一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，涉及到晶闸管测试领域，包括壳体和测试仪主体，壳体的内部设有横向设置的安装板，安装板的下端通过减震机构与壳体的下内侧壁连接，测试仪主体的下端通过卡接机构与安装板连接，壳体的左右两侧均开设有开口，两个开口的内部均通过弹簧合页转动连接有挡板，两个挡板相反的两侧均开设有两个对称分布的接线口，壳体的前侧为开通设置，且壳体的前侧通过两组铰链转动连接有两个箱门，两个箱门通过箱体扣件相互连接。本实用新型专利技术便于人们对晶闸管测试仪进行携带，且在携带时能够对测试仪主体进行缓冲减震，避免对测试仪主体造成损坏，还便于对测试仪主体进行拆装，便于人们使用。

【技术实现步骤摘要】
一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪
本技术涉及晶闸管测试领域，特别涉及一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪。
技术介绍
晶闸管是晶体闸流管的简称，又可称做可控硅整流器，以前被简称为可控硅；1957年美国通用电气公司开发出世界上第一款晶闸管产品，并于1958年将其商业化；晶闸管是PNPN四层半导体结构，它有三个极：阳极，阴极和门极；晶闸管具有硅整流器件的特性，能在高电压、大电流条件下工作，且其工作过程可以控制、被广泛应用于可控整流、交流调压、无触点电子开关、逆变及变频等电子电路中。目前，晶闸管在使用时，一般需要通过测试仪进行测试，晶闸管测试仪是用于测量晶闸管的通态、断态、控制极常用静态参数的综合性参数测量仪器，此仪器可以快速、准确、全面的对晶闸管进行参数测试和分析测试，而现有技术中，晶闸管测试仪一般直接放置在支架或桌面上进行使用，不便于人们进行携带，且在携带时，容易造成损坏。因此，专利技术一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪来解决上述问题很有必要。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，以解决上述
技术介绍
中提出的晶闸管测试仪一般直接放置在支架或桌面上进行使用，不便于人们进行携带，且在携带时，容易造成损坏的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，包括壳体和测试仪主体，所述壳体的内部设有横向设置的安装板，所述安装板的下端通过减震机构与壳体的下内侧壁连接，所述测试仪主体的下端通过卡接机构与安装板连接，所述壳体的左右两侧均开设有开口，两个所述开口的内部均通过弹簧合页转动连接有挡板，两个所述挡板相反的两侧均开设有两个对称分布的接线口，所述壳体的前侧为开通设置，且壳体的前侧通过两组铰链转动连接有两个箱门，两个所述箱门通过箱体扣件相互连接；所述减震机构包括两个固定板，两个所述固定板分别与安装板的下侧中部及壳体的下内侧壁固定连接，两个所述固定板之间固定连接有减震弹簧，所述壳体的左右两个内侧壁均固定连接有导轨，所述安装板的左右两侧均开设有与导轨相匹配的导向槽。优选的，两个所述固定板相对的两侧左右两端均通过第一轴销转动连接有连接杆，同侧两个所述连接杆之间通过第二轴销相互转动来接。优选的，两个所述导向槽的内部均通过转轴转动连接有滑轮，两个所述滑轮分别与两个导轨滚动连接。优选的，所述卡接机构包括两个插板和两个卡杆，两个所述插板分别与测试仪主体的下端左右两侧固定连接，所述安装板的上端开设有两个与插板相匹配的第一插口，且两个插板的下端均穿过两个第一插口并延伸至安装板的下方，两个所述卡杆均位于安装板的下方并分别位于两个插板的两侧，两个所述卡杆的上端中部均固定连接有滑块，所述安装板的下端开设有两个与滑块相匹配的滑槽，两个所述滑块均通过通孔滑动连接有滑杆，所述滑杆的左右两端分别与滑槽的左右两侧固定连接，两个所述滑块相反的两端均固定连接有卡接弹簧，两个所述卡接弹簧分别与两个滑杆活动套接，两个所述卡杆相对的两端均为倾斜设置，两个所述插板相反的两侧均开设有与卡杆相匹配的卡槽。优选的，两个所述卡杆的下侧均设有防滑纹，所述安装板的上端固定连接有减震垫，所述减震垫通过两个第二插口与两个插板活动插接。优选的，所述壳体的上端中部固定连接有U形提手。本技术的技术效果和优点：1、通过设有的壳体、安装板、两个固定板、减震弹簧及两组连接杆的相互配合，减震弹簧能够对上侧的固定板进行缓冲支撑，上侧固定板能够对安装板进行缓冲支撑，安装板能够对测试仪主体进行缓冲支撑，从而能够对测试仪主体进行减震，避免携带时对测试仪主体造成损坏；2、通过设有的两个导轨、两个导向槽及两个滑轮的相互配合，能够是安装板至壳体内部移动时更加稳定和灵活；3、通过设有的两个插板、两个卡杆、两个滑块、两个滑杆及两个卡接弹簧的相互配合，将两个插板的下端分别插入安装板上的两个第一插口中，当两个插板上的两个卡槽分别与两个卡杆的位置对应时，通过两个卡接弹簧能够对两个滑块施加弹力，两个滑块带动两个卡杆相对移动，能够使两个卡杆分别插入两个卡槽中，从而能够使卡杆与插板相互卡接，便于将测试仪主体进行固定安装，且便于进行拆卸。附图说明图1为本技术的正面结构示意图。图2为本技术的正面剖面结构示意图。图3为本技术的图2中A部分的放大结构示意图。图4为本技术的侧面结构示意图。