一种滤波电容器的损耗测试方法、介质及系统技术方案

技术编号:28031322 阅读:27 留言:0更新日期:2021-04-09 23:12
本发明专利技术公开一种滤波电容器的损耗测试方法、介质及系统。该损耗测试方法包括:搭建滤波电容器单元的损耗测试电路;测试不同频率对应的待测的滤波电容器元件的介质损耗因数;计算同一频率对应的所有待测的滤波电容器元件的介质损耗因数的均值;以频率为横坐标,介质损耗因数的均值为纵坐标,绘制介质损耗因数曲线;测试得到额定电压下频率50Hz对应的滤波电容器单元的损耗值;计算频率50Hz对应的连接排的损耗值;计算每一预设频率对应的滤波电容器单元的损耗值;计算额定电压下频率50Hz对应的滤波电容器单元的损耗值与所有预设频率对应的滤波电容器单元的损耗值的和,得到滤波电容器单元的总损耗值。本发明专利技术的测试结果更加准确。

【技术实现步骤摘要】
一种滤波电容器的损耗测试方法、介质及系统
本专利技术涉及滤波电容器
,尤其涉及一种滤波电容器的损耗测试方法、介质及系统。
技术介绍
电容器的额定电流由基波电流与所有谐波电流的均方根值确定,该算法存在以下问题:①电容器元件的介质结构在不同频率下具有不同的介质损耗,将所有谐波以相同的热效应进行折算并不准确;②电容器元件的极板由铝箔卷绕而成,具有分布电感和分布电阻,分布电感和分布电阻使不同频率的电流在电容器元件上有不同的分布,这也导致不同频率的电流下电容器元件的损耗功率不同。因此,简单的以各次谐波电流的均方根值作为滤波电容器的额定电流,得到的滤波电容器的损耗不太准确,无法反应滤波电容器的损耗对选型和设计的影响。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种滤波电容器的损耗测试方法、介质及系统,以解决现有技术的得到滤波电容器的损耗不太准确的问题。第一方面,提供一种滤波电容器的损耗测试方法,包括:搭建滤波电容器单元的损耗测试电路,其中,所述损耗测试电路包括:滤波电容器单元和损耗测试电桥,其中,所述滤波电容器单元包括:本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种滤波电容器的损耗测试方法,其特征在于,包括:/n搭建滤波电容器单元的损耗测试电路,其中,所述损耗测试电路包括:滤波电容器单元和损耗测试电桥,其中,所述滤波电容器单元包括:滤波电容器元件和连接排,每一所述滤波电容器元件的一极板连接所述连接排的一端,每一所述滤波电容器元件的另一极板焊接有熔丝,所述损耗测试电桥的一端连接所述连接排的另一端,所述损耗测试电桥的另一端连接所述滤波电容器元件的熔丝;/n在预设频率范围内,测试不同频率对应的所述滤波电容器元件的介质损耗因数;/n计算同一频率对应的所有所述滤波电容器元件的介质损耗因数的均值;/n以频率为横坐标,所述介质损耗因数的均值为纵坐标,绘制介质损...

【技术特征摘要】
1.一种滤波电容器的损耗测试方法,其特征在于,包括:
搭建滤波电容器单元的损耗测试电路,其中,所述损耗测试电路包括:滤波电容器单元和损耗测试电桥,其中,所述滤波电容器单元包括:滤波电容器元件和连接排,每一所述滤波电容器元件的一极板连接所述连接排的一端,每一所述滤波电容器元件的另一极板焊接有熔丝,所述损耗测试电桥的一端连接所述连接排的另一端,所述损耗测试电桥的另一端连接所述滤波电容器元件的熔丝;
在预设频率范围内,测试不同频率对应的所述滤波电容器元件的介质损耗因数;
计算同一频率对应的所有所述滤波电容器元件的介质损耗因数的均值;
以频率为横坐标,所述介质损耗因数的均值为纵坐标,绘制介质损耗因数曲线;
测试得到额定电压下频率50Hz对应的滤波电容器单元的损耗值;
采用连接排损耗计算式计算频率50Hz对应的所述连接排的损耗值,其中,所述连接排损耗计算式为PB表示频率50Hz对应的所述连接排的损耗值,PT表示额定电压下频率50Hz对应的所述滤波电容器单元的损耗值,I50表示频率50Hz对应的电流有效值,C表示所述滤波电容器单元的电容值,tan50δ表示频率50Hz对应的所述滤波电容器元件...

【专利技术属性】
技术研发人员:史磊柴斌尤鸿芃吴鹏姚成雷战斐宋海龙刘若鹏刘钊李昊毛春翔邓沛
申请(专利权)人:国网宁夏电力有限公司国网宁夏电力有限公司检修公司西安西电电力电容器有限责任公司
类型:发明
国别省市:宁夏;64

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