多路电阻测试仪制造技术

技术编号:27973280 阅读:48 留言:0更新日期:2021-04-06 14:06
本发明专利技术提供一种多路电阻测试仪,该多路电阻测试仪包括:一电测试转接架;一专用测试架,该专用测试架包括若干拼版测试针;以及一测试面板,该测试面板上集成有若干电阻测试装置,若干电阻测试装置通过电测试转接架与若干拼版测试针电连接。本发明专利技术通过将若干电阻电阻测试装置的第一连接端子集成于一电测试转接架内,并且通过电测试转接架与若干拼版测试针实现电连接,以实现若干待检测拼版同时检测,大大缩短了检测时间,提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
多路电阻测试仪
本专利技术涉及电阻测试
,具体涉及一种多路电阻测试仪。
技术介绍
对拼版进行电阻测试是制作电路板过程中一个必不可少的程序,现有技术中,对拼版的电阻进行测试是采用的电阻表直接对待检测拼版进行测量,但是一次只能对一个拼版进行测试,且测试过程中需要人进行把持,会出现测试效率低下、测试结果受人为影响严重的问题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供一种多路电阻测试仪,可以实现若干拼版同时进行测试,提高了测试效率。为解决上述技术问题,本专利技术采用的技术方案是:多路电阻测试仪,该多路电阻测试仪包括:一电测试转接架;一专用测试架,该专用测试架包括若干拼版测试针;以及一测试面板,该测试面板上集成有若干电阻测试装置,若干电阻测试装置通过电测试转接架与若干拼版测试针电连接。优选地,每一个电阻测试装置均引出一第一接线端子,第一接线端子集成于电测试转接架内;每一组拼版测试针均引出第第二接线端子,第二接线端子分别与电阻测试装置的第一接线端子连接。优选地,多路电阻测试仪还包括一测试腔。优选地,该测试腔一侧开口,测试面板可升降地设置于测试腔的开口处;以实现测试腔的开合。优选地,测试腔的开口处的两侧设置有第一滑槽,测试面板通过一升降气缸滑动设置于该第一滑槽内。优选地,电测试转接架以及专用测试架可移动的设置于测试腔内。优选地,电测试转接架固定于一滑板上,该滑板滑动设置于测试腔的底部。优选地,多路电阻测试仪还包括一可移动地设置于专用测试架上方的通用测试架,该通用测试架上设置有下压装置。优选地,下压装置包括一下压板以及与下压板连接的下压气缸。优选地,通用测试架底部的两侧均设置有一通过测试架滑轨。本专利技术具有的优点和积极效果是:本专利技术通过将若干电阻电阻测试装置的第一连接端子集成于一电测试转接架内,并且通过电测试转接架与若干拼版测试针实现电连接,以实现若干待检测拼版同时检测,大大缩短了检测时间,提高了检测效率。附图说明图1是本专利技术的多路电阻测试仪的连接结构示意图;图2是本专利技术的多路电阻测试仪的立体状态示意图;图3是本专利技术的多路电阻测试仪的主视状态示意图;图4是本专利技术的测试腔内部结构示意图。具体实施方式为了更好的理解本专利技术,下面结合具体实施例和附图对本专利技术进行进一步的描述。如图1所示,本专利技术提供一种多路电阻测试仪,该多路电阻测试仪包括:一电测试转接架10;一专用测试架20,该专用测试架20包括若干拼版测试针201;以及一测试面板50,该测试面板上集成有若干电阻测试装置501,若干电阻测试装置501通过电测试转接架10与若干拼版测试针201电连接。在本专利技术中,每一个电阻测试装置501均引出一第一接线端子502,第一接线端子502集成于电测试转接架10内;专用测试架20包括若干拼版测试针201,每一组拼版测试针201均引出第第二接线端子202,第二接线端子202分别与电阻测试装置501的第一接线端子502连接,在测试的过程中,将待检测部件放置于拼版测试针201处,即可实现对待检测拼版的检测。本专利技术通过将若干电阻电阻测试装置501的第一连接端子集成于一电测试转接架10内,并且通过电测试转接架10与若干拼版测试针201实现电连接,以实现若干待检测拼版同时检测,大大缩短了检测时间,提高了检测效率。进一步地,在本专利技术的一个具体的实施例种,电测试转接架10为一顶部开口且内部中空的容纳腔,该容纳腔用于放置专用测试架20,具体地,在该实施例中,若干电阻测试装置501采用电阻表,电阻表的第一接线端子502分别由导线引出,从电测试转接架10的侧壁引入电测试转接架10中空的容纳腔内部,进一步地,专用测试架20为一矩形架,其表面集成有若干拼版测试针201,拼版测试针201的第二接线端子202分别在电测试转接架10内与电阻测试装置501的第一接线端子连接;在该实施例中,电阻表的第一接线端子502与拼版测试针201的第二接线端子202采用通用接线端子即可,其目的是实现电阻表与拼版测试针201之间的电连接。