一种机电管线综合支架的标高测量装置及其使用方法制造方法及图纸

技术编号:27971997 阅读:19 留言:0更新日期:2021-04-06 14:05
本发明专利技术提供一种机电管线综合支架的标高测量装置及其使用方法,包括支架、固定系统、检测系统和调整系统,其特征在于:所述固定系统设置在所述支架上,固定所述调整系统;所述调整系统设置在所述固定系统上,调整所述检测系统;所述检测系统设置在所述调整系统上,检测综合支架的标高。本发明专利技术的有益效果是有效的解决传统方法安装综合支架,使得多部件组成的综合支架既不能批量下料、又不好控制安装标高,立柱出现长短不一现象、多次在高空拉钢线控制标高又会降低效率、标高控制精度底的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种机电管线综合支架的标高测量装置及其使用方法
本专利技术属于机电安装
,尤其是涉及一种机电管线综合支架的标高测量装置及其使用方法。
技术介绍
复杂的机电管线往往要设置综合支架,其一般由底板、立柱和横担等焊接组合而成,需要安装固定在楼板下或梁上,为使管线安装符合图纸排布要求,必须控制好综合支架的安装标高。传统的综合支架安装方法是,先统一制作下料,然后定位放线在楼板上固定底板、借用楼板或梁柱拉标高控制钢线、焊接安装多根立柱,最后焊接安装多层横担,立柱和横担的标高需要通过不断的高空拉钢线控制。由于楼板平面高低差均在60mm左右,使得多部件组成的综合支架既不能批量下料、又不好控制安装标高,如果按传统方法安装综合支架,其立柱必然出现长短不一现象、多次在高空拉钢线控制标高又会降低效率、标高控制精度底。
技术实现思路
本专利技术要解决的问题是提供一种机电管线综合支架的标高测量装置及其使用方法,有效的解决传统方法安装综合支架,使得多部件组成的综合支架既不能批量下料、又不好控制安装标高,立柱出现长短不一现象、多次在高空拉钢线控制标高又会降低效率、标高控制精度底的问题。为解决上述技术问题,本专利技术采用的技术方案是:一种机电管线综合支架的标高测量装置,包括支架、固定系统、检测系统和调整系统,其特征在于:所述固定系统设置在所述支架上,固定所述调整系统;所述调整系统设置在所述固定系统上,调整所述检测系统;所述检测系统设置在所述调整系统上,检测综合支架的标高。优选地,所述支架包括上支架和下支架,所述上支架设置在所述下支架的顶部。优选地,所述上支架为可伸缩支架;所述下支架底部还设有一底板,用于固定所述下支架。优选地,所述检测系统包括激光仪、挡板和底座,所述底座设置在所述调整系统的顶部,支撑所述激光仪;所述激光仪设置在所述底座上,用于检测所述综合支架的标高;所述挡板设置在所述底座上。优选地,所述调整系统包括调整杆,设置在所述固定系统上,调整所述检测系统的高度。优选地,所述调整系统还包括固定手柄,设置在所述固定系统上,用于固定所述调整杆。优选地,所述固定系统包括防晃架和挡块,所述防晃架设置在所述支架上;所述挡块设置在所述防晃架上,防止所述调整系统晃动。优选地,所述防晃架包括第一防晃架和第二防晃架;所述挡块包括第一挡块和第二挡块;所述第一挡块设置在所述第一防晃架上,所述第二挡块设置在所述第二防晃架上。一种使用如权利要求1所述的一种机电管线综合支架的标高测量装置的方法,其特征在于:将标高测量装置安装在所述综合支架的一侧,调整所述上支架的高度,所述调整系统将所述检测系统调节至检测位置,所述固定系统固定调节后的所述调整系统,所述检测系统测量所述综合支架的标高。优选地,所述调整系统包括调整杆,设置在所述固定系统上,调整所述检测系统的高度;所述调整系统还包括固定手柄,设置在所述固定系统上,用于固定所述调整杆;在使用时,用所述调整杆调整所述检测系统的高度,调整完毕后拧紧所述固定手柄固定所述调整杆。由于支架的设计,上支架为可伸缩支架,可以大幅度的调整标高测量装置的高度,免去了测量不同综合支架时需要使用不同高度的标高测量装置,减少了人力,节约了时间和材料;由于调整系统的设计,随着不同的综合支架高度可以任意调整激光仪的高度,节省了更换标高测量装置的时间,更加快速的测量综合支架,提高效率;由于固定系统的设计,防晃架使得支架更加的牢固,挡块防止调整杆来回晃动,保证标号测量结果准确;由于标高测量装置的设计,有效的解决传统方法安装综合支架,使得多部件组成的综合支架既不能批量下料、又不好控制安装标高,立柱出现长短不一现象、多次在高空拉钢线控制标高又会降低效率、标高控制精度底的问题。附图说明图1是本专利技术实施例一种机电管线综合支架的标高测量装置侧视图图2是本专利技术实施例一种机电管线综合支架的标高测量装置A-A剖视图图3是本专利技术实施例一种机电管线综合支架的标高测量装置B-B剖视图图中:1、上支架2、下支架3、第一防晃架4、第二防晃架5、调整杆6、激光仪7、挡板8、底座9、第一挡块10、第二挡块11、固定手柄12、底板具体实施方式下面结合实施例和附图对本专利技术作进一步说明:在本专利技术实施例的描述中,需要理解的是,术语“顶部”、“底部”“一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以通过具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。本专利技术的一个实施例中,如图1一种机电管线综合支架的标高测量装置侧视图所示,一种机电管线综合支架的标高测量装置,包括支架、固定系统、检测系统和调整系统,其特征在于:固定系统设置在支架上,固定调整系统;调整系统设置在固定系统上,调整检测系统;检测系统设置在调整系统上,检测综合支架的标高。具体的,支架包括上支架1和下支架2,上支架1采用方钢制成,为可伸缩支架,根数为4根,用螺栓锁紧在下支架3的顶部,上下支架分离的设计可以使得标高测量装置更加灵活,上支架为伸缩支架可以任意在较大的范围内调整上支架1的高度。下支架2的根数与上支架1根数一致,为4根,每根下支架2的底部还设有一底板12,采用钢板制成,形状为矩形,长和宽均大于下支架2的地表面,用于固定下支架2。还包括搭接支架,搭接支架的长度与上支架1之间的距离和下支架2之间的距离一致,焊接在上支架1的顶部和下支架2与的顶部,将支架之间连接起来。上支架1和下支架2的长度根据需要测量的综合支架的长度而定,不同综合支架之间的高度差也不大,通过调整上支架1的伸缩以及调整杆5的可调高度足以满足不同综合支架之间的高度差,节省了测量的时间以及花费。检测系统包括激光仪6、挡板7和底座8,底座8采用钢板制作,形状为矩形,边长均大于激光仪6的边长,通过螺栓锁紧在调整杆5的顶部,支撑激光仪6和挡板7;激光仪6用螺栓固定在底座8上,用于检测综合支架的标高;挡板7个数为4个,分别焊接在底座8的四周,放置激光仪6在测量过程中倾倒,更加有效的保护激光仪6。调整系统包括调整杆5和固定手柄6,调整杆5采用方钢制成,长度配合需要测量的综合支架的高度而定,通过固定手柄11固定在第二防晃架4上,支撑激光仪6的同时还能调整激光仪6的高度,方便测量综合支架。调整杆5在与第二防晃架4接触的部位设有一通孔,通孔内部设有螺纹,与固定手柄11相匹配,固定手柄11的前端带有螺纹,尾部是一个便于人手旋转的手柄,固定手柄11的头部旋进通孔中,旋转手柄,将调整杆5固定在第二防晃架4本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机电管线综合支架的标高测量装置,包括支架、固定系统、检测系统和调整系统,其特征在于:所述固定系统设置在所述支架上,固定所述调整系统;所述调整系统设置在所述固定系统上,调整所述检测系统;所述检测系统设置在所述调整系统上,检测综合支架的标高。/n

