摄像装置、摄像方法及程序制造方法及图纸

技术编号:27947272 阅读:25 留言:0更新日期:2021-04-02 14:30
本发明专利技术获得一种能够精确地校正抖动的摄像装置、摄像方法及程序。摄像装置(10)具备成像透镜(14)、包括拍摄通过成像透镜(14)的光学像的成像元件(22)的摄像装置主体(12)、利用校正用透镜进行图像抖动的校正的第1校正部及利用摄像装置主体(12)进行图像抖动的校正的第2校正部,进行如下控制:通过第1校正部或第2校正部校正图像抖动的抖动量中小于规定频率的低频部分,并且通过第1校正部及第2校正部分担校正规定频率以上的高频部分。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】摄像装置、摄像方法及程序
本专利技术涉及一种摄像装置、摄像方法及程序。
技术介绍
已知,以往为了手抖动校正等而在成像透镜及摄像装置主体都具有抖动校正功能的摄像装置。作为与这种摄像装置有关的技术,公开了一种摄像装置主体和成像透镜不分频带而分担进行抖动的校正的摄像装置(参考专利文献1)。并且,公开了一种摄像装置,其通过摄像装置主体的抖动校正功能来校正图像抖动的抖动量中的低频部分,并通过成像透镜的抖动校正功能来校正高频部分(参考专利文献2)。以往技术文献专利文献专利文献1:日本特开2010-091792号公报专利文献2:日本特开2017-161891号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术课题然而,在摄像装置主体和成像透镜不分频带而分担进行抖动校正的技术中,检测到的抖动中可能会存在无法校正的部分,结果可能无法精确地校正抖动。另一方面,在摄像装置主体和成像透镜进行不同的频带的抖动的校正的技术中,存在抖动量较大的情况等无法精确地校正抖动的情况。>本专利技术是鉴于以本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种摄像装置,其具备:/n成像透镜;/n摄像装置主体,包括拍摄通过所述成像透镜的光学像的成像元件;/n第1校正部,利用校正用透镜进行图像抖动的校正;/n第2校正部,利用所述摄像装置主体进行图像抖动的校正;及/n控制部,其进行如下控制:通过所述第1校正部或所述第2校正部校正图像抖动的抖动量中小于规定频率的低频部分,并且通过所述第1校正部及所述第2校正部分担校正所述规定频率以上的高频部分。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180830 JP 2018-1616511.一种摄像装置,其具备:
成像透镜;
摄像装置主体,包括拍摄通过所述成像透镜的光学像的成像元件;
第1校正部,利用校正用透镜进行图像抖动的校正;
第2校正部,利用所述摄像装置主体进行图像抖动的校正;及
控制部,其进行如下控制:通过所述第1校正部或所述第2校正部校正图像抖动的抖动量中小于规定频率的低频部分,并且通过所述第1校正部及所述第2校正部分担校正所述规定频率以上的高频部分。


2.根据权利要求1所述的摄像装置,其还具备:
第1检测部,检测所述成像透镜的抖动量;及
第2检测部,检测所述摄像装置主体的抖动量,
当由所述第1检测部检测的抖动量的检测性能和由所述第2检测部检测的抖动量的检测性能不同时,所述控制部作为所述图像抖动的抖动量使用通过所述第1检测部检测到的抖动量及通过所述第2检测部检测到的抖动量中的至少一个来进行所述控制。


3.根据权利要求2所述的摄像装置,其中,
所述控制部进行如下控制:当由所述第1检测部检测的抖动量的检测性能高于由所述第2检测部检测的抖动量的检测性能时,通过所述第1校正部来校正所述低频部分,当由所述第2检测部检测的抖动量的检测性能高于由所述第1检测部检测的抖动量的检测性能时,通过所述第2校正部来校正所述低频部分。


4.根据权利要求2或3所述的摄像装置,其中,
所述第1检测部及所述第2检测部包括高通滤波器,
所述规定频率为所述第1检测部及所...

【专利技术属性】
技术研发人员:栗林宏辅
申请(专利权)人:富士胶片株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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