物上多个特征点中每一个特征点的第一坐标集合，包括：
根据所述第一图像集合，确定所述每一个特征点的第二坐标集合；所述第二坐标集合为所述每一个特征点在世界坐标系下第二坐标集合；
根据第一外参将所述第二坐标转换为所述第一坐标；所述第一参数为根据所述标定物和所述拍摄设备确定的。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述标定物为标定板；所述根据第一外参将所述第二坐标转换为所述第一坐标之前，还包括：
在所述旋转平台上平放所述标定板后，根据所述拍摄设备确定所述第一外参。


5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个特征点中每一个特征点的第一坐标集合，确定所述每一个特征点对应运动轨迹的圆心，包括：
根据第一特征点的第一坐标集合拟合第一平面；所述第一特征点为所述多个特征点中任一特征点；
在所述第一平面上建立坐标系，将第一特征点的第一坐标集合中每个第一坐标对应的点映射到所述第一平面；
根据映射到所述第一平面内的点，确定所述第一特征点对应运动轨迹的圆心；
直至确定所述每一个特征点对应运动轨迹的圆心。


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【专利技术属性】
技术研发人员：曹阳，黄国明，杨琪，曾帆，李运豪，翟剑坤，王佳轩，刘国帅，
申请(专利权)人：深圳数马电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44