进一步地,如图2所示,在本专利技术的一个具体的实施例中,多路电阻测试仪还包括一测试腔40,电测试转接架10以及专用测试架20可移动的设置于测试腔40内,该测试腔40一侧开口,测试面板50可升降地设置于测试腔40的开口处;以实现测试腔40的开合。在该实施例中,测试面板50可升降地设置于测试腔40的开口处,且电测试转接架10可以进出所述测试腔,具体地,如果需要进行测试时,可以将测试面板50升起,然后将电测试转接架10移出测试腔40,开展测试工作,测试完成之后,将电测试转接架10移进测试腔40,将电测试转接架10以及专用测试架20收入测试腔40内,然后测试面板50降落,完成多路电阻测试仪的收纳。进一步地,在本专利技术的一个具体的实施例中,测试面板50通过一升降气缸503进行驱动,具体地,测试腔40的开口处的两侧设置有第一滑槽401,测试面板50滑动设置于该第一滑槽401内;测试面板50底部连接有一升降气缸503,通过该升降气缸503驱动所述测试面板50在第一滑槽401内滑动。进一步地,如图3和图4所示,在本专利技术的另一个具体的实施例中,电测试转接架10固定于一滑板402上,该滑板402滑动设置于测试腔40的底部;具体地,测试腔40的底部的重心部分镂空,且镂空处的两侧设置有第二滑槽403,该滑板402上述设置有与所述第二滑槽403相匹配的滑轨404,通过哎第二滑槽403以及滑轨404,滑板402可以进出所述测试腔40。进一步地,该滑板通过一滑动气缸405进行驱动;具体地,滑动气缸405有两组,分别设置于电测试转接架10两侧,滑动气缸405的主体4052固定设置于测试腔40的背板406上,滑动气缸405的输出轴4051的自由端固定设置于滑板402上,其中,背板406为与开口侧相对一侧的侧板;当滑动气缸405伸展时,滑板在滑动气缸405的作用下,滑出测试腔40,当滑动气缸405收缩时,滑板在滑动气缸405的作用下,滑入测试腔40。进一步地,在本专利技术的一个具体的实施例中,多路电阻测试仪还包括一可移动地设置于专用测试架20上方的通用测试架30,该通用测试架30上设置有下压装置301。在本实施例具体的测试过程中,首先将通用测试架30移走,将专用测试架20呈现出来,然后将待待检测拼版放置于专用测试架20的拼版测试针201处之后,再将通用测试架30移动至专用测试架20上方,驱动通用测试架30上的下压装置301,对待待检测拼版进行压紧,使得待检测拼版与拼版测试针201之间紧密接触。进一步地,通用测试架30为一通用测试板,下压装置301设置于通用测试板上;下压装置301包括一下压板3011以及与下压板3011连接的下压气缸3012。在本专利技术的一个具体的实施例中,通用测试架30底部的两侧均设置有一通过测试架滑轨302,该本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.多路电阻测试仪,其特征在于:该多路电阻测试仪包括:/n一电测试转接架;/n一专用测试架,该专用测试架包括若干拼版测试针;以及/n一测试面板,该测试面板上集成有若干电阻测试装置,若干电阻测试装置通过电测试转接架与若干拼版测试针电连接。/n

【技术特征摘要】
1.多路电阻测试仪,其特征在于:该多路电阻测试仪包括:
一电测试转接架;
一专用测试架,该专用测试架包括若干拼版测试针;以及
一测试面板,该测试面板上集成有若干电阻测试装置,若干电阻测试装置通过电测试转接架与若干拼版测试针电连接。


2.根据权利要求1所述的多路电阻测试仪,其特征在于:每一个电阻测试装置均引出一第一接线端子,第一接线端子集成于电测试转接架内;每一组拼版测试针均引出第第二接线端子,第二接线端子分别与电阻测试装置的第一接线端子连接。


3.根据权利要求1或2所述的多路电阻测试仪,其特征在于:多路电阻测试仪还包括一测试腔。


4.根据权利要求3任意一项所述的多路电阻测试仪,其特征在于:该测试腔一侧开口,测试面板可升降地设置于测试腔的开口处;以实现测试腔的开合。


5.根据权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘学斌
申请(专利权)人:天津普林电路股份有限公司
类型:发明
国别省市:天津;12

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