【技术特征摘要】
1.一种机电管线综合支架的标高测量装置,包括支架、固定系统、检测系统和调整系统,其特征在于:所述固定系统设置在所述支架上,固定所述调整系统;所述调整系统设置在所述固定系统上,调整所述检测系统;所述检测系统设置在所述调整系统上,检测综合支架的标高。


2.根据权利要求1所述的一种机电管线综合支架的标高测量装置,其特征在于:所述支架包括上支架和下支架,所述上支架设置在所述下支架的顶部。


3.根据权利要求2所述的一种机电管线综合支架的标高测量装置,其特征在于:所述上支架为可伸缩支架;所述下支架底部还设有一底板,用于固定所述下支架。


4.根据权利要求1-3任一所述的一种机电管线综合支架的标高测量装置,其特征在于:所述检测系统包括激光仪、挡板和底座,所述底座设置在所述调整系统的顶部,支撑所述激光仪;所述激光仪设置在所述底座上,用于检测所述综合支架的标高;所述挡板设置在所述底座上。


5.根据权利要求1所述的一种机电管线综合支架的标高测量装置,其特征在于:所述调整系统包括调整杆,设置在所述固定系统上,调整所述检测系统的高度。


6.根据权利要求5所述的一种机电管线综合支架的标高测量装置,其特征在于:所述调整系统还...

【专利技术属性】
技术研发人员:张建杰李宝庆于洪亮屈永鹏张岩
申请(专利权)人:中冶天工集团有限公司
类型:发明
国别省市:天津;12

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