图中：1、壳体；2、测试仪主体；3、安装板；4、挡板；5、箱门；6、箱体扣件；7、固定板；8、减震弹簧；9、导轨；10、连接杆；11、滑轮；12、插板；13、卡杆；14、滑块；15、滑杆；16、卡接弹簧；17、减震垫；18、U形提手。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本技术提供了如图1-4所示的一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，包括壳体1和测试仪主体2，壳体1的内部设有横向设置的安装板3，安装板3的下端通过减震机构与壳体1的下内侧壁连接，测试仪主体2的下端通过卡接机构与安装板3连接，壳体1的左右两侧均开设有开口，两个开口的内部均通过弹簧合页转动连接有挡板4，两个挡板4相反的两侧均开设有两个对称分布的接线口，弹簧合页为扭力弹簧和合页相互结合组成，能够使合页具有扭转力，便于将挡板4打开接线，然后通过弹簧合页使挡板4自动闭合，导线从接线口穿过，壳体1的前侧为开通设置，且壳体1的前侧通过两组铰链转动连接有两个箱门5，两个箱门5通过箱体扣件6相互连接；同时，减震机构包括两个固定板7，两个固定板7分别与安装板3的下侧中部及壳体1的下内侧壁固定连接，两个固定板7之间固定连接有减震弹簧8，壳体1的左右两个内侧壁均固定连接有导轨9，安装板3的左右两侧均开设有与导轨9相匹配的导向槽，减震弹簧8能够对上侧的固定板7进行缓冲支撑，上侧固定板7能够对安装板3进行缓冲支撑，安装板3能够对测试仪主体2进行缓冲支撑，从而能够对测试仪主体2进行减震，避免携带时对测试仪主体2造成损坏。如图2示，两个固定板7相对的两侧左右两端均通过第一轴销转动连接有连接杆10，同侧两个连接杆10之间通过第二轴销相互转动来接，能够使两个固定板7之间连接更加稳固，避免缓冲弹簧8弯曲。如图2示，两个导向槽的内部均通过转轴转动连接有滑轮11，两个滑轮11分别与两个导轨9滚动连接，减小安装爸妈3与两个导轨9之间的摩擦力，能够安装板3上下移动时更加灵活。如图2和图3示，卡接机构包括两个插板12和两个卡杆13，两个插板12分别与测试仪主体2的下端左右两侧固定连接，安装板3的上端开设有两个与插板12相匹配的第一插口，且两个插板12的下端均穿过两个第一插口并延伸至安装板3的下方，两个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，其特征在于：包括壳体(1)和测试仪主体(2)，所述壳体(1)的内部设有横向设置的安装板(3)，所述安装板(3)的下端通过减震机构与壳体(1)的下内侧壁连接，所述测试仪主体(2)的下端通过卡接机构与安装板(3)连接，所述壳体(1)的左右两侧均开设有开口，两个所述开口的内部均通过弹簧合页转动连接有挡板(4)，两个所述挡板(4)相反的两侧均开设有两个对称分布的接线口，所述壳体(1)的前侧为开通设置，且壳体(1)的前侧通过两组铰链转动连接有两个箱门(5)，两个所述箱门(5)通过箱体扣件(6)相互连接；/n所述减震机构包括两个固定板(7)，两个所述固定板(7)分别与安装板(3)的下侧中部及壳体(1)的下内侧壁固定连接，两个所述固定板(7)之间固定连接有减震弹簧(8)，所述壳体(1)的左右两个内侧壁均固定连接有导轨(9)，所述安装板(3)的左右两侧均开设有与导轨(9)相匹配的导向槽。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，其特征在于：包括壳体(1)和测试仪主体(2)，所述壳体(1)的内部设有横向设置的安装板(3)，所述安装板(3)的下端通过减震机构与壳体(1)的下内侧壁连接，所述测试仪主体(2)的下端通过卡接机构与安装板(3)连接，所述壳体(1)的左右两侧均开设有开口，两个所述开口的内部均通过弹簧合页转动连接有挡板(4)，两个所述挡板(4)相反的两侧均开设有两个对称分布的接线口，所述壳体(1)的前侧为开通设置，且壳体(1)的前侧通过两组铰链转动连接有两个箱门(5)，两个所述箱门(5)通过箱体扣件(6)相互连接；
所述减震机构包括两个固定板(7)，两个所述固定板(7)分别与安装板(3)的下侧中部及壳体(1)的下内侧壁固定连接，两个所述固定板(7)之间固定连接有减震弹簧(8)，所述壳体(1)的左右两个内侧壁均固定连接有导轨(9)，所述安装板(3)的左右两侧均开设有与导轨(9)相匹配的导向槽。


2.根据权利要求1所述的一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，其特征在于：两个所述固定板(7)相对的两侧左右两端均通过第一轴销转动连接有连接杆(10)，同侧两个所述连接杆(10)之间通过第二轴销相互转动来接。


3.根据权利要求1所述的一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，其特征在于：两个所述导向槽的内部均通过转轴转动连接有滑轮(11)，两个所述滑轮(11)分别与两个导轨(9)滚动连接。
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【专利技术属性】
技术研发人员：张文军，刘敬梅，潘海菊，
申请(专利权)人：湖北襄整整流器有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42