线阵CCD多功能综合实验仪制造技术

技术编号:27991625 阅读:31 留言:0更新日期:2021-04-06 14:35
本实用新型专利技术公开了线阵CCD多功能综合实验仪,包括线阵CCD多功能综合实验仪主体,所述线阵CCD多功能综合实验仪主体上安装有光源和相机检测机构,且线阵CCD多功能综合实验仪主体上设有导线连接区,所述线阵CCD多功能综合实验仪主体上端设有第二调节座,且第二调节座上端安装有第一调节座,所述第一调节座上端安装有卡座,且卡座上放置有待测物,所述线阵CCD多功能综合实验仪主体上端一侧设有防护罩,并且防护罩上端设有防护盖。该线阵CCD多功能综合实验仪可以方便的对光源的角度、待测物的位置以及待测物与线阵CCD之间的距离进行调节,通过对不同因素的改变来探测影响线阵CCD测试结果的因素,使得线阵CCD的测试能够更加高效,便于学者研究学习。

【技术实现步骤摘要】
线阵CCD多功能综合实验仪
本技术涉及线阵CCD
,具体为线阵CCD多功能综合实验仪。
技术介绍
CCD(ChargeCoupledDevice),电荷耦合器件,是20世纪70年代初发展起来的新型半导体集成光电器件。CCD器件按其感光单元的排列方式分为线阵CCD和面阵CCD两类。其中线阵CCD结构简单,成本较低,可以同时储存一行电视信号,由于其单排感光单元的数目可以做得很多,在同等测量精度的前提下,其测量范围可以做的较大,并且由于线阵CCD实时传输光电变换信号和自扫描速度快、频率响应高,能够实现动态测量,并能在低照度下工作,所以线阵CCD广泛地应用在产品尺寸测量和分类、非接触尺寸测量、条形码等许多领域。现有的线阵CCD综合实验是利用线阵CCD进行非接触测量物体尺寸的基本原理和方法,用实例探讨影响测量范围、测量精度的主要因素,为今后线阵CCD的发展提供重要依据,线阵CCD多功能综合实验仪一般搭配示波器与计算机使用,但线阵CCD多功能综合实验仪不能够使线阵CCD的测试方便的进行不同的对比实验处理,不便于测出影响线阵CCD的因素。...

【技术保护点】
1.线阵CCD多功能综合实验仪,包括线阵CCD多功能综合实验仪主体(1),所述线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)上安装有光源(4)和相机检测机构(10),且线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)上设有导线连接区(12),其特征在于:所述线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)上端设有第二调节座(8),且第二调节座(8)上端安装有第一调节座(6),所述第一调节座(6)上端安装有卡座(7),且卡座(7)上放置有待测物(5),所述光源(4)下端设有齿轮调节座(3),且齿轮调节座(3)与线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)活动连接,并且齿轮调节座(3)下端侧面设有角度刻度尺(11),所述线阵CCD多功能综...

【技术特征摘要】
1.线阵CCD多功能综合实验仪,包括线阵CCD多功能综合实验仪主体(1),所述线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)上安装有光源(4)和相机检测机构(10),且线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)上设有导线连接区(12),其特征在于:所述线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)上端设有第二调节座(8),且第二调节座(8)上端安装有第一调节座(6),所述第一调节座(6)上端安装有卡座(7),且卡座(7)上放置有待测物(5),所述光源(4)下端设有齿轮调节座(3),且齿轮调节座(3)与线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)活动连接,并且齿轮调节座(3)下端侧面设有角度刻度尺(11),所述线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)上端一侧设有防护罩(2),且防护罩(2)内设有检测腔(9),并且防护罩(2)上端设有防护盖(13)。


2.根据权利要求1所述的线阵CCD多功能综合实验仪,其特征在于:所述线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)其中一侧为倾斜结构,且线阵CCD多功能综合实验仪主体(1)的倾斜结构上开设有凹槽。<...

【专利技术属性】
技术研发人员:孟祥全
申请(专利权)人:天津梦祥原科技有限公司
类型:新型
国别省市:天津;12

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