一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法技术

本发明专利技术涉及一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法根据两个V型槽尺寸分别加工出对应的锥尖销；将一个锥尖销通过销孔固定在底座上，另一锥尖销通过销孔与百分表连接；将待测零件放置两锥尖处，即可通过百分表的读数测出零件V型槽处的实际壁厚尺寸；移动底座，即可检测整个长度方向双面V型槽的壁厚尺寸。本发明专利技术能够实现狭窄V型槽的壁厚检测，检测精度高；只需V型槽角度及锥尖圆角与锥尖销相同即可进行检测，而与槽宽、槽深等V型槽其他尺寸无关，通用性强；只需根据不同角度及锥尖圆角制作不同的V型锥尖销，即可实现不同尺寸的双面V型槽壁厚检测，成本低，效率高。取消下锥尖销，即可适用于单面V型槽结构的壁厚检测。

【技术实现步骤摘要】
一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法
本专利技术属于壁厚检测
，具体涉及一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法，特别是一种根部圆角小于R0.5mm、槽宽小于2mm的小尺寸双面V型槽结构的精密检测方法。
技术介绍
双面V型槽结构如图1所示，多用于折弯片等具有一定力学性能要求的零组件上。以折弯片为例，其槽底的壁厚尺寸直接影响到零件的折断角度，因此具有较严格的精度要求，多作为零组件中的关键特性、重要特性进行控制。对于壁厚尺寸的检测，目前的方法一般由超声波测厚仪、带表卡钳等方式。但超声波测厚仪的测头尺寸较大，无法放置在窄槽中进行测量；带表卡钳能够探入V型槽中，但由于卡爪具有宽度，无法伸到槽底进行测量，测量结果叫实际尺寸偏大，且V型槽角度越小、根部圆角越小，误差越大。
技术实现思路
本专利技术提供一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法，要解决的技术问题是：。为了解决以上技术问题，本专利技术提供了一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法，其特征在于，根据两个V型槽尺寸分别加工出对应的锥尖销；将一个锥尖销通过销孔固定在底座上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法，其特征在于，根据两个V型槽尺寸分别加工出对应的锥尖销；将一个锥尖销通过销孔固定在底座上，另一锥尖销通过销孔与百分表连接；将待测零件放置两锥尖处，即可通过百分表的读数测出零件V型槽处的实际壁厚尺寸；移动底座，即可检测整个长度方向双面V型槽的壁厚尺寸。/n

【技术特征摘要】
1.一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法，其特征在于，根据两个V型槽尺寸分别加工出对应的锥尖销；将一个锥尖销通过销孔固定在底座上，另一锥尖销通过销孔与百分表连接；将待测零件放置两锥尖处，即可通过百分表的读数测出零件V型槽处的实际壁厚尺寸；移动底座，即可检测整个长度方向双面V型槽的壁厚尺寸。


2.根据权利要求1所述的一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法，其特征在于：所述小尺寸双面V型槽为根部圆角小于R0.5mm、槽宽小于2mm的结构。


3.根据权利要求1所述的一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法，其特征在于：采用的检测工具主要由底座(1)、固定块(2)、下锥尖销(3)、上锥尖销(5)、百分表(6)、纵向滑块(7)、横向滑块(8)组成；底座上加工有标准T型槽，用于与固定块、横向滑块连接；固定块上加工有销孔，用于与下锥尖销一端固定连接，下锥尖销另一端为V型锥尖；百分表固定安装在纵向滑块上，上锥尖销一端为V型锥尖，另一端为销轴，并在销轴端加工为销孔，穿过纵向滑块与百分表底部测头固定连接；纵向滑块安装在横向滑块上，从而能够实现表头位置的调整。


4.根据权利要求1所述的一种小尺...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐慧霖，孙成贤，
申请(专利权)人：北京星航机电装备有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11