【技术实现步骤摘要】
一种基于图像缺陷差异消除方法的光学检测仪
本专利技术涉及光学检测和图像处理领域，尤其是涉及一种基于图像缺陷差异消除方法的光学检测仪。
技术介绍
现有技术中的光学检测仪器无法识别轻微瑕疵和做工缺陷的区别容易形成误判，且工作效率较低，检测探照灯光的强度都为同一种强度，有较大的局限性和错误率；同时，现有的图像去噪处理方式是先去噪、再增亮，两个步骤是相对独立的过程，计算复杂度过大，性能开销较高，难以在要求低成本高效率的工业活动中进行部署。
技术实现思路
专利技术目的：为了克服
技术介绍
的不足，本专利技术公开了一种基于图像缺陷差异消除方法的光学检测仪；还公开了所述图像缺陷差异消除方法，将增亮与去噪融合在同一个框架中，优化了整个处理流程，大大减少了计算量，降低占用的计算资源同时降低成本；增加图像噪声感应模块，提高对PCB板的纠错效率和准确率。技术方案：本专利技术公开了一种基于图像缺陷差异消除方法的光学检测仪，包括：基座，所述基座上表面分为操作面和检测面，所述操作面和检测面均开口，所述检测面上设有检测盒体，所述检...
【技术保护点】
1.一种基于图像缺陷差异消除方法的光学检测仪，其特征在于，包括：基座(1)，所述基座(1)上表面分为操作面(101)和检测面(102)，所述操作面(101)和检测面(102)均开口，所述检测面(102)上设有检测盒体(2)，所述检测盒体(2)内设有检测光源(3)，对准检测面(102)的开口处，所述基座(1)内设有轨道(4)，由操作面(101)的开口处延伸至检测面(102)的开口处，所述轨道(4)上设有用于放置待测产品的载台(5)；/n所述检测盒体(2)内还设有检测图像缺陷差异装置(6)，包括图像数据采集模块、原始光照图像数据获取模块及图像去噪模块。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于图像缺陷差异消除方法的光学检测仪，其特征在于，包括：基座(1)，所述基座(1)上表面分为操作面(101)和检测面(102)，所述操作面(101)和检测面(102)均开口，所述检测面(102)上设有检测盒体(2)，所述检测盒体(2)内设有检测光源(3)，对准检测面(102)的开口处，所述基座(1)内设有轨道(4)，由操作面(101)的开口处延伸至检测面(102)的开口处，所述轨道(4)上设有用于放置待测产品的载台(5)；
所述检测盒体(2)内还设有检测图像缺陷差异装置(6)，包括图像数据采集模块、原始光照图像数据获取模块及图像去噪模块。
2.根据权利要求1所述的基于图像缺陷差异消除方法的光学检测仪，其特征在于：所述载台(5)通过伺服电机(7)驱动设置在轨道(4)上；所述载台(5)上设有夹具(8)，所述夹具(8)通过旋转机台设置在载台(5)上；所述操作面(101)上设有控制伺服电机(7)和旋转机台工作的控制键(9)。
3.根据权利要求1所述的基于图像缺陷差异消除方法的光学检测仪，其特征在于：所述检测盒体(2)内设有光强控制模块(10)与检测光源(3)连接，所述光强控制模块(10)为光敏电阻，根据周围环境亮度自动调节检测光源(3)的亮度。
4.根据权利要求1所述的基于图像缺陷差异消除方法的光学检测仪，其特征在于：所述基座(1)内还设有用于控制整个设备的系统主机，以及与系统主机连接的显示屏(11)和键盘(12)。
5.一种图像缺陷差异消除方法，其特征在于，基于所述检测图像缺陷差异装置(6)实现，包括以下步骤：
S1、采集原始图像数据，所述原始图像数据中具有表示亮度的原始亮度图像数据；
S2、在降低对比度的条件下，对所述原始亮度图像数据进行滤波处理，获得原始光照图像数据；
S3、提高所述原始光照图像数据的亮度，获得目标光照图像数据；
S4、若所述原始图像数据为所述原始光照图像数据与反射图像数据之间的叠加，则将所述目标光照图像数据与所述反射图像数据合成为特征图...
【专利技术属性】
技术研发人员：周先春，王博文，石兰芳，殷豪，唐慧，翟靖宇，葛彬城，
申请(专利权)人：南京信息工程大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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